单独测试芯片输出的EVM没问题，再单独测试PA的EVM也没问题，级联起来指标就很差了。

kaiden

请教大神，一个项目中，单独测试芯片输出的EVM没问题，再单独测试PA的EVM也没问题，级联起来指标就很差了，这是怎么回事？非常感谢！
/ U8 J  e( f1 W/ M. z

Colbie

下面是实际配置的一个例子
* I; @( R6 \' k/ _
8 m. S' D$ c' _0 R  k取参考61.2MHz，
( b, t* B% [1 a; s取整 VCO 35.75*61.2= 2187.9MHz  
8 ]$ |* D# d) E' I. l5 }下行本振频率为1093.95MHz
) a/ i+ Y1 Z' R; m& P- v5 ^分频比整数部分35
小数部分3/4
REG 2  2         //Rdivider value
# Q; v& g+ g! V) t" _' XREG 6  2F4A
REG 9 479020   //相噪改善
$ ?) }+ c5 j3 a. tREG 5 F80D  // 11_111_0000,1,5  (0001_101) F80D Enable divider
* ]: d2 ^$ _! I3 V$ {REG 5 AB95  // 101_01_01_11,2,5 (0010_101) AB95 Setup RF buffer power to default
REG 5 D11D  // 11_01_0001_0,3,5  (0011_101) D11D Register 3 for all modes
REG 5 5
* Y1 R( a9 x- e! W
REG 3  23    //Reg 3 = Integer setpoint
6 D6 V0 A7 l5 y3 k, A3 E" l: jREG 4  C00000  //Reg4 = Frac setpoint  （24位）
, 检查电源功耗，是否有杂散，干扰。

Allevi

功率降一降看看，本振指标怎么样，什么制式，？  
: d: U7 p: i) _( I+ G* a0 `可以逐一看下级间匹配，电源干扰，本振折扣

leo5314

:):)