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1.1 PID效应的发现和成因
& m7 d# k4 Y3 Z" D5 N! BPID效应( Potential Induced Degradation )全称为电势8 u$ k5 b9 ]4 N0 i' P+ v7 `' E% V) k
诱导衰减。PID直接危害就是大量电荷聚集在电池片表面,使 电池表面的钝化效,
: d( L+ d9 m: E" P; V从而导致电池片的填充因子、开路电压、短路电流降低,电池组件功率衰减。! D* b4 X7 w% k7 _: v* \
2005年Sunpower公司就发现晶硅N型电池在组件中施加正2 c$ O U1 @* H2 t- I
高压后存在PID 现象。2008年, Ever green 公司报道了P 型电池组件的PID$ \, `# T4 T# T7 P; r0 v- _% i
效应。但是目前还没有明确的证据能够证明一个工作了五年的光伏电站,
6 U, ], W- t" D+ z; d$ K+ U组件的输出功率骤降就是因为PID效应引起的。不过近年光伏行业对电池组件的
# s: f% L4 O" B7 A1 uPID 效应还是引起了足够的重视。德 国测试企业TUV发 布了他们的建议标准:
( O! M6 Y8 B9 ITC82标准化(82/685 / NP) 温度、 湿度、偏置电压、导体,上述参数测试的主要环
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