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随着生产和科学技术的发展,越来越多的复合材料广泛应用于我们的生活。因为复合材料热稳定性好、比强度/比刚度高、抗疲劳性能好等诸多优点,故 其广泛应用于航空航天、汽车工业、制造业及医学等领域,而技术的全新要求和产品的高要求化,但客户对高要求产品及工艺理解不一,于是复合材料断裂、开裂、 爆板分层、腐蚀等之类失效频繁出现,常引起供应商与用户间的责任纠纷,所以导致了严重的经济损失。目前进而越来越多的企业、单位对于复合材料失效分析有了一个全面的认识,因为通过失效分析手段,可以查找产品失效的根本原因及机理,从而提高产品质量、工艺改进及责任仲裁等方面。
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2 ?6 F1 b3 ~) T6 H复合材料失效分析适用企业& Q4 E' U3 {* t3 t' m
' E- [5 B" w4 W& P7 y2 ?2 _& ?复合材料生产厂商:通过失效分析,查找产品失效产生可能原因的设计、生产、工艺、储存、运输等阶段,深究产品失效机理,为提升产品良率及优化生产工艺方面提供理论依据。) X) x# q& v* J6 |" c" e
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经销商或代理商:及时为其来料品质进行有效管控,为产品品质责任进行公正界定提供依据。
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, _$ k- x3 K. C" z% N% n6 `/ Y5 ^整机用户:跟进并对产品工艺及可靠性提供改进意见,提升产品良率及核心竞争力。
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复合材料失效分析目标
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1)通过失效分析可及时让生产商及经销商等了解产品状况,并对其产品失效提供有效预防政策;/ s N4 A v: U! A3 `% S
( L! [% D6 N- v9 A0 C0 q4 |* p
2)提供产品及工艺改进意见,提升产品良率及产品竞争力;6 R/ y. u$ _8 Y
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3)明确引起复合材料产品失效的责任方,为司法仲裁提供依据。
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f$ U, j$ w1 N+ S d3 X# C复合材料常见失效模式" S" R; y1 B8 }4 ]9 n1 d2 r: W& u
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分层、开裂、腐蚀、起泡、涂/镀层脱落、变色失效等0 r- Y& m: n" S) ?/ W
l7 B. }3 y' T4 E7 r$ iPCB界面分层失效 $ C5 c6 Y' X5 _9 }1 }
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FPC开路失效/ x9 F* b( t8 L# u$ V
% I7 y5 f3 o2 G' @2 |2 R% o0 ~PCB界面失效- w K' `, M# D2 g" m! J
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FPC开路失效$ {% d7 b. e- h
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! ]/ H3 n; T1 m( m# K. W复合材料常用失效分析方法
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: v9 N' d# x* k: ]1、无损检测:' m: c) D3 ` R0 W* U, }& ?6 K
1 {& B% m: ]; e5 f7 c' V* X6 MX-Ray透视检查, @8 Q, A3 \! }% f! w3 d+ e
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三维CT检查1 U1 P/ Y) z) U- o9 W
7 C2 y# r7 E- @C-SAM检查
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! Z: i0 f i2 F9 e* L2 }) x2 M
2、材料成分分析方面:
2 r7 @' ]. s. S6 L2 J) r7 o' ] C1 [- F7 q, L
傅立叶变换显微红外光谱分析(FTIR)0 \3 r% _& a) V
9 `6 r8 O0 X: @* J4 C- E
显微共焦拉曼光谱仪(Raman)& N5 J1 n- O$ v2 C
; t! E; Q) U0 ]* U, s% y3 |扫描电镜及能谱分析(SEM/EDS); c- I0 a3 n+ a3 E r! h
; \3 k& x! G. u# e/ ?
X射线荧光光谱分析(XRF)/ _4 o1 e- V9 z( b0 ^3 X4 i
# M2 q7 `8 D7 e+ w9 }气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)9 ?( [$ T: j, ?; z( g* b
. V" q, ]$ R3 m i) v
裂解气相色谱-质谱联用(PGC-MS)
. x3 Y$ |0 R5 a/ [/ x
0 S4 T7 j2 i% d, y$ f. j' G核磁共振分析(NMR)
& Z4 q' @3 i+ `' G4 Y
) G9 B! D8 Q9 p4 E: O3 Q+ o/ S0 Q 俄歇电子能谱分析(AES)5 z: ^ p4 x7 a4 l3 T( ], y4 {" H1 B& h
4 b8 @8 J* y" F4 J0 B4 U, [
X射线光电子能谱分析(XPS)
" @5 L. l0 y7 ^& [. B/ x7 ^
7 t/ H. U/ j+ J" LX射线衍射仪(XRD)4 j+ i3 D# }1 @) M6 v
2 Y) I8 }- U% W8 i1 N8 z6 w
飞行时间二次离子质谱分析(TOF-SIMS)
. ]+ Q) N5 c- y- P: B1 F$ u
g$ Q' Y$ q( d i b: @4 b
3 I7 K; W T. B7 H! H" @3 |) I; w! \# X6 }5 _
3、材料热分析方面:
& z' ~3 R K3 J8 c2 @
0 q/ ]2 ? s# M4 Q" ], j差示扫描量热法(DSC)* M2 I* T$ ]4 a+ n
" c! [. x/ [/ x& j4 C5 E
热重分析(TGA)
/ x5 Z/ M. c6 |) _; M9 ]' p7 X& o" V( X7 k+ Q
热机械分析(TMA)
; I4 V# R5 g7 t, I, ^8 x0 \2 T2 F5 ~/ `4 A3 b
动态热机械分析(DMA) 3 F$ k) A2 S( {
8 i3 T* w& Y; u) L4 c 8 q8 \' [" o% X
8 x# b4 \3 x4 o& B/ D" i9 P6 x" Y4、材料电性能方面:# i& ]1 S+ K% g/ R; R
x# c% Q8 v( o- R1 Z
击穿电压、耐电压、介电常数、电迁移等。2 M9 N3 s2 h1 @
3 v+ ?/ o8 Q3 b, L \) ^. c2 D
& v$ K/ [: ^( U% _$ A( s" L0 p3 h/ L) W$ |) v- ?
5、破坏性试验方面:% |0 U& a: j" ]; i
! \5 v, n ]: W0 Q) [' y1 ^1 g" y! T染色及渗透检测3 }3 P1 N0 D @+ U/ Z) o' u
: T9 V$ @! \% Y/ [: L& w7 i1 t - ]$ ?6 T0 J% F! ^4 N
' [& a2 C( G8 [) W" t2 D0 }6、切片分析:
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# W0 Y" [9 J# \# a8 Z1 k2 Q F3 N! X# [金相切片、聚焦离子束(FIB)制样、离子研磨(CP)制样。 , M- B# |+ s# O3 d D
% F+ `% @( h# P' w) F / Y* r" |3 m6 h# n( H2 L
/ I; |) Y0 K9 E' b& G% F7、材料物理性能测试:拉伸强度、弯曲强度等9 a8 {# Y7 `4 s' G" z& e
8 c7 w9 ^/ `0 O' \) ~. ?; w; v
8 X0 J: p/ J# ?" i% e6 D: X D
6 L; M, Q: ^! Y4 b8、失效复现/验证 |
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