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逻辑电平检测电路

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发表于 2013-3-26 19:27 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
" E( \/ G$ d2 W6 H2 n7 x4 ?+ v: n
最近在做一款芯片,里面需要用到这样一个电路(暂且命名为逻辑电平检测电路):  E( a1 g' }1 ~$ r& |% A
1、输出寄存器是由8位数据位(经过异或操作)和一位反转位组成的9位寄存器* J8 z& a: J) l
2、反转位定义:当数据位里面有超过4位的1时,反转位设置为1,否则保持为0* i7 T# U" n6 V0 n+ I4 R% @6 |- {
3、输出的8位数据位要和反转位进行异或操作,然后才能输出+ J# S0 o0 o* g0 o% }/ u

6 T  l+ P' r2 q* ~% B3 M# o5 D) h9 s- y: O6 J7 H1 t
6 r" v- D) `. f5 v, T9 Z5 v/ e

6 X1 f9 E4 }' ]' d2 ]如何检测1的个数是否大于4的电路最好能用组合电路实现。' f$ T; g+ B, B% x! B$ n) [
希望能有朋友指点一下,多谢了。 9 A' ^8 G. i: U; ~% [  t1 r
. }* C& p" x- I& I% B

该用户从未签到

2#
发表于 2013-5-16 08:26 | 只看该作者
本帖最后由 zgq800712 于 2013-5-16 08:29 编辑
3 Q5 \9 U9 T+ M9 W% m7 p+ ^* `$ o. {, H2 q+ f0 N) a9 d5 m6 E
哎想不出来,看序列检测器也不是用组合逻辑的。,楼主说的是4个任意位1 还是连续1。  Q9 {5 e- E! E+ @% ~, n8 Q
连续位的话就好做了。
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