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快来:器件可靠性发展历程之猜图?猜中有威望值提升,

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    发表于 2019-11-29 18:02 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 重阳 于 2019-11-29 18:02 编辑
    9 Q  B  W) D# n! q# K
    " E% K  O  D$ h+ C: el失效分析在可靠性突破因素2 x; T% X5 {1 k9 R, C3 V
    l导弹,卫星,飞船,飞机等对可靠性提出更高要求
    & [" s  ^& w5 y! \0 M' N. ~- ul电子产品需要承受更高热应力,机械应力等的器件/ ]1 o* {, t* [, w
    l研究出可靠性更高的材料,工艺,制造设备等4 C: `6 x( Z1 I
    有谁能猜出?图1、图2分别是哪个可靠性大事件? ' z4 s, R. a/ Y) e: V
    6 U% H6 b; i9 Y7 I
    + a- G3 x. a7 c0 t
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    [LV.7]常住居民III

    2#
    发表于 2019-11-30 08:22 | 只看该作者
    图1,Columbia 号失事,因为橡胶密封圈的原因…科学发展路上正是因为前辈们充满对未知的好奇,勇往直前,不断试错…向前辈致敬

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