手机静电(ESD)测试及其整改方案

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静电，是大家都非常熟悉的一种自然现象，在我国的北方，人们在脱外套或毛衣的时候，经常会听到一些噼里啪啦的声音，有时带着火花，其实，这就是人体身上所携带的静电。静电会给人们的生活带来种种不便，有时甚至会对人们的生命财产安全造成巨大的危害。因为, 静电通常产生的都是接近上万伏的高压，甚至几十万伏。试想一下，如果在航空航天的微电子行业出现这种静电，它对其中某一个电路芯片损坏所造成的后果,那将是不堪设想的。

      静电所带来的危害性已引起了各界广泛的关注，为了保护生命及国家财产的安全，国家出台了相应的法规条例，规定由相应的检测机构去执行检测任务。既然消除静电的发生是几乎不可能的事情，那么人们可以通过在实验室检测物体抗静电的能力，以此来判断静电抗扰度，在这里，我们将为大家重点介绍在手机进网测试中，实验室静电抗扰度ESD测试的相关内容。
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6 N8 V4 }1 q6 k5 j* L) i0 `      静电抗扰ESD是手机进入各国市场的一个必测项目，也是厂家最为担心的问题之一。下面我们先来了解一下静电靠扰测试(ESD)是如何进行测试的：
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(一)测试方法
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5 l, U  v' K. F      1. 严酷度等级：

          接触放电：+2KV -2KV，+4KV-4KV
          空气放电： +2KV-2KV，+4KV-4KV，+8KV-8KV

! e, K2 b% Z6 |0 M/ c! R6 _      2.对被测设备的监视：
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      专用模式：被测移动电话与无线综合测试仪建立并保持通讯连接，在加扰的过程中，观察被测移动电话机是否维持通信连接。整个加扰过程结束后，观测被测移动电话机是否仍能保持通信连接，是否能正常工作，有无用户可察觉的通信质量的降低，有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。

      空闲模式：观察发信机是否误操作。实验结束后，观测被测移动电话机是否仍能保持通信连接，是否能正常工作，有无用户可察觉的通信质量的降低，有无用户控制功能的丧失或存储数据的丢失。
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1 U  t8 R5 x) v$ h/ O% s5 C      3.测试条件与结果:

      专用模式：被测设备的工作状态：被测移动电话机与无线综合测试仪通过空间链路连接。被测移动电话机与无限综合测试仪建立并保持通讯连接，GSM900MHZ时，ARFCN为62，BCCH为31；DCS1800MHZ时，ARFCN话机为700，BCCH为735。无线综合测试仪命令被测移动电话机工作在最大输出功率电平。被测移动电话机分别工作在与充电器相连进行充电的状态和*电池供电的状态。
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实验结果：
, ]6 R; O, D2 Z% M# @- y  U2 \试验点 实验条件 试验结果
结论

移动电话机样品1 +充电器样品1 移动电话机样品2 +充电器样品2 移动电话机样品3 +充电器样品3
! F" ~4 n" D' M0 n; q0 G: o裸露的金属板、水平偶合板、垂直偶合板 接触放电：每点测试次数10次 ，电平：+2KV-2KV，+4KV-4KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 合格
3 S- N; E8 f  O' Y3 j* R& k9 h7 H$ x; T机壳、接缝、接键、LED显示屏 空气放电：每点测试次数10次 ，电平：+2KV-2KV，+4KV-4KV+8KV-8KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象
合格
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1 d2 L9 Z8 b! L1 Y      空闲模式: 被测设备的工作状态：被测移动电话机与无线综合测试仪通过空间链路连接，BCCH信道激活，被测移动电话机与无线综合测试仪保持同步，处于待机状态；被测移动电话机分别工作在与充电器相连进行充电的状态和*电池供电的状态。

, i1 W6 G3 `9 e* V- F实验结果：
, G' q; r% m) J6 `, B试验点 实验条件 试验结果
. Z! p+ c6 v* \" d5 ^结论
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4 `) M3 |2 Q' p) I, P移动电话机样品1 +充电器样品1 移动电话机样品2 +充电器样品2 移动电话机样品3 +充电器样品3
) Z  h/ T& f  o# O' p7 i; b裸露的金属板、水平偶合板、垂直偶合板 接触放电：每点测试次数10次 ，电平：+2KV-2KV，+4KV-4KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 合格
机壳、接缝、接键、LED显示屏 空气放电：每点测试次数10次 ，电平：+2KV-2KV，+4KV-4KV+8KV-8KV 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象 未检测到不通过现象
3 S( J3 D) o/ q1 v合格
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（二）应对整改措施

      目前在手机的静电靠扰测试(ESD)中经常出现问题的地方有如下九处：
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      1：Receiver
, T9 C/ i7 o/ h( z      2：麦克风MIC
      3：键盘
' v3 `8 L- X6 f9 s6 x8 Q      4：喇叭Speaker
" E; S* q! Z8 A, `5 o      5：金属饰件
) _% V( o. w$ W( k      6：电池后盖
! j7 b* B. ^! r( p5 z& v# o      7：侧键及USB口
      8：显示屏
1 L2 c: X" D9 ?      9：中间缝隙，滑盖缝隙等
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6 ~$ w7 e  w7 t在对手机ESD出现问题的整改过程中，大致可采用以下两种办法：
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- D& D5 ~4 [5 A      1.导:就是用导电胶带导电泡棉或者铜箔，将静电引入GND。
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8 o. t( j- t7 Q& e, P6 Q0 G2 s      2.堵:就是用类似绝缘胶带，堵住放电的路径，让静电放不出来。

) ^, B! J' w9 m下面用两个实际例子来说明以上这两种方法的应用。
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实例一：LCD屏幕。采用导的方法。

      屏幕是最容易出问题的地方之一。屏幕上可以使用导的方法，把打在屏幕上的静电及时的疏导到主板地上。在处理的时候，有些地方要注意贴上绝缘胶带防止短路(如图1)。然后用铜箔包住屏的三个边，下压的时候正好接到主板地上（如图2）。正面屏边上不能露出太多的铜箔，不然装机后铜箔会露在外面（如图3）。
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& H/ u  e7 b/ R1 S实例二：Keyboard键盘。用堵的方法。
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9 Z$ D, W+ k& F键盘也是最容易出现问题的地方之一。特别是金属按键的键盘，基本上都需要处理。
! r4 r: v) m$ s如图4，中间按键+/-8K静电不过。打开手机，用绝缘胶带把整个键盘都包裹住，而且要用一整块的胶带，不能一小块的拼凑起来（如图5）。最后把键盘的FPC线也用绝缘胶带包裹起来，FPC线静电也很容易打坏。

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      以上两种方法，不管是导或者堵的方法都能达到通过ESD测试的目的。用哪种方法可视具体的情况而定。笔者倒是习惯用导的方法，与其堵而抑之,不如疏而导之。
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littleant

现在基本没有键盘了。。。

weqsss

                                             

被我折服

littleant 发表于 2020-3-16 09:56
* h" K$ f+ R+ C. ]  C+ d" n现在基本没有键盘了。。。

% |: Y6 S5 R7 W" b2 Y6 c  s, l老人机还是有的
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