TA的每日心情 | 怒 2024-8-4 15:31 |
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签到天数: 1 天 [LV.1]初来乍到
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Vmeas and test load descirption8 g' G$ \" ^* a+ j
- j2 t3 E' X \- R& I前面已经讲过Tco概念,那么手册中的Tco是如何得到的呢?2 T8 |. f) R5 U" @
& |- M/ E8 [/ D请看下图,半导体厂商首先会根据芯片特性确定具体的test load(不要深究为什么如此,如果想清楚理解,意味着你要进入一个新的领域----IC测试),我们的probe点即为T点,Tco的定义即为从时钟输入到数据输出的时间,而数据输出的时间点的确定即为T点波形上升为Vmeas的时间点。
* m6 i7 J2 W w! ?; t& F% v* o% r% E2 V/ \) S( ?+ g. G& B( |: R4 r4 {; e* ]
" t% `5 I, l/ f$ ~/ yVmeas为半导体厂商用来为输出buffer(当然包含output ,I/O,3-state)确定板级延时特性的电压参考点
" K& s- E: q& T5 r. x* ^0 L6 R* s4 ]. {% w* f1 K. FVref,Rref,Cref为半导体厂商用来指明传输延时和输出buffer开关特性的test load. j. C0 K$ Z4 O. H: x% t" k
8 [3 E0 W) ^0 r: q 2008-4-29 08:45 上传
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0 E" q4 n. B3 B1 @/ Y& E/ k# e. L; E6 d# N ]1 D: L5 o% n; K5 a1 a1 q1 ^9 g* Z# c" W8 z
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举个例子$ F1 s% T1 p& Y2 i9 ]$ L7 L8 d6 s+ s% N. | Q0 [- A. E. j* L s8 O
2008-4-29 08:45 上传
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这是取自一个ibis model clk buffer的test laod及Vmeas参数5 ?# I v# M! H+ m( R3 x: K
8 ~$ z$ b" z9 y- y4 f4 p! g' W下面分别用SQ和hyperlynx搭建起test load7 @$ y' S/ E2 }6 e8 P2 D G6 r+ C/ o4 { L1 g
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