80c31单片机电路总剂量效应研究

ckjs · 发表于 2020-1-21 15:38

您需要登录才可以下载或查看，没有帐号？注册

x

摘要:研究了80C31单片机电路在Coγ辐照环境中的响应特性及参数变化规律,通过对辐照
后其电离辐照敏感参数在室温和100 C高温条件下随时间变化关系的分析,讨论了电路总剂量辐
射损伤的机理。
关键词:单片机; 60Co γ辐照;辐射损伤;退火.

游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

fawa · 发表于 2020-1-21 18:50

有关电路总剂量辐射损伤的机理

帐号		自动登录	找回密码
密码			注册

推荐内容 /1