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随着现代电子技术的飞速发展,PCBA也向着高密度高可靠性方面发展。虽然现阶段PCB和PCBA制造工艺水平有很大的提升,常规PCB阻焊工艺不会对产品可制造性造成致命的影响。但是对于器件引脚间距非常小的器件,由于PCB助焊焊盘设计和PCB阻焊焊盘设计不合理,将会提升SMT焊接工艺难度,增加PCBA表面贴装加工质量风险。9 K( O1 J4 J3 y# j/ e h s3 \" S0 p3 \3 }6 r( k9 O' B* k
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鉴于这种PCB助焊和阻焊焊盘设计的不合理带来的可制造性和可靠性隐患问题,结合PCB和PCBA实际工艺水平,可通过器件封装优化设计规避可制造性问题。优化设计主要从二方面着手,其一,PCB LAYOUT优化设计;其二,PCB工程优化设计。
! i$ d' v2 V6 @: r2 |8 QPCB LAYOUT设计: b4 D) x) v# r" H4 B: R
- w4 X9 \$ g( m5 G: u! i3 x, M依据IPC 7351标准封装库并参考器件规格书推荐的焊盘尺寸进行封装设计。为了快速设计,Layout工程师优先按照推荐的焊盘尺寸上进行加大修正设计,PCB助焊焊盘设计长宽均加大0.1mm,阻焊焊盘也在助焊焊盘基础上长宽各加大0.1mm。如图一所示:# A- a0 F( U$ [, k' `, r: F" o- l
?" n% z( |1 k Z O) z( C; P- _+ j, ^2 Z
(图二)
6 V" V- r" r8 n z2 n: @7 bPCB LAYOUT设计要求1 |) ]" ^# k$ g: y
当两个助焊焊盘边沿间距大于0.2mm以上的焊盘,按照常规焊盘对封装进行设计;当两个助焊焊盘边沿间距小于0.2mm时,则需要进行DFM优化设计,DFM优化设计方法有助焊和阻焊焊盘尺寸优化。确保PCB制造时,阻焊工序的阻焊剂能够形成最小阻焊桥隔离焊盘。如图三所示: \. T5 K- \" T1 q9 [, `/ F/ w$ x. h( g9 |; B: @ `
Z. _+ e8 k/ H1 I# {- g0 C. m1 p1 `% k: i- H- S3 g: M
(图四); G- [7 R8 G5 v5 z
4 m! B4 n0 o5 d+ G7 J7 J2 RPCB LAYOUT实际设计0 H& v% t' b2 b! s- F& n. k
+ i9 f: O O S0 ~) B8 S% ^* b6 Q如下图五,助焊焊盘尺寸0.8*0.5mm,阻焊焊盘尺寸0.9*0.6mm,器件焊盘中心间距0.65mm,助焊边沿间距0.15mm,阻焊边沿间距0.05mm,单边阻焊宽度增加0.05mm。
9 g- p3 C% {1 [! k( Y3 K$ v# L7 C9 x' P2 D* h
(图六) R/ o, ]6 q g, n( {% I" @# I( z5 u
0 `- y; S& R$ h5 X, U( M& h实际焊接效果( ~9 S) }/ ]# \; z, t1 u$ x/ h1 v# T
按照工程设计要求后制板,并完成SMT贴片。通过功能测试验证,该芯片焊接不良率在50%以上;再次通过温度循环实验后,还可以筛选出5%以上不良率。首选对器件进行外观分析(20倍放大镜),发现芯片相邻引脚之间有锡渣及焊接后的残留物;其次对失效的产品进行分析,发现失效芯片引脚短路烧毁。如图七所示:: H; b& }" }" ^+ M0 Z$ |
. J' N m5 f q6 r( h% i. {% Z7 a(图七) x# _: I" G1 j; Z/ L* S" _
优化方案4 n/ J/ a, r( S1 s$ S; H- R# v2 P# E
PCB LAYOUT设计优化, [7 ]+ j, Y" C" ^/ L: k
参考IPC 7351标准封装库,助焊焊盘设计为1.2mm*0.3mm,阻焊焊盘设计1.3*0.4mm,相邻焊盘中心间距0.65mm保持不变。通过以上设计,单边阻焊0.05mm的尺寸满足PCB加工工艺要求,相邻阻焊边沿间距0.25mm尺寸满足阻焊桥工艺,加大阻焊桥的冗余设计可以大大降低焊接质量风险,从而提高产品的可靠性。9 O0 _+ `6 I5 z7 h$ L: o* n3 d/ Z; e0 \: G. N/ Q
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* l6 C/ F8 }! Q' t8 C0 ?(图九). J( y, S4 L2 F( Z" y4 ]1 H+ c( O% H" Z5 ?( N" B% F0 u
设计验证3 q! z6 c! K' Z" {9 ~- @4 l/ H) b) U4 [3 {8 V! G3 N' X
针对上述所提的问题焊盘,通过以上方案优化焊盘和阻焊设计,相邻焊盘边沿间距大于0.2mm,阻焊焊盘边沿间距大于0.1mm,该尺寸可满足阻焊桥制程需求。如图十所示:
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(表一)5 H/ Q6 z+ y# Q9 F6 V, B
通过以上数据可得,优化方案验证有效,满足产品可制造性设计。
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