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逻辑电平检测电路

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1#
发表于 2013-3-26 19:27 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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9 A, H8 a& y7 K6 a最近在做一款芯片,里面需要用到这样一个电路(暂且命名为逻辑电平检测电路):/ a* C7 [4 B* S, S
1、输出寄存器是由8位数据位(经过异或操作)和一位反转位组成的9位寄存器3 `6 W: i8 e5 [  c: ]" h6 w2 s+ |
2、反转位定义:当数据位里面有超过4位的1时,反转位设置为1,否则保持为04 [; \/ ?6 q6 m% ^7 Z/ I' o$ i# ]
3、输出的8位数据位要和反转位进行异或操作,然后才能输出: o) W3 E4 v: F

, L* F" G& k  x- X# n& D) F
" ?0 w* ~- B8 ]! ]: P ( P7 D( N9 T* r0 `5 D0 P3 g3 H

9 G8 j% q, F7 j5 l7 I( F9 b如何检测1的个数是否大于4的电路最好能用组合电路实现。/ }- b6 B1 Z& w6 H
希望能有朋友指点一下,多谢了。
; j5 D2 X6 B  H: Y: |% W% a1 o
1 e- o$ X/ @; T8 \8 g

该用户从未签到

2#
发表于 2013-5-16 08:26 | 只看该作者
本帖最后由 zgq800712 于 2013-5-16 08:29 编辑   g  }# }. Y) i- g* m9 ]2 j2 C

3 K$ c& d$ W8 P: Q5 N5 z9 H7 }哎想不出来,看序列检测器也不是用组合逻辑的。,楼主说的是4个任意位1 还是连续1。
. t3 e+ Y. A0 S连续位的话就好做了。
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