TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
|---|
签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
|
Vmeas and test load descirption* n: O. {1 U( Z1 k3 K( y9 x8 j& N7 {" q
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
4 |. |- D- A) g+ Q5 T7 H6 l& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
2 r. ]! ]. g" D* R( U1 C7 {* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
% \7 h; j& W) h) j2 T9 wVmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
, E) r1 g' P/ y* }- z. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load8 [& b# B! Q$ D
8 [3 E0 W) ^0 r: q![]() 2008-4-29 08:45 上传- @1 Q" _% F8 v( {
下载附件 (23.05 KB), j3 Y, Z3 s( Y d+ V
# ?$ j8 k0 g- e3 Z, L
3 u9 }! z6 o* P2 G, ^5 i. `. L; E6 d# N ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a
9 ?6 h0 E/ X- Q8 `6 n( u, A! S- N, Z, Z% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I
5 s7 E" n0 T- R7 G9 s& T/ g举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s
& o1 R1 r. W: p; ~4 `![]() 2008-4-29 08:45 上传# s7 e: |" V, m. Z/ [
下载附件 (9.38 KB)$ i6 z/ ^- y8 ?3 Q7 s+ {
+ d' p: q( @9 y7 S9 p! K/ T. D- ~% `
; j/ z; E/ L& N0 X5 h2 s4 _8 Z+ @2 n* x5 e9 b
9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z( [. K, S4 T# j! ~7 d2 D8 Z0 ~
这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K" b2 k) }, ?& `3 Y- t
下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D6 `- s( Z& q# e. \6 p `- k
|
|
[复制链接]
/1 
发表于 2011-5-21 11:12
发表于 2011-6-10 19:18
