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0 Q4 }% {( a M& {( V9 W摘要:针对测控 系统恶劣、复杂的工作环境,分析了几类典型干扰即空间辐射干扰、信号通3 h _" N K" [
道干扰、电源干扰以及数字电路引起的干扰的作用机制,阐述了干扰对单片机测控系统产生的不良# f$ _# y) r7 ]% J8 W# Q' Y6 X
影响，并结合实际给出了电源技术、接地技术、隔离、滤波屏蔽等硬件方面的抗干扰措施,以及数1 ?3 Y3 B P0 Y: B- {
字信号的输入方法、数字信号的输出方法和CPU抗干扰技术等软件方面的抗干扰措施。& U) b2 `" A) C& c4 b
关键词:单片机;抗干扰;软件;硬件
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单片机系统由于价格便宜、功能齐全而被广泛地应用到智能仪表及生产过程的测控系统中,一个测
- I8 i" ~3 j E& l控系统的准确性主要取决于两个方面:首先是系统中测量部分测得的数据是否准确,如果在这个环节上
$ i* | C. j% W/ d% S; R出了问题,整个系统的准确性也就无从谈起;另一方面,系统的控制质量,包括系统抵抗千扰的能力,也是
h# w* c( l1 u% [ `/ `至关重要的。但是来自系统内、外部的不可避免的电气干扰会对单片机测控系统产生不良影响。因此，
, f9 |" t$ j$ D) J! f0 q如何在干扰情况下保证和提高系统的可靠性、安全性成为人们日益关心的课题。在实际的单片计算机测( ^5 D& k7 D7 y6 D) t# S u
控系统中,要在硬件、软件或其他方面综合采取措施来克服现场环境的强大干扰,使系统的可靠性达到设$ q$ W1 p# M( }9 z. m; H2 U) W
计的要求。在此从常见的干扰人手，分析干扰的作用机制及产生的不良现象,介绍了在单片计算机测控
2 ^/ T; v: [3 A1 d8 x8 c% G+ O系统中常用的软、硬件抗干扰措施。3 @3 d5 p2 R6 P0 L$ R4 K/ R1 h; c1 s
& f5 [& O" X9 @3 ^* y8 _* ^% P5 ?1干扰源* E1 s* c* _4 C* l: A+ q1 y
1. 1空间辐射干扰
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发表于 2020-5-9 09:30
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