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偶平时设计过电容再到晶振,周围包地,晶振下保持干净完整平面。 
: r& D- C0 n: G% T$ K/ r在一些硬件指导或者DEMO上有这两种做法: 
( f, h' \. V1 ^' Z( |1、有先过电容再到晶振;. B# _- y# W5 H, J7 t& w 
2、有先过晶振再到电容(以前听老工程师说这会产生STUB效应); 
$ `9 X; u: K) H* f! U+ N- j有些DEMO参考板客户强烈要求按DEMO板布局布线,毕竟这是调试没有问题。: |3 W' U8 K4 ^8 y! R8 N% X& s) I 
平时没有机会调试,请大神解释下这两种处理方式。 
  k! r% M! G! U* F' ?7 G$ T/ ~& E 
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