TA的每日心情 | 慵懒
2020-8-28 15:16 |
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签到天数: 3 天 [LV.2]偶尔看看I
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摘[size=8.83019pt]要： [size=8.83019pt]针对微波设备表面电磁泄漏位置的检测方法进行研究，根据其表面等效辐射源形式的不同，设计了不
9 O% b6 Z. \/ c) R% F# E7 `同的检测方法，并提出了相应的实验测试方案．其中，综合孔径被动辐射计成像的方法适用于表面等效辐射源为非相
4 ]# e/ }- y* j; X9 y3 K/ g干源的情况；数字透镜相移成像的方法适用于表面等效辐射源为相干源的情况；物理透镜成像的方法适用于表面等效
4 H7 W. K. z2 I) A0 Z9 m辐射源为非相干源、相干源和部分相干源的全部三种情况． # b# a7 Y" W$ Z% J2 q& b, u7 d/ E
关键词： 电磁泄漏；微波设备；成像；综合孔径；数字透镜；物理透镜) l: f( \( s. I. |5 W4 ]# `) g
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随着航天技术及信息技术的发展，航天器所携带的 * R/ {- i# }' W% { g' E3 h
微波设备日趋复杂，其链路中的微波信号会通过线缆耦
6 T" R- \! n: @' O0 Q; K _合、接头泄漏或天线旁瓣等途径辐射到外界空间中去． " `. X6 s0 C( R0 O. T& O7 @
航天器系统为了抑制这类辐射，会采用壳体将各种设备
# Q7 D( h" m- k- t封闭起来．然而为了安装星表设备或保障星体内外设
; y# u6 W- s+ Z8 e6 l: m: W: I备，总会在这些壳体上切割一些小孔作为安装孔及线缆 9 i1 P/ L1 _8 U! U" Z/ i
进出的路径．由于这些小孔的存在，使得微波设备表面 5 T& ~2 t4 ^6 f6 B% j
壳体的电磁屏蔽特性受到破坏，造成设备内部的电磁信
3 {; [) a. u, E1 }号泄漏出去，对周围电磁设备形成干扰，从而引起电磁 . t6 q. [5 U! Y6 ?8 _! y- V
兼容性问题．因此需要在航天器出厂前对其所携带微波 ' o. |8 e8 B/ M }" E2 B6 O- m
设备的电磁辐射情况进行了解，检测其电磁泄漏情况， : }1 J7 p: u5 X1 p( ?5 O
并能够对造成电磁泄漏的小孔进行定位，从而采取相应
" {" s+ W2 j# a8 p: G的改进措施．
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发表于 2021-3-9 10:41
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