TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption2 g5 I6 O/ V9 V- n
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
5 @, V, b# T, T2 u; h* l& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。( k; f) j6 ]" K( A
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
( ?: P4 Q+ L" a Z* D. A5 t2 t4 WVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
5 v. _# G' i' F. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load/ e" b3 B' B+ A
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传* f3 s0 j+ i+ X0 p/ z4 o* L! w! K7 ]
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, b. r! g1 c5 ~2 q6 v( @4 h% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I. ?8 D7 Q+ ~7 R0 {' k4 {% p
举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s- G% p' ~& U6 c! l; p: l9 A0 o
![]() 2008-4-29 08:45 上传$ g( H4 g' G5 L# E
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! \% g0 h' n$ T% g& B% @, f) I这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
# i* u1 O1 F7 S3 G& v E6 J. p下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D. Y# D* e5 J$ Q
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发表于 2011-5-21 11:12
发表于 2011-6-10 19:18