JTAG 嵌入式调试技术

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JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。* F% v( I" S2 A
; B9 V! |; q0 S7 }目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 7 m1 q# k/ c, Y
JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH器件进行编程等。
9 T4 g& D  o  q2 R/ `- @- X8 `通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。
- E6 C/ P- j  H# L7 i) M14 针JTAG 接口定义3 ]7 }0 T- |3 g
14 针 JTAG 接口定义引 脚 名 称 描 述

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4 X7 ~- T% t2 W! h. R/ C20 针 JTAG 接口定义引 脚 名 称 描 述

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