基于单片机的直流磁滞损耗测量系统设计

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: J) u* C2 z4 C" h: T- Q摘要：为了实现快速、 高效测量磁性材料直流磁滞损耗，提出了一种用V/F变换法测量磁性材料直流磁滞损耗的
8 U$ s5 M+ j$ D/ E( v- W. o方法，介绍了系统的测量原理和结构，阐述了设计与实现的关键技术，重点介绍了磁滞损耗测量原理、V/F 变换
! t7 w7 W/ b9 _: [4 b$ t' a" x2 W测磁通、单片机控制系统实现.该方案能充分满足工业现场测量的便捷、快速、抗干扰的测量要求.
关键词直流;磁滞损耗; V/F变换;测量;单片机
4 j* ?# N3 f" G9 J! q0引言
在工农业生产和科学研究中,磁性材料得到日益广泛的应用.为了更好地使用、设计和研制磁性材
; T2 S+ e6 ]3 T料和器件,都以材料的磁性参数为依据.磁滞回线是铁磁物质的重要磁特性曲线，通常测量的是样品达
到磁化饱和时的磁滞回线.磁滞回线上的特征值及由回线测量出的磁滞损耗值等参数的测量显得尤为重
要.磁性材料直流磁滞损耗的测量方法很多，以往用求积仪测量磁滞回线包围面积的方法费时，且测量
7 q9 I6 {5 r! y2 L" y* S1 t9 v精度也不高.下面以环形样品为例介绍V/F变换方法测量磁滞损耗，在测量精度和简便方法上都优于测
量面积的方法.
1-磁滞损耗Wn的测量原理
所谓磁滞损耗是指在不可逆跃变的动态磁化过程中,克服各种阻尼作用而损耗了外磁场供给的一部
3 G( n. F) l- i/ d# \分能量，磁滞回线的面积在数值上等于磁化-周的磁滞损耗w."，即

1.磁滞损耗Wn的测量原理
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分能量，磁滞回线的面积在数值上等于磁化- -周的磁滞损耗 w."，即



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Racheler

磁滞回线是铁磁物质的重要磁特性曲线