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元器件的DPA,你知道多少

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发表于 2021-11-16 09:32 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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坏性物理分析(DPA),可用对电子元器件设计、结构、材料和质量等进行测定,并判断其是否达到设计使用标准。其具体破坏性物理分析,可以完成对电子元器件的全面分析,并实施一系列检验,其对电子元器件应用的作用毋庸置疑。2 |: v  S7 r, }6 N" k
  2 l: a- C6 b6 x0 S9 n5 x
       1 电子元器件破坏性物理分析 1 x2 m$ }( D3 R( Q/ ]/ R- D$ _
  电子元器件破坏性分析是用于分析具体的电子元器的功能状态情况,其最先是美国开始使用。电子元器件破坏性物理分析的重点在于破坏性物理分析,展开对电子元器件的解剖,分析其内部元素,并将其具体结构情况与设计进行对比,分析其内部结构实际情况与设计是否符合,材料情况与设计是否匹配,再确定电子元器件的功能是否达到设计标准。具体的电子元器件破坏性分析的主要目的,就是确定电子元器件功能是否满足设计要求,通过具体检测项目与设计的对比,可完成对电子元器件的质量判断。电子元器件破坏性分析可用于电子元器件产业分析产品合格率,并为其工艺改进奠定基础。 3 O$ y9 E, G8 @/ |
  
: K( c& P8 S! y1 P       2 电子元器件破坏性分析的应用效果 * p, m8 C% W) W9 b
  近年来,我国对电子元器件破坏性分析的展开程度逐渐加深,其应用效果也十分明显,具体应用效果如下:% C+ U, v$ L' N- c
  
9 ^* p( V* \8 ]9 O: r7 S8 ^       2.1 半导体器件质量合格率明显提升
- }8 y3 y  S- i  半导体材料是现代电子产品的重要组成部分,具有极高的应用价值。但是,在实际的生产中,半导体器件的质量问题较为突出,借助电子元器件破坏性分析的运用,全面改善了半导体器件质量问题,整体提升了半导体器件的合格率,效果显著。即使在一些个别批次出现问题,也不会发生类似0键合、0拉克等的质量问题。
2 V6 t/ f; X8 C; Y; }' k5 Q/ S  
% d3 i! v, x" y       2.2 电子元器件质量问题的造成原因发现明显 ; V, L$ f/ ?( i- I0 |9 @9 c$ H% O0 U
  电子元器件的质量问题是影响电子元器件应用的关键,在应用电子元器件破坏性分析后,可完成对电子元器件的全面检测。通过电子元器件破坏性分析后,得到电气元器件不合格率主要以内部不合格较高,接下来是以芯片剪切不合,最后为检核强度,这三种问题,是影响电子元器件的关键问题,均可借助电子元器件破坏性分析得到,故此,需采取针对性的措施,降低其对电子元器件的干扰。
4 Y- H' Z" h! D9 e  5 M0 I6 |9 t& q! J5 H) v
       2.3 可为器件改进提供依据,改善整体质量 ' g% c3 z: `% g9 n9 \4 \
  由电子元器件破坏性分析可获取详细的电子元器件质量问题因素,如上述问题研究分析的基础上,得到详细的电子元器件问题信息,电子元器件生产企业,根据这些获取的信息,可完成对电子元器件的整体改进,进而规避同类问题的发生。在电子元器件破坏性分析应用后,对提升电子元器件生产企业的效率和合格率具有积极的推进作用。 , h+ B$ r/ B+ U  C  P  G  O+ H
 
  K; J  E, j, b  x2 w, K# M       3 电子元器件破坏性分析的要项 / k2 Z( t; \& Z3 m* w
  * m" S3 a* j2 B9 o+ d
       3.1 具体要项 ! B+ Q( J, a- O) r6 J, C) q
  电子元器件破坏性分析在具体应用,为保障应用效果,需对其具体要项展开研究,内容如下: * |% M  \2 t6 {/ h) a/ b5 `. @
  8 m4 V' g/ Z9 \& W+ p
       3.1.1 用户委托形式展开
/ [  y% H- U9 D8 R2 [: O  通常情况下,电子元器件破坏性分析是由具有专业技能人员实施,电子元器件生产企业,以委托的形式,促使相关技术人员展开电子元器件破坏性分析。针对委托形式,相关技术人员,在严格按照规范标准的基础上,在合同中根据澄清说明、裁定标准,对具体分析格进行定制。具体分析中,展开对电子元器件厂商提供的样品解剖,技这一过程中,必须严格按照操作规范展开,解剖前,展开对电子元器件的常规外观检查,确认合格后,方可进行下一步检测。 : z' [0 r$ k6 A- A
  
! ~7 D: G4 w6 }; L! p       3.1.2 电子元器件破坏性分析展开时机
1 q; i  O9 F1 _( @9 T  N, i9 m  该工作是在明确标准下展开,且其对展开时机具有一定的要求。最佳时机为产品出厂前、产品购置筛选等,这些时机的电子元器件破坏性分析可排除外界因素的影响,进而保障电子元器件破坏性物理分析效果。
; _( G6 W9 K% Z  & ~  [( Z3 R5 n3 U
       3.1.3 抽样科学性
$ |( K9 `6 z* F. ?( O  电子元器件破坏性分析的样品需要具有全面的代表性,如果样品缺乏代表性,就会导致电子元器件破坏性分析结果不具代表性,严重影响产品质量。故此,在电子元器件抽样过程,必须保持电子元器件具有良好的代表性,可将整体电子元器件的情况进行表述。   ]1 j, [1 F  [3 ]
  
/ F. B8 k8 [  Z' [! n       3.2 电子元器件破坏物理分析实例 0 u: T. g- N& }- m
  现本文以RJK型有质量等级的薄膜固定电阻器为破坏物理分析的对象 ! w" G& ]) D/ s% c0 w% C
  (1)确定具体执行标准; 4 }7 A# i  V5 C/ t; J' A
  (2)报告封面进行编辑,报告封面包括具体电子元器件的型号,单位名称、编号、日期和结论等内容;
1 R* T8 r6 g- j7 z4 @+ c( b  (3)报告正文,正文由概要、破坏物理学分析情况等内容,并将实验项目,电阻器编号信息,包括项目的检验结果、参数等数据信息,促使报告结果使用者能够清晰得到目标信息; 0 j5 A7 i" _6 |3 K$ H) {* q
  (4)记录情况,择取规范化的表格,记录进行时间、数据、提供照片等;
1 `. ]  C1 d7 j+ G# S% r, s+ R) c  (5)按照所择取的规范内容,展开有效的电阻元器件抽样。 7 h) W  `4 u. r+ p0 H
  按照上述各要项及具体内容,可顺利完成电子元器件破坏性物理分析,从而满足航空、航天等众多行业对电子元器件的高可靠性的要求,作用明显。 ) J5 ]$ S. }- w7 W8 o% k: p
  
+ ~1 x2 c" w8 _0 U! t7 ]: }       4 结束语
0 z+ j, ~8 w; |. S1 ?5 E2 u  电子元器件是电子产品的组成部分,受电子元器件质量的影响,电子产品的质量与性能也会发生变化。针对这种情况,为改善电子产品合格率与维护效果,可借助电子元器件破坏性分析,解剖电子元器件,并与设计进行对比,继而得到检测结果。根据电子元器件破坏性分析可完成对电子元器件整体性能的提升,推动相关产业发展。
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2#
发表于 2021-11-16 10:22 | 只看该作者
坏性物理分析(DPA),可用对电子元器件设计、结构、材料和质量等进行测定,并判断其是否达到设计使用标准。
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-11-16 10:33 | 只看该作者
    我国对电子元器件破坏性分析的展开程度逐渐加深,其应用效果也十分明显1 f& J7 t% d) m7 w% x: J8 ~  M

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    发表于 2021-11-16 11:06 | 只看该作者
    半导体材料是现代电子产品的重要组成部分,具有极高的应用价值4 @+ U! h1 n7 H  W! E

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    5#
    发表于 2021-11-16 11:14 | 只看该作者
    电子元器件是电子产品的组成部分,受电子元器件质量的影响,电子产品的质量与性能也会发生变化。
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