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0 d6 p7 B5 K' r摘要:针对测控 系统恶劣、复杂的工作环境,分析了几类典型干扰即空间辐射干扰、信号通
' d) F1 S' m) ~' ^道干扰、电源干扰以及数字电路引起的干扰的作用机制,阐述了干扰对单片机测控系统产生的不良% h) D4 i. q5 |* Z) u3 B Z4 H1 H N
影响，并结合实际给出了电源技术、接地技术、隔离、滤波屏蔽等硬件方面的抗干扰措施,以及数
! h$ O6 Y3 V! ]字信号的输入方法、数字信号的输出方法和CPU抗干扰技术等软件方面的抗干扰措施。7 F4 Q8 p/ f* k/ o9 c* t
关键词:单片机;抗干扰;软件;硬件0 Q9 O+ C) P8 W u9 j) ]5 E
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单片机系统由于价格便宜、功能齐全而被广泛地应用到智能仪表及生产过程的测控系统中,一个测
' m; Z; W3 w+ M2 o: d6 ^0 t; w控系统的准确性主要取决于两个方面:首先是系统中测量部分测得的数据是否准确,如果在这个环节上0 [3 Z, }9 k: x* S* _
出了问题,整个系统的准确性也就无从谈起;另一方面,系统的控制质量,包括系统抵抗千扰的能力,也是6 H6 m4 @- q2 l) A% }5 @% }6 z$ Q
至关重要的。但是来自系统内、外部的不可避免的电气干扰会对单片机测控系统产生不良影响。因此，
. S; R' j4 h8 g: R如何在干扰情况下保证和提高系统的可靠性、安全性成为人们日益关心的课题。在实际的单片计算机测
+ D g/ Y; x) s7 @# Q控系统中,要在硬件、软件或其他方面综合采取措施来克服现场环境的强大干扰,使系统的可靠性达到设, S7 E& V+ V+ H4 _( ?
计的要求。在此从常见的干扰人手，分析干扰的作用机制及产生的不良现象,介绍了在单片计算机测控8 ]/ } ?1 r5 ~# B" c6 I8 L% C7 w
系统中常用的软、硬件抗干扰措施。% B/ a4 O* R: v* e& y: B7 l
r7 f1 @3 Q& r ` h! Y- U; c1干扰源: A$ a6 r0 S5 X; l
1. 1空间辐射干扰
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发表于 2020-5-9 09:30
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