TA的每日心情 | 怒 2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption
; |; G2 W* T" e$ X$ N- [* g- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念,那么手册中的Tco是如何得到的呢?7 |5 G8 B% I. X6 q/ p: K* }
& |- M/ E8 [/ D请看下图,半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load(不要深究为什么如此,如果想清楚理解,意味着你要进入一个新的领域----IC测试),我们的probe点即为T点,Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间,而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。; l) @- T/ D3 p' Q" z6 ? S- Q
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]+ A4 y" r; T( O. }* v; u/ q
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer(当然包含output ,I/O,3-state)确定板级延时特性的电压参考点# h5 X" D* J, x+ ~8 c) Y
. {% w* f1 K. FVref,Rref,Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load/ Y" X3 E g" O6 U/ v
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
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, L( Q* W$ M+ O* @9 s这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K5 M: I+ L& W" p' M6 u y
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D; |, f% E1 a o
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