单独测试芯片输出的EVM没问题，再单独测试PA的EVM也没问题，级联起来指标就很差了。

kaiden

请教大神，一个项目中，单独测试芯片输出的EVM没问题，再单独测试PA的EVM也没问题，级联起来指标就很差了，这是怎么回事？非常感谢！
/ F$ R* a, f. q3 l4 {6 }

Colbie

下面是实际配置的一个例子
# T5 ]9 N6 z" u& S
取参考61.2MHz，
取整 VCO 35.75*61.2= 2187.9MHz  
下行本振频率为1093.95MHz
4 C, V" x1 m8 Y* |: W分频比整数部分35
7 b6 w4 [8 \( v- V  w小数部分3/4
8 H$ P( N  g% r  O5 D* @REG 2  2         //Rdivider value
0 a6 \0 n' D3 R4 u; G; hREG 6  2F4A
& e5 s" G  R3 a" Z  j! r1 nREG 9 479020   //相噪改善
2 M  e! D- U7 n  {REG 5 F80D  // 11_111_0000,1,5  (0001_101) F80D Enable divider
REG 5 AB95  // 101_01_01_11,2,5 (0010_101) AB95 Setup RF buffer power to default
REG 5 D11D  // 11_01_0001_0,3,5  (0011_101) D11D Register 3 for all modes
REG 5 5
9 x  l* s! N; q$ _: u' B
REG 3  23    //Reg 3 = Integer setpoint
+ K2 g" }1 U  p) J; k7 |+ }REG 4  C00000  //Reg4 = Frac setpoint  （24位）
, 检查电源功耗，是否有杂散，干扰。

Allevi

功率降一降看看，本振指标怎么样，什么制式，？  
可以逐一看下级间匹配，电源干扰，本振折扣

leo5314

:):)