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接 30几条电脑主板可制造性设计(DFM),每一条都要重视(一)- c( z2 ?( O7 C
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$ _7 v4 L2 [7 S3 j# LICT测试点的相关规定:1, ICT Test Pad一般为圆心Pad,而且这种形状为最优选择,机器识别率最高。 3 `5 N. b7 K+ b7 X* z! a( t
2, Layout ICT Test Pad 时优先级: a,SMT Test Pad b,Trough hole 旁边加 Test Pad c,Trough hole & Test Pad Layout 重迭在一起。 3, ICT TEST PAD直径≧ 30mil,这一般要跟工厂确定,一般跟工厂机器的制程能力有关系。 当然,越大越还好,这样ICT 探针比较容易顶到而减少误判现象发生。但是,要跟布局空间综 合考虑权衡。
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5 }. U* g; P% ~' a4 l: H. f9 L" ?4, VIA HOLE TEST PAD直径一般≧ 35mil。原则跟上面PAD一样。
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5, TEST PAD & SMT 零件距离≧ 50mil。 ; o" @# Y, T8 e: s8 t
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6, TEST PAD & TEST PAD 距离≧ 75 mil,实在做不到可以≧ 50 mil(此距离只能在很小的范围内,比如20处之类,看工厂具体规定)。 * h! j: c: W7 d" h* g4 w
3 v9 H! @" ?* O1 T% q7, Test Pad & PTH的距离≧ 15mil,ICT test pad 与 DIP插件孔的距离≧ 50mil。 * H% F+ Z2 O* N* y" |& A
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文字标识类1, 二极管极性须以白色实体标示 / H7 X6 s$ J P/ o
4 B0 p4 s3 s. V; h2, QFP极性直径标示(白色实体) ≧80 mil , @+ m7 c) W2 p B: j
+ I( G7 f3 U2 T, t3, QFP IC需于每5Pin标示辨识点
* Q# c( d, g/ {1 ?% _" I: I* X: @+ E6 E* a' o3 K) m. J
在实际设计中,还是要根据具体情况去权衡。 J- b }% f( R. Y4 }* [
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