变压器绕组直流电阻异常了怎么办？

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绕组直流电阻测试的对象，包含套管导电部分、引线、绕组以及分接开关等整个回路，因此绕组直流电阻的异常情况也与上述各个部分的结构以及制造、检修环节有关，分析和处理这种缺陷需要了解套管导电密封头的结构、引线和绕组的连接方式和制造工艺、分接开关的结构和动作原理等等，结合各种测试数据，进行综合的分析和判断。
$ u! E( p' f; O) n: z　　绕组直流电阻的现场测量数据，要与历史数据，特别是出厂试验数据或交接试验数据进行比对。由于绕组的温度会影响测量的结果，因此，需要将两次测量的数据折算到同一温度下，然后再进行比对。
　　绕组直流电阻异常通常分为两种情况：
　　第一种情况：同一温度下，各相绕组直流电阻的初值差异常;
4 {9 K2 R, d+ p, H2 |　　第二种情况：同一温度下，各相绕组的互差异常。
+ X# K3 s5 M% o' M; g7 u; q　　不管是那一种情况，对于检修人员来说，需要结合试验数据的特征，以及相关信息，判断数据异常的原因，找到缺陷点，并进行修复。
* I5 `7 W, i  o! e: ]! F' M6 ~, x" S　　带分接开关的绕组，回路连接环节较多，容易出现问题，本章中重点进行了说明。
　　缺少信息收集：
　　对于不带分接开关的低压绕组，检修人员应该查阅变压器出厂说明书，确定绕组和引线的连接方式，必要时将变压器油撤到手孔以下，打开手孔检查绕组与引线的连接是否松动。
　　对于带有载分接开关的高压绕组，导电回路构成环节比较多，故障点的排查也相对更为复杂一些，检修人员应该尽可能多的收集信息，辅助判断缺陷的原因，应该收集的信息包括:
　　1、绕组套管的制造厂和套管代号、导电密封头的结构;
　　2、如果回路中包含有载开关，应核对有载开关的制造厂名和开关型号，检查有载开关动作次数，询问运行人员有载开关经常性调压分接范围;
1 G! a- k( A; B+ P9 j* w　　3、如果回路中包含无载开关，应核对无载开关的制造厂名和开关型号，查阅出厂说明 书，确定开关的结构;
0 \) T( L& v! D) y% M　　4、查阅检修记录，近期是否有涉及套管、有载或无载开关的检修工作;
　　5、查阅巡视记录，近期的红外成像仪检测是否发现接头过热缺陷;
　　6、查阅变压器出厂说明书，确定绕组和引线的连接方式;
4 d# Q) Q. L$ }9 s* l　　缺陷原因分析判断：
( i( s* E6 h9 C+ n1 Z6 ?- y　　1、不带分接开关的绕组直流电阻试验。
　　不带分接开关的绕组导电回路主要由绕组、引线和出线接线端子构成。绕组和引线之间一般采用接线板对接，螺栓紧固的方式进行连接，导电接触面大，连接方式可靠。
! R2 Z7 l5 W  D　　一旦出现 某一相的低压绕组异常，检修人员应首先检查接线端子是否松动或开裂。如果接线端子正常， 那么很有可能是绕组和引线连接板接触不良，必要时撤油至低压接线手孔，打开手孔盖板， 检查绕组和引线的连接情况。
　　2、带分接开关的高压绕组直流电阻试验。
. }$ W' {, ^4 B　　这种情况下，构成导电回路的结构元件比较复杂，包含绕组、引线、分接开关、套管导电密封头、接线端子等，其中，分接开关和套管导电密封头的结构最为复杂，也经常出现接 触不良，导致绕组的直流电阻数值超标。
. N: {. w0 a* C4 Q- g3 O　　当发生绕组直流电阻异常缺陷时，通常会出现以下 8 类缺陷特征，每类缺陷特征分别对应着一个或多个成因。
　　1、套管的导电密封头接触不良。这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征:
　　(1)在所有分接位置上，某相绕组的直流电阻数值都明显偏大;
　　(2)套管的导电密封头结构比较复杂，容易出现接触不良的情况。
　　2、零点套管的导电密封头接触不良。这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征:
　　(1)在所有分接位置上，三相绕组的直流电阻数值都明显偏大;
　　(2)零点套管的导电密封头结构比较复杂，容易出现接触不良的情况。
) @. }2 {/ j: }8 h1 W8 l　　3、切换开关结构原因造成直流电阻异常缺陷现象应该具有如下特征:
　　(1)直阻测试数据不稳定，级差没有规律。
0 L: m' M. m# m2 ]) G　　(2)切换开关的结构较为复杂，但经常出现问题的部分主要是触头组和面板，触头组的电气连接部分和触头组与面板的接触部分容易出现接触不良，导致接触电阻或直流电阻超标。
6 Q  V, R3 u& T0 R　　4、切换开关单数触头或双数触头接触不良，导致直阻异常。这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征：
5 e& D, c) H8 e* R, ~* |# X7 y2 E　　(1) 在奇数分接位置(或偶数分接位置)上绕组的直流电阻数值整体偏大，然而在偶 数分接位置(或奇数分接位置)上数值正常;
' b; y3 u/ h. {& Y　　5、选择开关触头接触不良造成的直流电阻异常，选择开关主要涉及引线与开关的连接问题、开关动触头和定触头的接触问题，这两个问 题容易引起接触不良、直流电阻超标。这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征：
　　(1)在某一个固定的分接位置上，绕组直阻偏大，在其他位置上，数值合格;
　　(2)如果是正反调压方式，上下半区对应的分接位置出现同时偏大的现象。
　　6、极性开关接触不良导致的直流电阻异常。这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征：
　　(1)正反调压的有载开关,上半区和下半区直阻数据相比某半区直阻整体偏大，级差比较稳定;
& T7 S! \, ?9 [; ]+ r　　(2)粗细调压的有载开关，在整定位置与上下相邻位置级差变化较大，与历史数据相比整体偏大;
2 O/ n" q: X* v1 ?0 q( F" f3 E; ^9 ]　　7、引线和绕组的异常情况导致的直阻异常 这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征：
　　(1)某相绕组整体偏大，且级差均匀;
1 }4 V' n: q/ _& O. X/ H　　(2)该相套管结构经检查紧固到位且接触良好，直接将测试线接在引线头上测量， 直阻仍然偏大，且级差均匀;
0 N( s* X, X9 A5 J: r. Z　　(3)用手晃动引线，再进行测试，绕组直流电阻数据可能发生明显变化;
　　8、无载分接开关接触不良导致的直阻异常 这种情况下，缺陷现象应该具有如下特征：
　　(1) 导电回路中包含无载分接开关;
　　(2) 某相绕组直流电阻偏大;
0 x9 w2 m! X' ?7 N7 Q, \: w0 b　　(3) 无载分接开关位置指示显示位置不正;
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是的，绕组直流电阻测试的对象，包含套管导电部分、引线、绕组以及分接开关等整个回路，因此绕组直流电阻的异常情况也与上述各个部分的结构以及制造、检修环节有关，分析和处理这种缺陷需要了解套管导电密封头的结构、引线和绕组的连接方式和制造工艺、分接开关的结构和动作原理等等，结合各种测试数据，进行综合的分析和判断。