传输线脉冲测试分析器件及ESD性能与案例分析

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八十年代，Maloney 等人提出以传输线脉冲(Transmission Line Pulse)作为一种研究传输线脉冲电流对应的集成电路和电子电路的 ESD 事件下失效的分析方法，该方法已经成为集成电路 ESD保护等级有预期的开发的一种工具。

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工程师们在设计前期对器件的选择上，就算深入理解 ESD 的机理和 ESD 失效的模型，也难以完全避免电路受到 ESD 的损伤