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电容器压电效应失效的解决方案

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发表于 2019-12-12 15:18 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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高耐压、高容值的电容器一般通过电解电容或者薄膜电容来实现,其体积一般较大。尽管经过多年的发展,高耐压、高容量的电容器的小型化进展还是十分有限。
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8 k: ^6 C$ a  Y+ @* N* i( h7 H当前取得的进展主要在高耐压方面,但是很难同时兼顾高容量;或者是达到高容量但是电压一般小于50V.电源行业,一些应用需要高耐压、高容量的电容器,例如在开关电源中作输入输出滤波,储能,尖峰吸收,DC-DC转换,直流阻隔,电压倍乘等等,此外,在一些应用中,尺寸和重量非常重要,需要小体积的电子元器件。
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为了同时获取高耐压和高容量,业界常见的做法是依据DSCC 87106/88011和MIL-PRF-49470的规范将多个陶瓷电容器叠加在一起,这种做法占据空间较大且较重,并且价格昂贵。因此,业内一直存在着对更轻、更小的高耐压、高容量的电容器的需求。
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过往技术局限
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. E4 T* }8 z/ v5 T4 ?8 Z/ {+ G失效模式决定了设计上的局限,而多种失效模式的存在也限制了中、高耐压电容器的容值提升。有些失效模式是外在的,如机械应力或热应力导致的断裂,但同时我们也需要深入探讨内在失效模式,这在制造商的管控范围之内。
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多层陶瓷电容器在设计上的限制因素,随时代的不同而发生着变化。早期多层陶瓷电容器面临的主要限制因素,是电介质材料本身的点缺陷和杂质,这些因素影响了材料的质量和纯度,如图1,从而限制了电容器内部层数的上限和每层厚度的最小值。
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# w4 L+ l: K- u& I2 ?  A/ f1 I图1 污染瑕疵
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随着电介质材料本身质量的提高和操作流程的改进,限制因素转变为电介质材料本身的强度,而该因素一旦得到了解决,我们本可以预期制造出更大更厚的电容器,而不必担心产生介质击穿或点失效,如图2.% H; K7 u; N8 w; p
6 d1 E( }1 ]. N2 L- E( J+ [
) j" j0 ]( a" ~& e' a8 ~" _' Z
图2 介质击穿
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可是一种新的失效模式出现了,我们称之为压电应力断裂,通常指压电效应或者电致伸缩现象,如图3所示。这种失效模式迄今为止仍是多层陶瓷电容制造所面临的限制因素。它影响大多数的钛酸钡二类(Class II介质,并限制了1210以上尺寸、200V以上耐压的陶瓷电容器的容值范围)。
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$ [4 c  n! I9 d( C/ z如图3所示,断裂通常沿着一层或两层介质层贯穿整个电容的中部。大多数的解决方案是将多个电容器通过添加引脚进行叠加,从而在给定尺寸下提高容值,但这需要消耗大量人力,花费较多成本,并会产生可靠性问题。另外的解决方案使用特殊电介质配方,但同时以牺牲介电常数作为代价,并影响最终可获得的容值大小。
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8 s" d( Y# a6 Y" C6 J% B% I3 g* t8 N
图3 压电效应应力断裂失效
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0 k% n1 K1 q3 r. D5 X; F

) q; L5 z8 k5 y! I0 Q/ R: x图4 X7R多层陶瓷电容在直流偏压下的形变+ R+ d) _" g* D  j, l
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解决方案. ]* d$ l! ?9 K# @- U6 `2 b0 `
" t3 W" ?. h3 x  ^0 n' o( |
StackiCapTM是一种应对压电失效限制的独石电容解决方案。其应用的专利技术GB Pat./EP2013/061918创新性地在电容器内部加入了一层压力缓冲层,使得该电容器既可展现出多个叠加电容的性能,同时在制造和加工流程上又具备单个电容器的优点。5 E1 K$ S7 M/ r8 _9 e+ |# H' S  K

) v- C2 y1 ~' N

1 H, z$ z1 m* d# ]. R图5 StackiCap
6 R' m. U% [3 {7 L. K/ Z! e
$ s& @# i+ ^* U5 {) _( r6 A压力缓冲层使用现成的材料系统组合,并经过标准的制造流程。压力缓冲层加在机械应力最大的一个或多个部位,从而缓解由于压电形变而带来的机械应力。依据目前为止的实验,压力缓冲层可以将多层电容器在内部分成2段、3段或4段,从而大幅缓解内部形变带来的机械应力,同时通过FlexiCap柔性端头技术释放端头上的机械应力,这样我们就不需要将多个电容器进行叠加了,我们也就不需要再给电容器组装引脚,从而方便标准化的卷带包装以及自动化贴装。
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% m% W" a9 K' T7 q. i  B; X+ c

, `7 Q, o& D" V& H( U5 U9 |“海绵”状压力缓冲层的截面(SEM显微图)  ]5 b/ B  `7 ]/ D& {

: C% y) d) y  M$ U小型化
+ q* v: M' N2 G8 ?8 f! p% f6 k, s6 w% q( U9 A2 _
在大幅提高容值的同时,StackiCapTM可实现元件尺寸的显着缩小。以下图片直观地展现了StackiCapTM的优越性。

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图7显示了已经研发的StackiCapTM的各规格产品尺寸:1812,2220,2225和3640.图8显示了最多5颗电容叠加的引脚电容组件,单个电容尺寸为2225,3640,5550和8060.图9和图10显示了单个StackiCapTM电容器所能取代的电容组件。一个极端的例子是8060,1kV,470nF的电容如今可被单颗2220,1kV,470nF的StackiCapTM替代;3640,1kV,180nF的电容如今可被单颗1812,1kV,180nF的StackiCapTM替代,体积分别缩小到原来的1/10和1/7.- L+ G" q7 w- t% }/ e# W  p  ]

; n1 S3 Y! Z( p0 z5 S


" a; w# `" D8 m1 Q! c) n图7 尺寸从1812到3640的StackiCap/ K& T4 K: u: p& `( i* t9 W* f; f
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7 B) j* C. Q' [: x8 |4 S' \4 \
图8 五颗电容堆叠的电容组件最大尺寸80602 {6 f  |$ m& S1 Y
# o' m) i, `8 _" F0 m% t( f$ D
# Z# F9 u# o- m& u* l9 f/ E
图9 一个2220 500v StackiCap 和三个2225 500v 堆叠电容对比5 j  s5 \$ [+ z: E! o
0 [  L* J( ?6 o7 _) Z

1 Q9 v; r! `  s( l8 O图10
# f* }2 `* @4 G* o" {" p" U
% s; a. @# ?: c# k+ a可靠性测试认证+ T+ d" w" W; p- h) `
+ T- @) K7 K% V* d# C" X
StackiCap已通过如下可靠性测试:
" J" l! ?+ v/ R4 ~9 n3 P5 o9 O, V# I
(1)寿命测试。StackiCap系列电容在125℃,1倍或1.5倍的额定电压下持续工作1000小时。/ p- Z# i0 q1 q2 ~

7 Z6 ~! P! \7 i. Q( C% g  N(2)85/85测试。StackiCap系列电容在85℃/85%RH条件下持续工作168小时。
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(3)弯板测试。StackiCap系列电容被安装在Syfer/Knowles的测试用PCB上进行弯板测试,以评估元件的机械性能


1 \9 Q% a& [& r, ]
  • TA的每日心情

    2019-11-19 16:53
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2019-12-13 15:58 | 只看该作者
    限制也是进步的空间
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