TA的每日心情 | 怒
2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption
7 J6 I& p( o: k0 \9 c* d- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念，那么手册中的Tco是如何得到的呢？
$ q& A$ |1 a1 d& |- M/ E8 [/ D请看下图，半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load（不要深究为什么如此，如果想清楚理解，意味着你要进入一个新的领域----IC测试），我们的probe点即为T点，Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间，而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。7 s. M& E' A5 `2 [
* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]. o4 P# `' I5 E7 U
Vmeas为半导体厂商用来为输出buffer（当然包含output ，I/O，3-state）确定板级延时特性的电压参考点
0 a/ ^4 Z- a/ }5 u. {% w* f1 K. FVref，Rref，Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load7 p/ g/ d5 z3 r3 G. F" s8 L
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. L; E6 d# N ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a) d; A6 ?, q5 s, T5 h
% V/ t$ Q8 @7 X# ]% b I
, A4 A) A/ y" |4 ^. V% V J举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s4 o1 {/ L( I, k x
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2 C, }. H: b+ x ]3 U( B( ^" z3 ?; g8 b- N1 c' m4 m0 O1 d/ J
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% Y& C& }, w. s, R9 ~) M+ }: p& W" \% H" [ L* w& }- V# s% Z N0 A- Z
: A3 t# Z+ A' M! u9 H这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
- i" z3 t6 T0 I( S( X7 W7 i2 N% M! O下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D
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