|
|
EDA365欢迎您登录！
您需要 登录 才可以下载或查看，没有帐号？注册
x
0 k5 O& t$ P0 P1 S& _3 _' c汽车行业在飞速发展同时，汽车行业的质量要求也越来越高。加强汽车在各种环境状况下的安全性、准确性以及可靠性成为各大主机厂现如今考虑的重大课题。与此同时一个新的词“AECQ”也出现在大家面前。那么，什么是AECQ呢？今天，就和大家一起聊聊AECQ。
4 T2 _& y. p2 F: B3 T- K+ `$ t5 i1 V' A; p( T9 |0 U- }! |+ r. p
AEC-Q 认证的概念6 o# F* J% |3 U( I
1 U5 I" ]/ Y7 M" y, lAEC 是“Automotive Electronics Council：汽车电子协会”的简称。克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，是主要汽车制造商与美国的主要部件制造商汇聚一起成立的、以车载电子部件的可靠性以及认定标准的规格化为目的的团体，AEC建立了质量控制的标准。[AEC-Q100]是针对于集成电路应力测试认证的失效机理针对于分立器件的标准为[AEC-Q101]，针对于LED的标准为[AEC-Q102]，针对于被动元件设计为[AEC-Q200] 。
; E: V% v* Y+ L1 Z/ @! v/ h! S
; G% I: d( `' ~AEC-Q 认证的重要性
8 w) r/ \% V: a; K" {# S( {1 P, e$ A1 o! P
AEC建立了质量控制的标准，同时，由于符合AEC规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，也促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，为汽车零件市场的快速成长打下基础。
6 v: W' O' N6 X) R/ ^2 C6 D5 \8 Y* ~: o
AEC目前主要是针对车载应用，汽车零部件，汽车车载电子实施标准规范，建立质量管理控制标准，提高车载电子的稳定性和标准化。AEC对汽车车载电子零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。
' _0 r7 e7 I& d6 }2 M. ]' ~3 _# Y& c3 Q# _6 t
今天华碧实验室先说说AEC-Q100的相关内容。, p0 U9 F7 {: L1 f
7 S' `, H7 ~- {AEC-Q100于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。
" a7 `" H: b5 d1 H+ r: t7 g% H) ]" p& R3 i
AEC-Q100详细规定了一系列的测试，同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组：测试群组A(环境压力加速测试，Accelerated Environment Stress)、测试群组B(使用寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)、测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)、测试群组D(芯片晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)、测试群组E(电气特性确认测试，Electrical Verification)、测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)，和测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)。+ [5 d1 W3 V& `- F: B9 X1 f# e3 i
% ~% r, f0 D; N g' x
此外，为了达到汽车电子产品对工作温度、耐久性与可靠度的高标准要求，组件供货商必须采用更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计方法。因此，AEC-Q100又分为不同的产品等级，其中第一级标准的工作温度范围在-40℃至125℃之间；最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃至150℃ 。
' d* z9 D3 I9 l* O9 P$ T% F* F J) M0 V2 f' i. t
AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准（不包含测试方法）
( O* k i2 y* Z5 J! g* q8 s
$ W( l1 z# W$ cAEC-Q100-001 邦线切应力测试6 G) u0 ~8 l7 O0 e1 Q/ [! F" g+ U
8 O+ ]7 {+ ^1 }! t5 ^! S
AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试" |0 ]$ h$ a& g5 ]+ r
8 B# v) s2 W1 F. j$ @2 i
AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试
- s+ L( ]- f& K5 N- c
- j; [( s: k2 r: a* JAEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试- [+ j. t1 c8 w. U0 n
3 s( |" V* a; E- s- PAEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试
0 e$ z0 ]: y9 b+ U8 T4 ^) w! k
$ A O; m/ y/ fAEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试
, e8 ]) Q! N0 k! t- m( l5 ]* J. l- V' I7 Z2 r; V; D7 b' ?" z
AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级) Z6 u- W" I; p$ t. U' D. d
' I/ ]3 u* J5 a- ^8 @+ E& XAEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）
+ H" A/ ~, u$ ~4 J( }1 \0 \# b0 f Q
AEC-Q100-009 电分配的评估. n; J: G# ~4 ? y1 Q# Y
( _- P; ~' }4 Q" L+ hAEC-Q100-010 锡球剪切测试- v0 I" b" u# C) ?4 p/ p
% Z3 {6 e: Z, r2 K. ~7 tAEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试
8 X% c' U: q: L& v8 S
- J+ A1 i) s1 L; }" T( u# mAEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述" J3 x3 _7 ]9 N) f
' B# B4 \" {/ D8 W+ z( o+ E8 {
AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准（包含测试方法）# C$ K& S# |; f# e [* S* [
5 j q* R- k lAEC - Q101-001 - Rev-A: 人体模式静电放电测试
- A( O6 Q# }) W
, B) |% X6 Y& gAEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试( }1 a, V% g) w# N. b
5 |" q$ w# c' k F- @- u/ VAEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应力测试
; G2 M0 W) D9 C" G- R* m" f! M- ~, N W2 n. H7 u, c
AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试方法
5 U4 _8 p4 z# L! q8 ?( N8 I
4 v! O% u6 [/ s) [5 |4 AAEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试
! T2 c: C( o" G% e4 p, Q- _
% ^& i `! u( I$ tAEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述
`" g5 e: r1 O- V' l& i9 p, L: B5 C
: f7 g |1 l/ r3 u# A& M2 V$ G |
|
/1 
发表于 2021-9-29 10:00
收藏
淘帖
支持！
反对！