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本帖最后由 stupid 于 2011-7-8 11:21 编辑 8 l( W. M/ n" ~2 I2 f- y
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/ B- l3 @& N+ v4 L% _![]() 科技,始终在创新与突破中腾飞,获得前进的动力,您更需要更专业的技术支持,更全面的解决方案,更深入的合作方式。* h5 c6 Q* B7 i7 u
安捷伦科技,
+ h2 ~- D, ^- x( [, B2 G/ ?与时俱进,与您携手共赢。% `2 Z. ?8 u& [( C& M9 U
一年一度的安捷伦数字测量峰会,将会带给你全新的科技体验与知识交流机会。 在本次会议中,您将会亲临现场见证安捷伦科技70 年的技术飞跃与烁世贡献。从“ 测量技术突破” 的介绍,到硬探头、软探头的选择和补偿技术;从最新的Thunderbolt 到大家熟悉的USB3.0 ;从移动便携式设备到服务器、台式机和其它嵌入式设备的测量,从HDMI 到MHL, 到MIPI ;从并行总线DDR 到SD UHS ,从SATA/SAS 到PCI-E ;从高带宽实时示波器(前置放大器芯片硬件带宽高达32GHz 的)、500MHz 及其以下带宽的低中端示波器( 起价US$1300, 安捷伦自主研发,集“ 示波器、函数发生器、逻辑分析仪、协议分析仪” 于一体的) 、逻辑分析仪(状态分析速度高达4GHz 的),到任意波形发生器(SFDR 高达80 dBc 的14 比特) 等创新产品;从信号产生到信号分析,从物理层到协议层,从接收端到发射端…… 您将有机会经历一次遨游科技迷宫一样的高集成度科技与测试专业课题研讨大会。 “2011 安捷伦数字测量峰会” 不仅是集中介绍最新的数字测量技术和方案,安捷伦还邀请业界不同领域的领先者展示他们的技术和方案: ·
9 ?. A: y3 ^. ]. Z测量业界的尖端科技:重点介绍当今主流与尖端技术,及其未来可能的发展趋势,植根于安捷伦70年的精深技术与科研传统,梳理出数字测量未来技术和产品方向。
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高速数字最新发展:重点介绍安捷伦在USB3.0,PCI-E 3.0 , Thunderbolt, SATA/SAS等领域的全面的测试解决方案。& V, \* Q8 l5 H$ m
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移动设备最新技术:移动便携式设备为实现体积小、功耗小、速度快,已经或正要采用新的技术,包括MIPI、MHL、LPDDR、SD UHS等,安捷伦作为全球最大测量公司,提供全面的测试方案。
: P z4 v! A. A l 除此之外,大会也将设立更全面的现场展示环节,以及力邀业界权威讲师与安捷伦科技全球范围各应用领域内的资深技术专家、经验丰富工程师共同为您现场讲解与演讲。 5 M0 l7 ]% J, g2 [% ~5 R7 {! x
日程安排 & ?) g9 @% k3 e0 ~
| 时间 r: ]6 N* H$ m6 F* X" t4 ]
| 内容 5 ^$ _6 E9 S }! z; U) S* S
| 08:30–08:45 0 e5 X4 C! O I% j# d
| 来宾签到 8 O7 O% e- W' P1 l/ @5 s4 L
| 08:45–09:00 + A- {8 h. L- ?
| 开幕致辞 8 k. k- V, N0 z! q* b; E
| 09:00–09:30 ' q8 Z) z& N5 W9 \( o! V
| 2011年数字测试领域技术突破,从信号产生到信号分析
" f9 T: J H% U$ \0 p | 09:30–10:15 ) Y/ T, i$ }6 r+ w- F
| 高速数字测试探头的选择及电缆损耗补偿技术
0 c# \' H1 D, d: A% e | 10:15–10:45 ) l. n* {( J5 \3 w7 z
| 参观展台
! t9 G& ?4 E$ e }7 i! d/ q | 10:45–11:30
* I2 y3 d+ s" k | USB3.0测试方案以及Thunderbolt带来的影响 / \/ i/ L+ k& ^) U+ H% t; l' P) m
| 11:30–12:00 ) K( u( ]4 J% U6 ]) B( m
| MHL 技术及其测试方案
8 a: h2 e. b; O | 12:00–13:00
: J/ I( ]' [. r | 午餐 & 参观展台
; n: n; z" B' c( ^; J | 13:00–13:45 # i5 E: j( B, @" c& Q v
| MIPI的测试测量技术 3 }) X e, ~+ Z9 K% }1 {
| 13:45–14:30 8 t5 D' y" \# G8 W' n
| SATA 和 SAS 测试方案, 涵盖 1.5Gbps 到 12Gbps速率
1 g% n! T6 Q! Q% P1 E | 14:30–15:00
@' D; \ b4 X. ]' x& V0 M- h. G | 参观展台 $ x6 B8 q% U( `' [
| 15:00–15:45 1 B; K7 K! ^* I) o9 N0 C' ?
| PCI-Express Gen III 测试挑战及方案
3 s3 s! B, W3 m( P | 15:45–16:30
( B0 a& {$ J* D3 p1 y | 测试移动设备中的LPDDR2 和 SD UHS-I 卡
6 m- a; I2 v& x/ F5 \ | 16:30–16:45
6 h7 |) C8 H0 W4 y8 k1 z | 总结&幸运抽奖 3 @0 [: h- o0 b# s
| * [2 a- Y. m; j7 l0 D* X" n5 x
登记注册的方法:
* k3 a- Z4 u/ D* j/ J; R7 b0 b | ·$ t1 N, z1 d+ i* N* J' Y ?& e
请将报名表传真至:800-820-2816 或 010-64390278 ·. A% _$ i) \ g
请致电:800-810-0189,请说明活动编码为11_EV_012303
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下列人士一定要参加此次盛会!
5 F" N; H9 I$ t4 l | 有线通信电路和系统设计工程师、无线宽带通信技术研发者、项目经理、服务提供商、芯片组设计师、认证研究人员,嵌入式系统设计等数字电路开发者,电源等消费类电子生产和研发工程师、测试工程师,以及当前和未来从事热门电子测试与测量各项应用的工程师与管理团队等。 | * h5 R8 _' g* s0 A: x# A
日期和地点:
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; N8 a, s8 E$ s V N2011年7月19日
& f$ \1 K( X |0 [/ x" z- q/ f1 x深圳圣廷苑酒店$ f+ ^5 _9 F7 q" h# R4 p& Y1 b
地址:深圳市华强北路4002号3 r0 w4 l) y$ q- |
电话:0755-82078888
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( P& v u. G4 Z7 \3 p. O内容摘要 1-2011年数字测试测量领域技术突破,从信号产生到信号分析 2010年数字测试领域出現的革命性技术是磷化铟半导体工艺实现32GHz带宽的实时示波器前置放大器芯片,在业界实现工艺上零的突破,和性能的新标杆;2011年的新技术则不仅体现在示波器领域,逻辑分析仪和任意波形发生器领域都有重大突破,本专题简单介绍这些新的技术突破及其对未来测试可能产生的影响。 4 K0 P$ {" ~( b0 j4 H& p
2-高速数字测试探头的选择及电缆损耗补偿技术 选择正确的探头以得到正确的测试结果,快速了解电缆或探头真正带宽及其实际频响曲线,并对其作出相应修正补偿愈来愈引起工程师的重视。本专题帮助大家理解在射频和微波段不同探头对测试结果的影响,以及不借助网络分析仪或TDR 如何实现对电缆和探头的频响修正补偿。 * H- }( [) Q4 X4 [6 G0 i3 B9 P
3-USB3.0测试方案以及Thunderbolt带来的影响 USB3.0的主机和终端设备已经在市场出現,苹果公司也已经推出带有Thunderbolt接口的新电脑,本专题帮助工程师了解USB3.0发射和接收端测试最新状态,电缆和连接头的测试,分享安捷伦在历届插拔大会上碰到的设计缺陷及问题,以及Thunderbolt可能带来的影响。 A+ g! R7 l* \
4-MHL 技术及其测试方案 HDMI 在电视和电脑中的应用日渐普遍,但在手机等便携式终端领域还没有开始,又遇到了MHL技术,MHL是利用多数手机上已经普遍采用的uUSB接口,开发出來的多媒体接口技术,以满足手机等便携式终端直接向电视传输视频流的需求,作为HDMI测试认证实验室的主要供应商,安捷伦推出MHL测试方案,帮助大家迈进新的领域。
) X# H3 G* t* |5 f. I, e) Q' @5-MIPI的测试测量技术 MIPI 技术在移动计算和手机领域最近得到快速发展,这是因为这个标准在实现高性能的同时,也优化了电源管理,加速了移动设备的开发,象其它高速串行总线一样,- Q( ^; [7 W! q( c% l; w7 B, V- q
物理层、链路协议层到应用层的性能是实现互操作互兼容的关键。安捷伦作为 MIPI 协会的主要贡献成员之一,提供物理层和协议层的测试方案,涵盖MIPI D-PHY ,MIPI-M Phy, MIPI Dig RF。. H3 W; G* S3 z" ^( ?
本专题讨论MIPI 接收端、发射端的物理层及协议层测试。 ( r) S0 x3 s: R6 J# K6 f5 @* j" d
6-SATA 和 SAS 测试方案, 涵盖 1.5Gbps 到 12Gbps速率 Serial ATA 和SAS国际标准组织都已经宣布支持 6 Gbps数据传输,
$ j! W6 ^: B+ N7 J3 q1 F% d随着固态存储器件(SSD)的出現,12 Gbps速率的技术也正在开发中,这个速率对测量仪器本身的本底噪声和测量抖动底提出前所未有的要求,本专题讨论验证该技术的挑战和方案。
, [$ N! ?! ?0 U7 @. |0 _4 {3 n7-PCI-Express Gen III 测试挑战及方案 PCI Express® 技术在视频和图形设计中的应用逐渐普及,从最初的台式电脑、服务器,到嵌入式系统,越来越高的速率带来信号完整性问题,诸如反射和串扰,引发信号质量下降及时序问题,同时较高的 PLL 带宽, 更复杂的去嵌入, scrambling ( 3.0版) 给设计者带来更大的挑战,允许的抖动范围也越来越小,应用环境的多样化,使得协议层也追加新功能,诸如 I/O virtualization,动态链接宽度和高级错误报告,这些都增加设计和互操作性测试难度,安捷伦提供物理层、协议层和功能测试的全面测试方案.
* j, p Q! m3 R7 T& F5 E8-选择正确的探头进行超高速数字测试 随着高速数字信号的测试速率逐步攀高,数字信号的测试中越来越多的应用到射频乃至微波频段的测试技术。在6GHz到30GHz的频段上,每一个示波器探头都是一段微波传输线。选择正确的探头以得到正确的测试结果因而变得越来越重要并充满挑战。本专题将帮助使用高速示波器的工程师们学会选择示波器探头并正确理解在射频和微波频段不同探头对测试结果的影响。 ; | m& U9 j. q; k5 l2 T
9-测试移动设备中的LPDDR2 和 SD UHS-I 卡 移动设备及其相关的技术,越来越成为人们生活中的热门话题之一,工程师面临改进性能、增加存储密度、降低功耗的挑战,这使得原本的DDR2逐渐转向低功耗 LPDDR2 技术。 SD 卡技术的速度也越来越块,数据存储量也越来越大,对应的 UHS-I 技术已经诞生,本专题讨论移动设备中 LPDDR2 和SD UHS-I技术的示波器验证测试方案。 0 f. q# B7 q! d$ O8 D3 N
参观展台与答题: 本次大会,安捷伦科技在主会场外的展示区上设置了多个主题鲜明、内容丰富、技术先进的现场展示台。每个展台都有安捷伦科技的资深工程师为您现场讲解与介绍。您也可以与他们详细的探讨与询问有关该展台相关的技术问题与产品信息。 更重要的是,每个展台负责人都会帮您回答有关该展台的一道问题,该问题将会出现在您领取到的答题卡上。只有每个正确回答完毕所有问题的与会者才有机会参与最后的幸运抽奖赢取奖品。 希望大家利用参观现场演示台的机会,多与安捷伦的工程师进行交流,赢得属于您的那一份幸运。 幸运抽奖: 本年度的2011安捷伦测试大会为每位与会者都准备了惊喜奖品和丰厚礼物。 除了为每位参会者准备的精美实用的安捷伦公司纪念品之外,大会当天抽奖的奖品十分丰富。 抽奖规则介绍: · F; U1 a5 N: w; E' M! {
本次会议中将抽出一等奖1名,二等奖1名,三等奖2名
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每位参会者将会于注册签到时领取到一张答题卡。请参会者将答题卡上包含答案的一联卡片剪下,打完题后,投入抽奖箱;另一联留在手中,用于确认中奖。9 [! g. P$ Y; A
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; G$ [4 s: f% R" {每位参会者需凭借填写完整、正确的答题卡片才能参与抽奖。抽奖时,如答题卡上的问题回答不正确或不完整的,不能得奖。
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0 S C5 V- @& b4 J! h/ Y每位参会者只限领一张答题卡,随会议资料一同发放,不再补发。 |