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PCB可靠性问题失效分析思路

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发表于 2021-6-22 13:48 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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PCB在实际可靠性问题失效分析中,同一种失效模式,其失效机理可能是复杂多样的,因此就如同查案一样,需要正确的分析思路、缜密的逻辑思维和多样化的分析手段,方能找到真正的失效原因。在此过程中,任何一个环节稍有疏忽,都有可能造成“冤假错案”。, x4 X6 _; {5 T: m; A

4 ]) S( h* @% q; k& k可靠性问题的一般分析思路* E4 K: v- j2 m2 ], V2 Z2 m; c
背景信息收集% g% a' C4 f3 b' o3 @

+ k* }8 i5 d) ^. w: a3 ~背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息,通常包括但不仅限于:& ~3 c# C$ ]( V" @" g5 Y1 f, @

7 k* V" A3 a- ?- d4 t & v  h  r# b  L. _- B* W, ?5 {

5 e) z( ?* Z$ |2 K( A4 S3 l(1)失效范围:失效批次信息和对应的失效率
$ N3 J. \- ^; V; h
! y; B$ i1 I8 _, d①若是大批量生产中的单批次出问题,或者失效率较低时,那么工艺控制异常的可能性更大;+ R. L+ p9 Z' d' w

2 O' ?2 q5 v( \1 o- `②若是首批/多批次均有问题,或者失效率较高时,则不可排除材料和设计因素的影响;+ `* B* c( v- \: i" a: S
9 m7 B( `6 K  `6 T6 G
. ~6 s) @: _% A  L" x

; \9 a, }/ S& J" ^; b  \(2)失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息;/ o* a4 G) K8 l. b% s8 r
- G; F! E5 `" U3 j6 G' P  T7 G

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(3)失效情境:PCB或PCBA失效时的具体信息,有的是在前处理比如说焊接组装过程中就已失效,比如可焊性不良、分层等;有的则是在后续的老化、测试甚至使用过程中失效,比如CAF、ECM、烧板等;需详细了解失效过程和相关参数;4 |( r4 O# j7 J# d. t: \& n
6 ~) C; a( m) k1 y- \8 p+ H* y

$ R8 K2 M0 P! W* a$ k# u
+ w8 s1 S# d. Y; z: n7 s! Q/ Q' y8 r失效PCB/PCBA分析1 K6 Z/ S4 Z& S% l  I. n
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' ?/ @5 f$ S7 J; H0 K1 c0 J. n8 K" E: i- x& @
一般来说失效品的数量是有限的,甚至仅有一块,因此对于失效品的分析一定要遵循由外到内,由非破坏到破坏的逐层分析原则,切忌过早破坏失效现场:
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5 W" ]3 J* c9 I" L(1)外观观察
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7 d3 ?% E# Y$ }0 z外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。
. D3 s9 `: g2 k/ _1 K- k+ @) y5 A+ J: S8 G! a! z
1 Q& H/ y9 d" J; Y7 i: B

# _0 F* j7 G1 J& {" c: i(2)深入无损分析
) B* J% N# Y, {* u( o$ f" h. V- x8 g& C$ C! ^, ]' C' Z' V: D
有些失效单单采用外观观察,不能收集到足够的失效信息,甚至连失效点都找不到,比如分层、虚焊和内开等,这时候需借助其他无损分析手段进行进一步的信息收集,包括超声波探伤、3D X-RAY、红外热成像、短路定位探测等。# {: w2 y/ ?( J. V
, g* g% n( N7 J/ Q) k2 B  |
在外观观察和无损分析阶段,需注意不同失效品之间的共性或异性特征,对后续的失效判断有一定借鉴意义。在无损分析阶段收集到足够的信息后,就可以开始针对性的破坏分析了。
7 w( c# M7 c* ^
6 U& A# `4 T, W4 i(3)破坏分析
, I+ N# n- S/ T6 W* h: W. z# P+ v8 Y' F/ G* {
失效品的破坏分析是不可少的,且是最关键的一步,往往决定着失效分析的成败。破坏分析的方法很多,常见的如扫描电镜&元素分析、水平/垂直切片、FTIR等,本节不作赘述。在此阶段,失效分析方法固然重要,但更重要的是对缺陷问题的洞察力和判断力,并对失效模式和失效机理有正确清楚的认识,方可找到真正的失效原因。
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裸板PCB分析3 c* {! P' }; S9 f; q. B
! v  T  W1 @* b5 r$ v
当失效率很高时,对于裸板PCB的分析是有必要的,可作为失效原因分析的补充。当失效品分析阶段得到的失效原因是裸板PCB的某项缺陷导致了进一步的可靠性失效,那么若裸板PCB有同样的缺陷时,经过与失效品相同的处理流程后,应体现出与失效品相同的失效模式。若没有复现出相同的失效模式,那只能说明失效品的原因分析是错误的,至少是不全面的。
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$ C9 C# R' B; Q1 t复现试验# I$ d* D! N/ q4 u( p! B

0 V: A: {+ \4 G) g7 W当失效率很低且无法从裸板PCB分析中得到帮助时,有必要对PCB缺陷进行复现并进一步复现失效品的失效模式,使得失效分析形成闭环。
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" d  @5 Z) Z) b6 b+ T8 V# z4 M' f' `8 c在面临着PCB可靠性失效日益增多的今天,失效分析对于设计优化、工艺改善、材料选型提供了重要的第一手信息,是可靠性增长的起点。
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发表于 2021-6-22 14:17 | 只看该作者
背景信息是可靠性问题失效分析的基础,直接影响后续所有失效分析的走向,并对最终的机理判定产生决定性影响。因此,失效分析之前,应尽可能地收集到失效背后的信息。
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-6-22 14:25 | 只看该作者
    失效前处理:失效发生前,PCB或PCBA是否经过了一系列前处理流程。常见的前处理包括回流前烘烤、有/无铅回流焊接、有/无铅波峰焊接和手工焊接等,必要时需详细了解各前处理流程所用的物料(锡膏、钢网、焊锡丝等)、设备(烙铁功率等)和参数(回流曲线、波峰焊参数、手焊温度等)信息

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    4#
    发表于 2021-6-22 14:27 | 只看该作者
    外观观察是失效品分析的第一步,通过失效现场的外观形态并结合背景信息,有经验的失效分析工程师能够基本判断出失效的数个可能原因,并针对性地进行后续分析。但需要注意的是,外观观察的方式很多,包括目视、手持式放大镜、台式放大镜、立体显微镜和金相显微镜等。然而由于光源、成像原理和观察景深的不同,对应设备观察出的形貌需要结合设备因素综合分析,切忌贸然判断形成先入为主的主观臆测,使得失效分析进入错误的方向,浪费宝贵的失效品和分析时间。
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