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PCB可靠性问题失效分析思路

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发表于 2021-6-22 13:48 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此过程中,任何一个环节稍有疏忽,都有可能造成“冤假错案”。
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可靠性问题的一般分析思路
9 P3 D5 {$ `3 z8 }" R) v/ q5 W# Y! [背景信息收集
/ K/ g+ Q6 A' |: F; c  {/ l! a0 T8 w1 m' {, y/ k2 |
背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不仅限于:& B' W1 |* Q9 h* Z$ j
5 k: V4 v4 W, h" d9 c7 z
) ?; m4 Y* |( T$ s6 j
3 a' P1 l+ N$ X9 L
(1)失效范围:失效批次信息和对应的失效率; T4 t  e/ q+ Z$ \+ ]' y5 p

. L, S' B2 c. o! s1 L# K) X①若是大批量生产中的单批次出问题,或者失效率较低时,那么工艺控制异常的可能性更大;
" f8 G) j' H* M& N/ H4 V# P/ C: j( ~  X# V- U6 X
②若是首批/多批次均有问题,或者失效率较高时,则不可排除材料和设计因素的影响;- ]! y2 f* B& ]3 Q" ?

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(2)失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息;) u5 P6 b& b5 F

: U2 R! @5 `: Q
6 Q3 M/ g; b# x8 o) }0 D6 L3 U2 n( W# h& D) H4 B1 ~4 y; @: H
(3)失效情境:PCB或PCBA失效时的具体信息,有的是在前处理比如说焊接组装过程中就已失效,比如可焊性不良、分层等;有的则是在后续的老化、测试甚至使用过程中失效,比如CAF、ECM、烧板等;需详细了解失效过程和相关参数;
1 R& W4 X) X! x3 S; Z" r% J* R, u) }6 ^( p, \: H4 j
3 S- S# i( z% T8 B: k2 U* Q

$ i8 E, K7 V- g3 ~7 g失效PCB/PCBA分析; O* C  g/ I5 X5 t

5 b3 J  W' Y/ L7 {/ s
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6 r) E: I6 w$ K$ ^+ X. ?$ b一般来说失效品的数量是有限的,甚至仅有一块,因此对于失效品的分析一定要遵循由外到内,由非破坏到破坏的逐层分析原则,切忌过早破坏失效现场:
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* Q, ^  K! T. u. h0 e! F/ I
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(1)外观观察' I- b! [8 B0 f8 i

1 r, n  a- T6 H2 v) i$ e. \外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。$ i& U) R. b3 O

: v2 @- X, M9 g# }: A$ P+ E& ]1 z8 J& ^  ?( @2 d& ^) A1 b
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(2)深入无损分析1 D- o; Y* X7 Q7 l7 A  y0 S

  S+ x; T& a& F( ~4 s7 h' S4 G) o$ V有些失效单单采用外观观察,不能收集到足够的失效信息,甚至连失效点都找不到,比如分层、虚焊和内开等,这时候需借助其他无损分析手段进行进一步的信息收集,包括超声波探伤、3D X-RAY、红外热成像、短路定位探测等。
, _- V! ]3 Z6 v/ B1 F
7 e& a' a" x; x# t2 ^" ~# B% H! [在外观观察和无损分析阶段,需注意不同失效品之间的共性或异性特征,对后续的失效判断有一定借鉴意义。在无损分析阶段收集到足够的信息后,就可以开始针对性的破坏分析了。
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3 D9 ^' ~/ ~( W  V; C! f) x(3)破坏分析6 m& _1 m4 I" p( \1 P! q; j

* T8 X" ^# q) _; U# l  ~% q失效品的破坏分析是不可少的,且是最关键的一步,往往决定着失效分析的成败。破坏分析的方法很多,常见的如扫描电镜&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本节不作赘述。在此阶段,失效分析方法固然重要,但更重要的是对缺陷问题的洞察力和判断力,并对失效模式和失效机理有正确清楚的认识,方可找到真正的失效原因。; i5 P$ H( g6 o" E
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裸板PCB分析
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当失效率很高时,对于裸板PCB的分析是有必要的,可作为失效原因分析的补充。当失效品分析阶段得到的失效原因是裸板PCB的某项缺陷导致了进一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同样的缺陷时,经过与失效品相同的处理流程后,应体现出与失效品相同的失效模式。若没有复现出相同的失效模式,那只能说明失效品的原因分析是错误的,至少是不全面的。! Y) W6 X. f0 C; q7 Y( [

; ~# z: c, Z# e复现试验
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  M3 r8 N3 B7 e7 G9 d- l当失效率很低且无法从裸板PCB分析中得到帮助时,有必要对PCB缺陷进行复现并进一步复现失效品的失效模式,使得失效分析形成闭环。; W; _9 L# s( z) A
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在面临着PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析对于设计优化、工艺改善、材料选型提供了重要的第一手信息,是可靠性增长的起点。6 C/ h5 E6 A0 x6 @& i. p

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发表于 2021-6-22 14:17 | 只看该作者
背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息。
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    发表于 2021-6-22 14:25 | 只看该作者
    失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息

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    4#
    发表于 2021-6-22 14:27 | 只看该作者
    外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。
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