产品需要做EMC测试。

weiweipcb

这是小弟工作后入手的第一个项目，类似于读卡器的产品，天线板子用13.56M线圈，目前遇到的问题是，产品需要做EMC测试，（工作读卡状态）测试结果3倍频40.68MHz超过限值13dB、5、7倍频余量也很小。基本上奇次谐波大，偶次谐波小。

小弟初步分析原因如下：

（1）USB供电，usb线缆标明是屏蔽线，约1.5m。线不带磁环， 会不会是屏蔽效果不好？

（2）天线板与控制板用2.54插针连接，插针长度1cm左右， 会不会有天线效应？

（3）控制板上有串口调试的2.54插针，插针长度1cm左右，会不会有天线效应？

（4）天线板上的能量太强？

小弟请教过一前辈，很可能是原因（4）.

于是小弟调整C0，C1，C2的参数。

C0：82 ，92， 100pF；

C1：16 ，18，22，27 pF

C1：100，105 pF

以上参数各个组合来测试。

因EMC远场测试的费用比较昂贵，只能用近场测试整改。使用频谱仪加近场磁场探头来测试。用磁场探头在天线板线圈上方约5mm 来回移动。最大值保持，扫描带宽0~100MHz，分辨率10KHz（此时，比较灵敏），但是对比了下各参数的测量结果，单位dB。 多次测试，同一参数频谱幅值比较分散，有大有小。没观察出哪个参数对3倍频幅值 下降比较显著。是不是我测量方法有问题？

小弟查阅了很多资料，了解了一些知识：

1近场与远场测试的电磁辐射区别。近场的辐射越大，远场的辐射也必然越大。   相对量的测量。

2  EMC整改措施：屏蔽，滤波，接地。

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小弟测试过程中有以下疑问，求有经验的前辈解答，不胜感激。

1 放卡到天线板上，测量值明显比未放卡时增大。原因？两个线圈相互作用影响？

2  C0，C1，C2的参数是小弟 参照以前的板子来的。C0，C1，C2的作用不是很清楚？求解答

3 近场测量方法的问题？小弟查了一些知识都是 针对线缆、结构屏蔽、如何接地等等，但是针对本身就是天线线圈的辐射如何  测量分析？

4 关于天线线圈近场分析 、远场分析。如下说法对吗？

对于天线线圈，近场主要是磁场。

近场是感应场，这个范围内电场和磁场总能量是守恒的吗？（电场场强大时，磁场场强小，或者相反），这个范围内测量到的值与 远场测量有什么关系呢？（还是此大则彼大吗）

5 EMC远场测量的是电场，单位，dBUV，但近场测量的是什么呢？磁场  ，用什么单位？如何解释？

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求前辈解答，不胜感激。 第一次注册发帖，也不知道有没有描述清楚，非常感谢。

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容航科技

1 放卡到天线板上，测量值明显比未放卡时增大。原因？两个线圈相互作用影响？
" r9 F8 p" N) E/ g    线圈有卡和没卡是不是发射能量不一样？
# I  F! Y% s$ m
% E  `( a& J* M. p$ q近场测试是磁场还是电场，主要是根据你用的探头来定；
你用近场探头测试发现改参数没有作用，建议你扫描频率范围缩小，只在40MHz-50MHz（针对3次倍频）范围。改动参数看看是否有效果。  还有可能这个是源，但是辐射未必通过这个地方。可能是PCB 的其他地方辐射。所以你改参数测试不出效果。
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容航科技：专业EMC设计/整改/宽频电感/扁平共模电感供应商（18107559589）
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Colbie

我觉得你可以换成晶振来试试。

Ferrya

看你这IC是NXP的 ，官网都有硬件设计文档，L0 C0是EMC电路，看你这情况是天线辐射超标 ，最好4层板解决，天线走内层，外层走屏蔽地（注意不要闭合，闭合会把天线完全屏蔽掉），屏蔽地单点接地，这样做应该可以解决你的问题。过A级没什么问题，B级的话只有测试后才能知道。

Allevi

L0和C0是LC电路，C2和天线也是LC电路，C1是隔离，天线出来经过C3进入接收。明白明白这些电路功能后，就注意PCB布局走线，信号先经过那里再到那里，就好了。

Taio

天线下面加软磁体试试。

wu6886

看看!!!幫頂!!!!!!!!!!!
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