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拆解NG1灯具电源,板上测试MOS开关管,存在DS引脚短路现象,从板上拆下后测试DS正常,因此为电源板上其他回路短路。 从外观上可观察到压敏电阻出现炸裂,拆下压敏电阻后,电源上MOSFET开关管DS之间不再短路,因此为短路压敏电阻导致。 对其他元器件进行测试,发现电容存在容量严重降低,电源的保险丝、变压器等无异常。拆下压敏电阻后上电测试,电源可以点亮光源。
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9 C+ S+ r: z) s" x$ M4 s拆解失效电容NG1,内部存在铝膜熔融现象,展开铝膜与其他常规的CBB电容铝膜对比,失效NG1电容铝膜颜色偏黑。
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7 ^8 n. r4 y/ w, K; M 对失效电容NG2进行金相切片+氩离子研磨切片分析,在SEM下可观察到电容内部铝膜熔融现象。由于送测样品的C1电容均出现了不同程度的失效,因此建议电源厂对同批次电容进行确认,同时加强电源的可靠性检验。
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