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16位MS5541参数

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发表于 2022-5-12 21:37 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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本帖最后由 Heaven_1 于 2022-5-13 08:58 编辑 , s$ }$ _* Q0 ?3 `

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MS5541描述
MS5541/MS5542 是一款单通道、16 位、串行输入、电压输出的数模转换器,采用 2.7V 至 5.5V 单电源供电,输出范围为 0V至 VREF。在输出范围内保证单调性,在温度范围为-40℃至+85℃能够提供 1LSB INL 的 14 位精度。MS5541/MS5542 提供无缓冲输出,低建立时间、低功耗和低失调误差等特性。并且具有低噪声性能和低毛刺,适合多种终端系统使用。
MS5542 能够工作在双极性模式,产生VREF 的输出摆幅。具有用于基准电压与模拟接地引脚的开尔文检测连接,以减少布局敏感度。
特点
有效精度 14 位
3V 和 5V 单电源
低功耗:0.825mW
建立时间:1.2us
无缓冲电压输出能够直接驱动 60 K负载
低毛刺:1.1nV-s
兼容 SPI/QSPI/MICROWIRE 和 DSP 接口标准
应用
精密源测量仪器
自动测试设备
数据采集系统
工艺过程控制
MS5541替代方案
MS5541 pin=pin AD5541
封装以及功能完全替代AD5541,MS5541价格稳定交期很好,提供原厂研发现场技术支持,为客户解决替代方案。
封装图
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产品规格
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管脚排列

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内部框图
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工作原理
MS5541/MS5542 是一款单通道、16 位、串行输入、电压输出 DAC。工作电压范围是 2.7 V 至 5.5V,采用 5 V 电源时的典型功耗为 165uA。数据通过三线或四线式串行接口,以 16 位字格式写入该器件。为确保处于已知上电状态,该器件设计具有上电复位功能。MS5541 单极性模式下,输出为 0V,在双极性模式下的 MS5542 输出为-VREF。MS5542 具有开尔文检测连接的参考电压和模拟地。
1. 数模转换部分
DAC 架构包含两个匹配的 DAC 部分。图 7 所示为简化电路图。MS5541/MS5542 采用分段式 DAC架构。16 位数据中的高 4 位通过解码后,可驱动 E1 到 E15 的 15 个开关。每个开关都将 15 个匹配电阻中的一个连接到 AGND 或 VREF。16 位数据中的其余 12 位驱动电压模式 R-2R 梯形网络的 S0 至 S11 开关。
典型应用
布局指南
在任何注重精度的电路中,精心考虑电源和接地回路布局有助于确保达到规定的性能。安装
MS5541/MS5542 所用的印刷电路板(PCB)应采用模拟部分与数字部分分离设计,并限制在电路板的一定区域内。如果 MS5541/MS5542 所在系统有多个器件要求模拟地-数字地连接,则只能在一个点上进行连接。星形接地点尽可能靠近该器件。MS5541/MS5542 应当具有足够大的 10μF 电源旁路电容,与每个电源上的 0.1μF 电容并联,并且尽可能靠近封装,最好是正对着该器件。10μF 电容为钽珠型电容。
0.1μF 电容应具有低有效串联电阻(ESR)和低有效串联电感(ESI),如高频时提供低阻抗接地路径的普通陶瓷型电容,以便处理内部逻辑开关所引起的瞬态电流。
多通道译码电路
MS5541/MS5542 具有片选引脚 CS,能够选择一个或者多个 DAC 一起工作。所有芯片接受相同的时钟串和数据串,但是在一个时间上只能有一个芯片接受 CS 信号。DAC 的地址有译码器决定。在数字通路上存在数字馈通现象,使用突发时钟能够将数字馈通对模拟信号通道的影响降至最低。典型电路结构如图 11 所示。
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详细质料可以留言

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  • TA的每日心情
    开心
    2022-1-21 15:21
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2022-5-13 08:52 | 只看该作者
    芯片的选型很重要,要看它的灵敏度和使用寿命

    点评

    是的,我们芯片在出厂前会对相应芯片的功能做老化测试模拟在不同应用环境中的工作状态,但是现在芯片涨价会替代更多的产品实际应用中会涉及很多方面,所以更多是会根据芯片的功能去验证使用环境是否匹配,如果直接替  详情 回复 发表于 2022-5-13 23:49

    该用户从未签到

    3#
     楼主| 发表于 2022-5-13 23:49 | 只看该作者
    replace 发表于 2022-5-13 08:52
      K0 x% g: \5 h% A4 g. o* `芯片的选型很重要,要看它的灵敏度和使用寿命
    0 l/ |0 u1 {! B: U3 ]* [! r- u
    是的,我们芯片在出厂前会对相应芯片的功能做老化测试模拟在不同应用环境中的工作状态,但是现在芯片涨价会替代更多的产品实际应用中会涉及很多方面,所以更多是会根据芯片的功能去验证使用环境是否匹配,如果直接替代那就更完美了。
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