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坏性物理分析(DPA),可用对电子元器件设计、结构、材料和质量等进行测定,并判断其是否达到设计使用标准。其具体破坏性物理分析,可以完成对电子元器件的全面分析,并实施一系列检验,其对电子元器件应用的作用毋庸置疑。
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1 电子元器件破坏性物理分析 + ~7 |- E% |; B& M
电子元器件破坏性分析是用于分析具体的电子元器的功能状态情况,其最先是美国开始使用。电子元器件破坏性物理分析的重点在于破坏性物理分析,展开对电子元器件的解剖,分析其内部元素,并将其具体结构情况与设计进行对比,分析其内部结构实际情况与设计是否符合,材料情况与设计是否匹配,再确定电子元器件的功能是否达到设计标准。具体的电子元器件破坏性分析的主要目的,就是确定电子元器件功能是否满足设计要求,通过具体检测项目与设计的对比,可完成对电子元器件的质量判断。电子元器件破坏性分析可用于电子元器件产业分析产品合格率,并为其工艺改进奠定基础。
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& D. o+ |0 d4 }. @; X! m9 M) m 2 电子元器件破坏性分析的应用效果
: i4 k9 @* w! q8 V 近年来,我国对电子元器件破坏性分析的展开程度逐渐加深,其应用效果也十分明显,具体应用效果如下:
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2.1 半导体器件质量合格率明显提升
4 l* F5 S; q8 w) v 半导体材料是现代电子产品的重要组成部分,具有极高的应用价值。但是,在实际的生产中,半导体器件的质量问题较为突出,借助电子元器件破坏性分析的运用,全面改善了半导体器件质量问题,整体提升了半导体器件的合格率,效果显著。即使在一些个别批次出现问题,也不会发生类似0键合、0拉克等的质量问题。
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2.2 电子元器件质量问题的造成原因发现明显 / E% u/ l3 g% d9 p! g# I, h
电子元器件的质量问题是影响电子元器件应用的关键,在应用电子元器件破坏性分析后,可完成对电子元器件的全面检测。通过电子元器件破坏性分析后,得到电气元器件不合格率主要以内部不合格较高,接下来是以芯片剪切不合,最后为检核强度,这三种问题,是影响电子元器件的关键问题,均可借助电子元器件破坏性分析得到,故此,需采取针对性的措施,降低其对电子元器件的干扰。
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2.3 可为器件改进提供依据,改善整体质量
. Q8 S9 m! i. n( P 由电子元器件破坏性分析可获取详细的电子元器件质量问题因素,如上述问题研究分析的基础上,得到详细的电子元器件问题信息,电子元器件生产企业,根据这些获取的信息,可完成对电子元器件的整体改进,进而规避同类问题的发生。在电子元器件破坏性分析应用后,对提升电子元器件生产企业的效率和合格率具有积极的推进作用。
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! K+ c. F Q; M7 |* m; \1 R4 A 3 电子元器件破坏性分析的要项
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; ~7 ~" j) T7 J6 |0 i6 g 3.1 具体要项
* V& j7 c% I, P- H9 ]8 W( h1 x 电子元器件破坏性分析在具体应用,为保障应用效果,需对其具体要项展开研究,内容如下: % i" T- ]( s+ u1 }0 _
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3.1.1 用户委托形式展开
+ V* b8 {( d! v3 X6 t 通常情况下,电子元器件破坏性分析是由具有专业技能人员实施,电子元器件生产企业,以委托的形式,促使相关技术人员展开电子元器件破坏性分析。针对委托形式,相关技术人员,在严格按照规范标准的基础上,在合同中根据澄清说明、裁定标准,对具体分析格进行定制。具体分析中,展开对电子元器件厂商提供的样品解剖,技这一过程中,必须严格按照操作规范展开,解剖前,展开对电子元器件的常规外观检查,确认合格后,方可进行下一步检测。
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3.1.2 电子元器件破坏性分析展开时机 8 ?5 r) V [3 E% j4 c
该工作是在明确标准下展开,且其对展开时机具有一定的要求。最佳时机为产品出厂前、产品购置筛选等,这些时机的电子元器件破坏性分析可排除外界因素的影响,进而保障电子元器件破坏性物理分析效果。
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* i0 y8 @) R& i 3.1.3 抽样科学性 + K, \+ `+ W: z
电子元器件破坏性分析的样品需要具有全面的代表性,如果样品缺乏代表性,就会导致电子元器件破坏性分析结果不具代表性,严重影响产品质量。故此,在电子元器件抽样过程,必须保持电子元器件具有良好的代表性,可将整体电子元器件的情况进行表述。
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3.2 电子元器件破坏物理分析实例 ! N d6 ]4 V. j3 m
现本文以RJK型有质量等级的薄膜固定电阻器为破坏物理分析的对象 6 f2 C0 r0 Z/ a$ a a
(1)确定具体执行标准;
4 c& U6 c9 w; z- g+ E( | b (2)报告封面进行编辑,报告封面包括具体电子元器件的型号,单位名称、编号、日期和结论等内容; 8 s# ]* c+ S, }
(3)报告正文,正文由概要、破坏物理学分析情况等内容,并将实验项目,电阻器编号信息,包括项目的检验结果、参数等数据信息,促使报告结果使用者能够清晰得到目标信息; 4 ~ C4 H" i: @4 U/ G( m/ c, ^
(4)记录情况,择取规范化的表格,记录进行时间、数据、提供照片等;
0 s# @/ w7 f$ d5 \2 ] (5)按照所择取的规范内容,展开有效的电阻元器件抽样。 3 @8 i, t% M1 R3 p8 n
按照上述各要项及具体内容,可顺利完成电子元器件破坏性物理分析,从而满足航空、航天等众多行业对电子元器件的高可靠性的要求,作用明显。 + ]0 l, B ]7 ?" S
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4 结束语
q- ?+ f: a. ?4 N( K9 t" L; Q" Q1 n% n 电子元器件是电子产品的组成部分,受电子元器件质量的影响,电子产品的质量与性能也会发生变化。针对这种情况,为改善电子产品合格率与维护效果,可借助电子元器件破坏性分析,解剖电子元器件,并与设计进行对比,继而得到检测结果。根据电子元器件破坏性分析可完成对电子元器件整体性能的提升,推动相关产业发展。
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