80c31单片机电路总剂量效应研究

ckjs

摘要:研究了80C31单片机电路在Coγ辐照环境中的响应特性及参数变化规律,通过对辐照
" v  Y% C7 x& ?1 {后其电离辐照敏感参数在室温和100 C高温条件下随时间变化关系的分析,讨论了电路总剂量辐
射损伤的机理。
关键词:单片机; 60Co γ辐照;辐射损伤;退火.
, T7 j. K, E1 Z+ @7 K

游客，如果您要查看本帖隐藏内容请回复

, `0 I9 T6 c& R1 v% l

fawa

有关电路总剂量辐射损伤的机理