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单独测试芯片输出的EVM没问题,再单独测试PA的EVM也没问题,级联起来指标就很差了。

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发表于 2019-10-8 14:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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请教大神,一个项目中,单独测试芯片输出的EVM没问题,再单独测试PA的EVM也没问题,级联起来指标就很差了,这是怎么回事?非常感谢!
7 |( j1 C6 C' k3 N% k
  • TA的每日心情
    开心
    2019-11-20 15:05
  • 签到天数: 2 天

    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2019-10-8 16:48 | 只看该作者
    下面是实际配置的一个例子; [- d# p* Y. Y' t) W, I
    1 m' A* A7 Z0 J# l7 w, g
    取参考61.2MHz,
    * @7 F8 A9 ~9 K5 t- r3 [3 }$ k取整 VCO 35.75*61.2= 2187.9MHz  
    4 z6 z% N( h  W5 M: `; T+ |; v& M下行本振频率为1093.95MHz. U: y' N: o4 @9 T. ?) A
    分频比整数部分351 K* @- v9 h0 }" F' _" `
    小数部分3/4% D2 L) H; x2 V3 \3 {- }9 `5 k3 ^
    REG 2  2         //Rdivider value+ `6 g- F/ r3 y1 [$ y
    REG 6  2F4A9 C0 X3 i, [9 ~2 r1 U- |
    REG 9 479020   //相噪改善% I- D0 R  }! H+ P
    REG 5 F80D  // 11_111_0000,1,5  (0001_101) F80D Enable divider
    3 u: I8 g2 \9 N: K: c4 E% wREG 5 AB95  // 101_01_01_11,2,5 (0010_101) AB95 Setup RF buffer power to default
    : S7 c7 Z6 Q  k% F. \REG 5 D11D  // 11_01_0001_0,3,5  (0011_101) D11D Register 3 for all modes
    " S! p5 M, Y( H9 T- w* w7 yREG 5 5
    " W2 f  p- G  ~, \4 r2 G' d/ u$ c4 C8 F
    REG 3  23    //Reg 3 = Integer setpoint% q0 M( q% [  H
    REG 4  C00000  //Reg4 = Frac setpoint  (24位)
    ! L- u9 \2 k! ]7 P: P0 ?2 G, 检查电源功耗,是否有杂散,干扰。
  • TA的每日心情
    开心
    2019-11-19 15:19
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    3#
    发表于 2019-10-8 16:49 | 只看该作者
    功率降一降看看,本振指标怎么样,什么制式,?  : f6 D7 m2 X4 q8 ?0 @2 Z3 f
    可以逐一看下级间匹配,电源干扰,本振折扣
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