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快来:器件可靠性发展历程之猜图?猜中有威望值提升,

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    [LV.7]常住居民III

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    发表于 2019-11-29 18:02 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 重阳 于 2019-11-29 18:02 编辑
    " e  L7 u+ C$ n  k4 F" b6 H# L! g5 G& X, r' \. h5 ~3 M. f6 M( R
    l失效分析在可靠性突破因素
      w4 n$ d  x  K% q; c0 sl导弹,卫星,飞船,飞机等对可靠性提出更高要求) [4 G- k* |- a" i
    l电子产品需要承受更高热应力,机械应力等的器件, y9 d+ o$ B6 ~, v7 ~+ r
    l研究出可靠性更高的材料,工艺,制造设备等, X4 Q  D1 `, t3 H) ]# [
    有谁能猜出?图1、图2分别是哪个可靠性大事件?
    / C. Y2 y$ F1 A, b) |
    * K2 Q1 D# n! h- j+ T

    ) [8 A. h2 C5 P' z
    5 I  p4 o: ^3 S: x- u' W0 A5 d. R9 @! C$ ^/ u; t  |, D

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    [LV.7]常住居民III

    2#
    发表于 2019-11-30 08:22 | 只看该作者
    图1,Columbia 号失事,因为橡胶密封圈的原因…科学发展路上正是因为前辈们充满对未知的好奇,勇往直前,不断试错…向前辈致敬

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