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摘 要:文章介绍可编程计数器/定时器M82C54和高速异步双端口RAM IDT7130的性能特性。利用单片机80C196KB及上述芯片设计并实现测试平台,给出测试平台的接口电路,并阐述了它的实现原理。
) ~, t* w6 B" e# U' f6 E关键词:测试平台、cpld、M82C54、IDT7130、80C196KB
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, g" \! L# Q& Q: r5 Q 近年来,随着各种存储测试、数字量变换器设备在军事及其它各行业的广泛应用,人们对这些设备的存储、变换器的脉冲信号识别性能提出了越来越高的要求。
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