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cypress Excelon-Ultra CY15B104QSN采用了高级铁电工艺的高性能4Mbit非易失性存储器。铁电随机存取存储器(即FRAM)与RAM相同,是执行读和写操作的易失性存储器。它提供151年的可靠数据保留时间,并解决了由串行闪存和其他非易失性存储器造成的复杂性、开销和系统级可靠性的问题。
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与串行闪存不同的是,CY15B104QSN以总线速度执行写操作。并且不引起写操作的延迟。在每个字节成功传输到器件后,数据立即被写入到存储器阵列内。这时可以开始执行下一个总线周期而不需要轮询数据。与其他非易失性存储器相比,该产品提供了更多的擦写次数。CY15B104QSN能够提供1014次的读/写周期,或支持比EEPROM多1亿次的写周期。由于具有这些特性,因此CY15B104QSN非常适用于需要频繁或快速写操作的非易失性存储器应用。示例的范围包括从数据收集(其中写周期数量是非常重要的)到满足工业级控制(其中串行Flash的较长写时间会使数据丢失)。
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CY15B104QSN将4Mbit FRAM与高速度四线SPI(QPI)SDR和DDR接口相结合,从而增强铁电存储器技术的非易失性写入功能。该器件包含一个只读的器件ID和唯一ID特性,通过它们,SPI总线主设备可以确定器件的制造商、产品容量、产品版本和唯一ID。该器件包含一个唯一只读序列号,可用来识别某个电路板或系统。/ l& T. R" |% }$ g+ I
7 q( f3 p- L7 Y/ ^ X该器件支持片上ECC逻辑,可以在每个8字节数据单元内检测和纠正单比特错误。该器件还包含在8字节数据单元中提供双比特错误报告的扩展功能。CY15B104QSN还支持循环冗余校验(CRC),可用来校验存储器阵列中所存储数据的完整性。代理商英尚微支持提供产品技术支持。: ?4 u0 b, j/ \) K
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性能) T' R( L8 I8 X. y# `% Z; `
■4Mbit铁电性随机存取存储器(FRAM)的逻辑组织方式为512Kx8
. c0 b. O" d: E❐提供了一百万亿次(1014)的读/写周期,几乎为无限次数的耐久性。
3 a: C) j( x8 E# B3 k❐151年数据保留时间1 u% C: p4 ^( n" G/ n* a
❐NoDelay™写操作8 r$ ]8 W- v+ ?; U5 n
❐高级高可靠性的铁电工艺9 t6 ]2 l7 w8 ]3 _# H" ]1 A& n
■单线和多线I/O串行外设接口(SPI)
& w! b. h7 o% J6 o/ T❐串行总线接口SPI协议( l" b% ?: _7 O; n, N
❐支持SPI模式0(0,0)和模式3(1,1),适用于所有SDR模式转换
4 F: O E: f1 E0 P5 E) y$ D& n5 J❐支持SPI模式0(0,0),适用于所有DDR模式转换8 V6 ^# d4 ^$ ?, ?
❐扩展型I/OSPI协议
" w/ H4 K2 C0 ]1 M❐双线SPI(DPI)协议
) d _9 P3 m/ B( F9 X: |2 a& k& ~❐四线SPI(QPI)协议
' g: j3 [8 F& V, m■SPI时钟频率
" @/ G. L8 S* w❐最高108MHz频率SPI的单倍数据速率(SDR)
3 q; Q) x) r/ ~# }+ S* W❐最高54MHz频率SPI的双倍数据速率(DDR)' T- p% {; l( N: R& c
■芯片内执行(XIP)模式下的存储器读/写操作 c6 \' ^" g4 V, M# A/ _! d
■写入保护,数据安全性,数据完整性) u, k/ X# i) q- O; L" v
■使用写保护(WP)引脚提供硬件保护
6 ~7 y* u0 b" g1 H0 j* F) S■软件模块保护
$ g# L- ^+ x* S2 J M■提高数据完整性的纠错码(ECC)和循环冗余校验(CRC)
; o, R4 T& ?4 F9 e$ \7 o k❐检测并纠正但比特错误的ECC。在发生双比特错误时,它将不纠正错误,但将通过ECC状态寄存器进行错误报告- S% l7 f/ U3 t, @
❐CRC将检测原始数据的任意意外更改
. e9 p$ X o1 u+ ?( u■扩展的电子签名
9 ]8 H- `0 H! L6 [; F❐器件ID包含制造商ID和产品ID; |. @- R9 j o0 l2 l6 Y
❐唯一ID
8 f5 j4 O/ G* v- E% g, e❐用户可编程序列号。; p+ \- o' T9 v7 g$ H$ I
■专用256字节特殊扇区FRAM. ^8 \7 n1 H) r* Z' E
❐专用特殊扇区写和读操作; H+ d. W# z8 {0 m' ~: j7 B
❐内容可以在最多3个标准回流焊周期内保持不变$ @3 f& i: z( b Z4 q9 t
■高速度,低功耗0 g f5 h6 v7 A, r! `; W
❐SPISDR频率为108MHz时,有效电流为10mA(典型值)6 `2 P2 j9 e9 B5 |1 e# F- ^/ O/ g
❐QSPISDR频率为108MHz并且QSPIDDR频率为54MHz时,有效电流为16mA(典型值)
# C8 W% z2 o" |8 E/ K$ D5 `❐待机电流为110μA(典型值)) F9 u( T7 t6 {2 |
❐深度掉电模式电流为0.80μA(典型值)
8 J* b8 D k3 m. F5 Z& |❐休眠模式电流为0.1μA(典型值)
2 U! j# K1 S+ {, E■低电压操作:
: O. G2 |# `( B❐CY15B104QSN:VDD=1.8V到3.6V: |# E% s* O; f# u7 |
■工作温度范围:–40℃到+85℃8 w5 J7 I* N7 T
■封装7 J- d2 P& f$ t' M/ h6 j2 {% a5 `
❐8pin小型塑封集成电路(SOIC)封装
' i2 a5 o2 Y, A# Z❐8pin网格阵列四方扁平无引线(GQFN)封装
' h5 U" f8 S( V. \7 i; A■符合有害物质限制标准(RoHS)% o$ f7 D0 a& \ @
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CY15B104QSN是一个串行FRAM存储器。该存储器阵列被逻辑组织为 524,288 ×8 位。通过使用工业标准的串行外设接口(SPI)总线可以访问该存储器阵列。FRAM 的功能操作与单线SPI EEPROM或单线/双线/四线SPI闪存的功能操作相同。CY15B104QSN与具有相同引脚分布的串行闪存之间的主要区别在于FRAM具有更好的写性能、高的耐久性和较低的功耗。
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