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 请问大家有遇过测试传导灵敏度时5 N- Y0 b: G& h4 y! Z
 时好时坏的现象吗?. w/ g  i! X) O. x( p4 ?5 @
 f6 Q, Z7 e- n' n3 M
 我目前有个wifi产品,在测试传导灵敏度时
 Z. J. d: n* U. [会出现时好时坏的现象,整个5GHz频段,每个RF路径都变差
 + G/ l9 T0 ~% B% j  L" W4 Y可能这次测试很好,下次测试就变差2~4dB
 * ~) o& {: o4 N
 $ p# }; C4 f& q1 o& n; v$ v& I我都在屏蔽室或屏蔽箱里测试* |6 n7 ]& t* M$ t2 R
 应该不是外界干扰吧* ~, x7 U4 H8 B8 l6 E
 还是板子本身有噪声
 & d. t3 r7 P3 s5 K0 M) R但是为何有时测试都是正常的?. e7 m# f( J: h2 }$ w5 x  e
 
 : @, H2 [$ s1 D8 g, r# `- w我有怀疑过是不是过热造成,因为变差时,先断电放一阵子,再测试可能就正常了8 w3 g, Y. p% N4 I9 ^2 ]" ]
 但是我摸板子并不烫,RX的功耗也不高阿,而且有加heat sink
 6 G+ Y7 J4 ~( b6 l5 Q: E3 J有时候就算没加heat sink,也不会劣化/ F2 ?( ]4 \8 C3 \  I5 Y1 R2 {" L
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 测试仪器或是线材都换过,也一样会发生3 r) d, S. V3 J/ v) e
 难道是屏蔽室隔离度不够好?/ S. c) T/ E7 W+ t
 
 9 Z; `& \" ]( L2 P$ V这样我调整组件时,不知道是本身匹配问题,或是噪声再干扰灵敏度。
 ) g/ U0 A( @! ?: }; {6 F+ ^" O' @非常感谢!
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