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请教DDR布线中 串联终端电阻摆放位置的问题

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1#
发表于 2012-3-14 11:31 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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最近在学习看了很多资料,对于DDR串联终端电阻的摆放位置有疑惑,
5 x+ y. C% t0 j; N; Q0 m
& H- L5 m6 m& h9 s% C% z# a' E' h8 b* M首先,地址线、控制线、CLK/CLK#是靠近处理器端,这些没太多疑问。5 m# M3 v& s' D; M, T  n
: N) e; e3 X; g. \3 n8 c+ {2 p8 L
但数据线、DQS,DQM串联电阻的摆放位置我却看到了多个版本。
" Y& I& T  J  `) O  h, f8 B; l: |  {' x: i/ J8 O: R6 }
版本1:数据线的串联电阻尽量放置在CPU与DDR之间,而DQM与DQS对CPU来说为输出信号,因此尽可能靠近CPU摆放,达不到的情况下也要与数据信号的串联电阻要求一致。
8 j9 F) m* N' ^  r
) c$ y$ I/ d% c; E版本2:对于DQS和DQ类信号的走线,串联电阻在近DDR端,DDR_DQM信号例外,它的串联电阻在近CPU端。
% E9 n. \" ^( a; o6 f* b4 O5 z- B# Z8 o+ s* i
由以上两个版本看,数据线的串联电阻都不靠近CPU,DQM由于是低速信号,串联电阻靠近那边问题也不大,而对于DQS串联电阻的说法却完全相反。% ?$ G7 \- v. J& z
个人感觉对于DQS的说法,版本1更可信些。
& j0 _) o& m7 `# f$ o8 k
) g0 K: x0 O; C( ~; R' Q7 v我的理解:数据线属于双向的,DDR和CPU都是源端,所以靠近那边需要考虑DDR芯片、处理器、PCB的阻抗。
  @) _" n) R: ~& R, P例如,CPU的数据IO输出阻抗是48ohm,DDR2的IO输出阻抗为17ohm,传输线阻抗为50ohm。
- `, X; T0 B: j: h7 T  j; A那么当CPU进行写操作时:信号到达接收端后由于输入阻抗很大,反射回源端,由于源端阻抗与传输线阻抗相差很小,所以反射回来的信号被源端吸收不会发生二次反射。
0 U7 ?+ s+ M- D  a3 }9 w当CPU进行读操作时:信号从DDR传输到CPU端,同样由于阻抗不匹配,信号反射一部分回到DDR端,由于DDR输出阻抗为17ohm,与传输线阻抗相差很大,因此信号会发生二次反射。
1 L* C4 @& U2 u9 w1 j/ H! a源端的串联电阻对第一次反射并不起作用,但可消除第二次反射。所以该情况下,串联电阻应该靠近DDR端(即靠近与传输线阻抗相差较大的一端)! {4 w6 N. u& J$ f# s, G, w6 L

" ]* |, N+ ^! p7 A! t想问问大家是否还有其他理解的版本 ;)

该用户从未签到

2#
发表于 2012-4-27 13:28 | 只看该作者
求解释……

该用户从未签到

3#
发表于 2012-4-29 14:45 | 只看该作者
擺法不一定 , DDR 是雙向做read/Write 作業, RAM 和 Memary Controller 的 R/W 模式下的阻抗是不一樣的 , 因此您看到的些經驗條件不見的合用.
7 n( z  S2 K5 ?5 p' b您要做過 SI 模擬後, 再來決定哪個狀況較差 , 再依差的狀況來做調整擺放.9 A8 u. d, _. D1 w) `1 w
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