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7 H) z0 y: P1 k/ F! f: l! v
w6 A# h) N6 [3 g4 b3 `' P失效定义
2 S' \5 f: p' ^# e1 e& @% i2 Z1特性剧烈或缓慢变化
- c7 ~4 ~2 d! I D$ v3 t2 {2不能正常工作
# I) ?/ K2 [: y- A6 b3不能自愈失效种类
- s* b: e( y! }1致命性失效:如过电应力损伤2缓慢退化:如MESFET的IDSS下降7 Y6 v. R% O8 V' d& ]
3间歇失效:如塑封器件随温度变化间歇失效- E* a2 o! P# l# P1 u$ _
) t. p+ H% v: r3 N9 V8 R% T9 D+ f8 d) Y7 w
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附件:
IC电子元器件失效分析.zip
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