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1"辐射发射, J( Z! s/ s6 z: l* M# N- ~
辐射发射测试
0 u+ L% X% n0 w3 J5 v测试电子、电气和机电设备及其组件的辐射发射,包括来自所有组件、电缆及连线上的辐射发射,用来鉴定其辐射是否符合标准的要求,一致在正常使用过程中影响同一环境中的其他设备。
/ \8 v$ X4 \* E0 Q6 O! A2传导! [; D8 I, i- h$ L3 g0 e
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; G. i8 x3 V) E5 N传导骚扰测试/ H8 _1 ]7 S! L, i& C! h
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- z" D. @3 Y8 R: e为了衡量设备从电源端口、信号端口向电网或信号网络传输的骚扰。
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: S' `6 C4 ^7 K# K2 k& t3静电放电抗
$ N1 K) m; T7 W" l1 Q静电放电抗扰度测试
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0 y2 ^- }0 X! E测试单个设备或系统的抗静电放电干扰能力,它模拟操作人员或物体在接触设备时的放电;人或物体对临近物体的放电。静电放电可能产生一下后果:直接通过能量交换引起半导体器件的损坏、放电所引起的电场磁场变化,造成设备的误动作。放电的噪声电流导致器件的误动作。) P2 a( h& E( T8 ? y% g- o( O9 J' F
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& o& O3 V! o1 Q& z; J% V4射频辐射电磁场)
' ?1 u8 X6 \7 t- p+ r射频辐射电磁场的抗扰度测试 O4 Q$ O5 |0 y1 n) }: B9 N# H9 m0 b9 L6 L5 i/ r# b9 ]
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对设备的干扰往往是设备操作、维修和安全检查人员在使用移动电话时所产生的,无线电台、电视发射台、移动无线电发射机和各种工业电磁辐射源,以及电焊机、晶闸管整流器、荧光灯工作时产生的寄生辐射,都会产生射频辐射干扰。测试的目的时建立一个共同的标准来评价电子设备的抗射频辐射电磁场干扰能力。3 ]$ O" {* X" D: e2 w% P
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7 _- J/ O! f6 c+ O& ?4 w0 a/ [5快速瞬变脉冲群- _/ F4 T5 F- z5 }! P
快速瞬变脉冲群的抗扰度测试' X1 F/ V' [/ b6 I2 T" ]) V. A5 ?& X
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7 x' W) y( u7 ~* |* D6 w' A4 n电路中机械开关对电感性负载的切换,通常会对同一电路中的其他电气和电子设备产生干扰。测试的机理是利用群脉冲产生的共模电流流过线路时,对线路分布电容能量的积累效应,当能量积累到一定程度时就可能引起线路(乃至设备)工作出错。通常测试设备一旦出错,就会连续不断的出错,即使把脉冲电压稍稍降低,出错情况依然不断。脉冲成群出现,脉冲重复频率较高,波形上升时间短暂,能量较小,一般不会造成设备故障,使设备产生误动作的情况多见。. X) t" S/ c# @# b. @
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/ x" Q; g5 Y- @; ]. m) I6浪涌7 t: M- T- M# |/ K1 s1 I! i
浪涌抗扰度测试
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1 P3 y+ s: o# A; |( t雷击主要模拟间接雷,如雷电击中户外线路,有大量电流流入户外线路或接地电阻,产生干扰电压。在线路感应的电压和电流,雷电击中临近物体产生电磁场,在线路上感应的电压和电流,雷击中地面,地电流通过公共接地系统时所引入的干扰。1 y. h5 G: ?. X% U9 \- m! \5 \, j! b2 G/ E
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切换瞬变:主电源系统切换时产生的干扰,同一电网大型开关跳动时产生的干扰。/ a: o: B8 s- @& B7 ^& S
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7射频场感应传导$ s& e! S6 r7 O, f
射频场感应的传导抗扰度测试' R( T9 ^1 n5 f6 F; ~2 w9 {2 ]/ s+ U' ^
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通常情况下设备的引线的长度可能与干扰频率的几个波长相当,这些引线就可以通过传导方式对设备产生干扰,没有传导电缆的设备不需要做此项测试。
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在通常情况下,被干扰设备的尺寸要比频率较低的干扰波的波长小的多,相形之下,设备引线的长度可能达到干扰波的几个波长,这样,设备引线就变成被动天线,接受射频场的感应,变成传导干扰入侵设备内部,最终以射频电压电流形成的近场电磁场影响设备工作。 C6 t9 O! c' \/ w# R* j
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8电压跌落、断时中断和电压渐变
, Y/ i! k6 e& o. ^7 K4 |电压跌落、断时中断和电压渐变抗扰度测试( i3 v0 c2 r* m M- ?. _: `) k% U0 i7 g5 ]' S* L
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/ P) N: ~" j3 G# z/ r电压瞬间跌落、断时中断是由电网、变电设施的故障或负荷突然出现大的变化所引起的。电压变化是由连接到电网中的负荷连续变化引起的。" l+ j0 O5 |% r, [/ @# b- |
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