微波设备表面电磁泄漏位置检测方法研究

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摘[size=8.83019pt]要： [size=8.83019pt]针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究，根据其表面等效辐射源形式的不同，设计了不
4 L. v& c. f. O. @* c5 O# m- I/ J同的检测方法，并提出了相应的实验测试方案．其中，综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相
- M$ }) K2 g2 l: b4 q; Q3 y% S0 o干源的情况；数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况；物理透镜成像的方法适用于表面等效
辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况．
6 X' P8 `8 }& [) n6 C7 K7 M关键词： 电磁泄漏；微波设备；成像；综合孔径；数字透镜；物理透镜
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! x+ S9 ~$ t+ C1 [随着航天技术及信息技术的发展，航天器所携带的
' v9 v( d' A0 W$ [0 d( I" P微波设备日趋复杂，其链路中的微波信号会通过线缆耦
8 S4 ]7 G8 M- n, o, ?- D6 j合、接头泄漏或天线旁瓣等途径辐射到外界空间中去．
航天器系统为了抑制这类辐射，会采用壳体将各种设备
5 E" ?7 q- m, M- ^5 G. B1 U封闭起来．然而为了安装星表设备或保障星体内外设
备，总会在这些壳体上切割一些小孔作为安装孔及线缆
9 {2 f9 u! d+ S进出的路径．由于这些小孔的存在，使得微波设备表面
. A* }& I6 l; _9 P, ?4 W壳体的电磁屏蔽特性受到破坏，造成设备内部的电磁信
号泄漏出去，对周围电磁设备形成干扰，从而引起电磁
7 m$ o5 b$ J# `7 W: ?兼容性问题．因此需要在航天器出厂前对其所携带微波
设备的电磁辐射情况进行了解，检测其电磁泄漏情况，
并能够对造成电磁泄漏的小孔进行定位，从而采取相应
# \3 _  f7 I: `# @* l( o( j的改进措施．
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非相干源、相干源和部分相干源