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高耐压、高容值的电容器一般通过电解电容或者薄膜电容来实现，其体积一般较大。尽管经过多年的发展，高耐压、高容量的电容器的小型化进展还是十分有限。( r) _% I% t! ~: |+ Z/ l
) m1 c; j% U7 Q9 D' D4 B当前取得的进展主要在高耐压方面，但是很难同时兼顾高容量；或者是达到高容量但是电压一般小于50V.电源行业，一些应用需要高耐压、高容量的电容器，例如在开关电源中作输入输出滤波，储能，尖峰吸收，DC-DC转换，直流阻隔，电压倍乘等等，此外，在一些应用中，尺寸和重量非常重要，需要小体积的电子元器件。
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4 Z6 Q4 F; ]( P为了同时获取高耐压和高容量，业界常见的做法是依据DSCC 87106/88011和MIL-PRF-49470的规范将多个陶瓷电容器叠加在一起，这种做法占据空间较大且较重，并且价格昂贵。因此，业内一直存在着对更轻、更小的高耐压、高容量的电容器的需求。
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过往技术局限: q& X) v$ {: \9 W$ U* p
4 i) ^( R+ p$ G5 L失效模式决定了设计上的局限，而多种失效模式的存在也限制了中、高耐压电容器的容值提升。有些失效模式是外在的，如机械应力或热应力导致的断裂，但同时我们也需要深入探讨内在失效模式，这在制造商的管控范围之内。
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8 S7 E8 ]# j( \% y# @3 O多层陶瓷电容器在设计上的限制因素，随时代的不同而发生着变化。早期多层陶瓷电容器面临的主要限制因素，是电介质材料本身的点缺陷和杂质，这些因素影响了材料的质量和纯度，如图1，从而限制了电容器内部层数的上限和每层厚度的最小值。
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图1 污染瑕疵
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随着电介质材料本身质量的提高和操作流程的改进，限制因素转变为电介质材料本身的强度，而该因素一旦得到了解决，我们本可以预期制造出更大更厚的电容器，而不必担心产生介质击穿或点失效，如图2.
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& R2 {' X+ s) ^图2 介质击穿$ ?" @2 j6 A- v, H6 W% F/ K* [: r
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可是一种新的失效模式出现了，我们称之为压电应力断裂，通常指压电效应或者电致伸缩现象，如图3所示。这种失效模式迄今为止仍是多层陶瓷电容制造所面临的限制因素。它影响大多数的钛酸钡二类（Class II介质，并限制了1210以上尺寸、200V以上耐压的陶瓷电容器的容值范围）。
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如图3所示，断裂通常沿着一层或两层介质层贯穿整个电容的中部。大多数的解决方案是将多个电容器通过添加引脚进行叠加，从而在给定尺寸下提高容值，但这需要消耗大量人力，花费较多成本，并会产生可靠性问题。另外的解决方案使用特殊电介质配方，但同时以牺牲介电常数作为代价，并影响最终可获得的容值大小。
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图3 压电效应应力断裂失效4 `. k' r3 s1 `6 t# `$ K8 `* P
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图4 X7R多层陶瓷电容在直流偏压下的形变5 G* t2 Q$ v- U& `0 V8 i: b! P
9 ?9 f5 `* T P0 h3 L6 W3 n解决方案 E% ~0 C, T+ U6 h9 z9 j
0 b' f% w$ o% K% x# E# x; `StackiCapTM是一种应对压电失效限制的独石电容解决方案。其应用的专利技术GB Pat./EP2013/061918创新性地在电容器内部加入了一层压力缓冲层，使得该电容器既可展现出多个叠加电容的性能，同时在制造和加工流程上又具备单个电容器的优点。
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图5 StackiCap* k3 f5 i& F6 G2 C: c
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压力缓冲层使用现成的材料系统组合，并经过标准的制造流程。压力缓冲层加在机械应力最大的一个或多个部位，从而缓解由于压电形变而带来的机械应力。依据目前为止的实验，压力缓冲层可以将多层电容器在内部分成2段、3段或4段，从而大幅缓解内部形变带来的机械应力，同时通过FlexiCap柔性端头技术释放端头上的机械应力，这样我们就不需要将多个电容器进行叠加了，我们也就不需要再给电容器组装引脚，从而方便标准化的卷带包装以及自动化贴装。8 q0 v' n& ~1 W( V
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“海绵”状压力缓冲层的截面（SEM显微图）
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$ D, B$ d" K1 u9 ^8 N) A小型化) \+ r+ T6 ?& r+ A# k9 c
. z5 i. T/ t! A5 P$ \在大幅提高容值的同时，StackiCapTM可实现元件尺寸的显着缩小。以下图片直观地展现了StackiCapTM的优越性。 8 w+ X9 {2 \( w. @, |5 j3 e: D
图7显示了已经研发的StackiCapTM的各规格产品尺寸：1812，2220，2225和3640.图8显示了最多5颗电容叠加的引脚电容组件，单个电容尺寸为2225，3640，5550和8060.图9和图10显示了单个StackiCapTM电容器所能取代的电容组件。一个极端的例子是8060，1kV，470nF的电容如今可被单颗2220，1kV，470nF的StackiCapTM替代；3640，1kV，180nF的电容如今可被单颗1812，1kV，180nF的StackiCapTM替代，体积分别缩小到原来的1/10和1/7.
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7 _! t S# Y/ m图7 尺寸从1812到3640的StackiCap% @) K I' v1 m6 g! g, _
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* S' Y ~9 k6 [图8 五颗电容堆叠的电容组件最大尺寸8060
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) l0 G* S1 i% Z图9 一个2220 500v StackiCap 和三个2225 500v 堆叠电容对比* \5 a* I% x9 a' x0 x }
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( J9 z6 Y% h4 s图10
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: q6 H z3 ]5 g! ^, w5 O可靠性测试认证
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StackiCap已通过如下可靠性测试：
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2 i4 Q$ N1 H f+ X. A/ R4 d（1）寿命测试。StackiCap系列电容在125℃，1倍或1.5倍的额定电压下持续工作1000小时。
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（2）85/85测试。StackiCap系列电容在85℃/85%RH条件下持续工作168小时。2 q5 n$ ?$ o, t& J: P
9 e6 A; Y& h, {( y（3）弯板测试。StackiCap系列电容被安装在Syfer/Knowles的测试用PCB上进行弯板测试，以评估元件的机械性能 7 x' q* b9 J+ `
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发表于 2019-12-12 15:18
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