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运放采样地和MCU不共地

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  • TA的每日心情
    开心
    2022-1-29 15:04
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

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    1#
    发表于 2022-11-7 14:10 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    运放采样地和mcu不共地,这样采样到的电压会准吗?这样是否正确?* `$ b: W/ ^& j: U# Q5 O  w* q

    8 i/ `+ c" _2 q* c6 l5 n
  • TA的每日心情
    无聊
    2023-7-28 15:06
  • 签到天数: 143 天

    [LV.7]常住居民III

    推荐
    发表于 2022-11-7 15:03 | 只看该作者
    看隔离方式,如是0欧电阻或者磁珠来进行数字地与模拟地进行隔离,影响不大
  • TA的每日心情
    慵懒
    2022-1-21 15:20
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2022-11-7 15:03 | 只看该作者
    总有一个地方用电阻或磁珠相连两个地
  • TA的每日心情
    开心
    2022-1-21 15:22
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2022-11-7 15:13 | 只看该作者
    我们理解的地和电路板LAYOUT 之间,由于有一些布线导致的微小阻抗,所以略有不同,有些时候,为了引导新手,要区分地,结果大家更搞不明白了。如果是低频信号,采样精度不高,就用一个地就好了。如果区分开了,不知道怎么布线,容易行成电路环,增加EMI。0 K( `, `4 p7 l

    该用户从未签到

    5#
    发表于 2022-11-7 15:17 | 只看该作者
    引入一个二地间的共模信号而已。
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