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本帖最后由 lrq 于 2019-10-15 18:24 编辑 1 i- Q7 n B% O. j
2 q9 i$ i# |; n4 @! \; sEDA365-电子硬件设计交流[2]群
0 {6 y0 ]: D( r% ~3 n1 K(红色楼主,蓝色或其他颜色群友)
6 X! A1 M# Y$ @: f7 `" H# @0 n P
4 o3 |' g. y8 c# _3 pJane
: @0 r; |4 F) W. L" k请问在速率达到万兆的对线上添加测试点会不会有什么影响?
9 u) H- h9 x4 l. Z, C- }5 g, Q/ S: E! Y/ M/ z! D
. v. s$ M) q2 l1 b# T& JLiberal: b; F0 y0 C2 ^+ ~
万兆具体多大的速率啊9 y/ W# h4 o; [( C
1 h: _5 `8 R5 B. F' r7 A( M/ U7 x, b* P- m; [+ s
小木+ {. X7 z9 L" a
10几g
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9 t! ^7 y; ~7 Q. b. m2 T1 D7 v3 U3 G) Q* N0 W! \; Q! w7 g% ~& ^- N
敬巍" u* T. a+ q6 L9 d5 D
查分对有十几g吗?
! ?+ }7 p* `2 v9 j0 W( i( n是数据传输带宽吧$ V- K1 V$ n. |2 a
多少速率不好放测试点呢??
( S6 r6 j7 F4 G2 p9 z, Q6 W4 s% y$ m/ ?+ I, r
# K1 g# P* k7 x ~" h$ E
水飞
0 q B7 i2 K2 E9 K- \5 b9 ^一般会有影响,比如阻抗和损耗以及噪声,还取决于测试点得尺寸和类型,不建议给高速信号加。@Jane
3 G6 H* o0 j; V$ V L! i( z可以看整个链路的裕量
1 [. J }( n& J, `5 X6 z4 L# c+ O7 D高速中一对过孔都会抠裕量,测试点当然也会影响/ B$ \2 T b+ M3 S. w4 d
/ {7 t6 i; [4 T1 e( M4 ~. I
! X5 d) @- i ]* U, W/ N# P% h0 b
Jane" ^" o! t: i D, S. R) I: P
那高速信号不加测试点,怎么测试信号质量呢* [6 r; m5 ]7 F0 d5 g S6 d
! k) ^' X/ ~! ~0 b- f9 {
+ ]( V7 g5 |. {水飞
# x: R; R1 a7 n至于有没有绝对的数据,我认为没有,只有根据实际单板的情况来预估。仿真可以测试,仪器也可以测试。高速背板一般pin就可以直接当测试点。
- J, F6 V+ V# H( d' J1 G! V1 L" Z( ?- E4 Y B
) z# l5 l% S/ e3 K敬巍
% c$ w; A. a O& H有实际测试过以太网信号的吗
) `- `* J# U- J- U' }5 ]! x" y; M5 ]' h
) Q1 x1 q4 ?% Y0 ^AITU% @7 e5 m! K7 O# F: { b1 Z. c
@敬巍 会有影响,一般高速信号会用专门的夹具来测0 C/ z' f& t Q& C' y5 _# Q9 Y
加测试点会影响阻抗的连续性
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