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请问大家有遇过测试传导灵敏度时6 W$ V8 ^2 T& ]
时好时坏的现象吗?3 {. r+ m/ I2 w
, _6 R! ?5 p! l3 \2 J
我目前有个wifi产品,在测试传导灵敏度时
9 ]2 L _1 ^! `8 `7 u% @' e+ c会出现时好时坏的现象,整个5GHz频段,每个RF路径都变差+ F; T% W+ {& k4 l
可能这次测试很好,下次测试就变差2~4dB' i2 y0 f' ?2 ^+ L3 F
/ W) _$ P/ ]* \6 \' n$ h我都在屏蔽室或屏蔽箱里测试
* N k/ g! u6 ~7 z2 n应该不是外界干扰吧6 j& l5 Q8 @ ^) j% d' a
还是板子本身有噪声9 @& t8 F V8 U' h1 n& i9 {
但是为何有时测试都是正常的?
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+ k, o5 T+ d7 R( L0 E3 U# g9 B我有怀疑过是不是过热造成,因为变差时,先断电放一阵子,再测试可能就正常了
0 p8 F: Y& K, P$ x. ~但是我摸板子并不烫,RX的功耗也不高阿,而且有加heat sink) w. u r! c0 l
有时候就算没加heat sink,也不会劣化
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测试仪器或是线材都换过,也一样会发生
4 q' \: ^( E! R D. S难道是屏蔽室隔离度不够好?0 v/ q- ?7 q: J- J+ B4 V
/ J" w$ D U- g! \2 }这样我调整组件时,不知道是本身匹配问题,或是噪声再干扰灵敏度。8 r. w3 t( M! K( q- K
非常感谢！ |
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发表于 2019-9-6 09:26
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