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晶振为什么不能放置再PCB边缘?

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发表于 2019-7-31 16:25 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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一、问题描述:
某行车记录仪,测试的时候要加一个外接适配器,在机器上电运行测试时发现超标,具体频点是84MHZ、144MH、168MHZ,需要分析其辐射超标产生的原因,并给出相应的对策。辐射测试数据如下:
- e# p1 M9 F1 F% T$ W& ^/ K" Q
二、辐射源头分析:
该产品只有一块PCB,其上有一个12MHZ的晶体。其中超标频点恰好都是12MHZ的倍频,而分析该机器容易EMI辐射超标的屏和摄像头,发现LCD-CLK是33MHZ,而摄像头MCLK是24MHZ;通过排除发现去掉摄像头后,超标点依然存在,而通过屏蔽12MZH晶体,超标点有降低,由此判断144MHZ超标点与晶体有关,PCB布局如下:
7 `# l3 I0 M+ t
三、辐射产生的原理:
从PCB布局可以看出,12MHZ的晶体正好布置在了PCB边缘,当产品放置与辐射发射的测试环境中时,被测产品的高速器件与实验室中参考接地会形成一定的容性耦合,产生寄生电容,导致出现共模辐射,寄生电容越大,共模辐射越强;而寄生电容实质就是晶体与参考地之间的电场分布,当两者之间电压恒定时,两者之间电场分布越多,两者之间电场强度就越大,寄生电容也会越大,晶体在PCB边缘与在PCB中间时电场分布如下:

2 _8 N4 k! R$ w  A3 ]) L7 c
PCB边缘的晶振与参考接地板之间的电场分布示意图

( Y: x0 ^5 s  a# x" b9 T) W0 ~. n$ {
PCB中间的晶振与参考接地板之间的电场分布示意图
从图中可以看出,当晶振布置在PCB中间,或离PUB边缘较远时,由于PCB中工作地(GND)平面的存在,使大部分的电场控制在晶振与工作地之间,即在PCB内部,分布到参考接地板去的电场大大减小,导致辐射发射就降低了。
四、处理措施
将晶振内移,使其离PCB边缘至少1cm以上的距离,并在PCB表层离晶振1cm的范围内敷铜,同时把表层的铜通过过孔与PCB地平面相连。经过修改后的测试结果频谱图如下,从图可以看出,辐射发射有了明显改善。

* G3 a" W7 G( K6 X2 t1 p0 s
五、思考与启示
高速的印制线或器件与参考接地板之间的容性耦合,会产生EMI问题,敏感印制线或器件布置在PCB边缘会产生抗扰度问题,如果设计中由于其他一些原因一定要布置在PCB边缘,那么可以在印制线边上再布一根工作地线,并多增加过孔将此工作地线与工作地平面相连。
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  • TA的每日心情

    2025-7-28 15:53
  • 签到天数: 93 天

    [LV.6]常住居民II

    2#
    发表于 2019-7-31 17:15 | 只看该作者
    加个罩子怕个毛线
  • TA的每日心情
    无聊
    2021-3-11 15:40
  • 签到天数: 24 天

    [LV.4]偶尔看看III

    3#
    发表于 2019-7-31 17:26 | 只看该作者
    晶振底层挖空处理可减小寄生电容
  • TA的每日心情
    难过
    2020-4-23 15:10
  • 签到天数: 37 天

    [LV.5]常住居民I

    4#
    发表于 2019-7-31 18:12 | 只看该作者
    高,实在是糕

    该用户从未签到

    7#
    发表于 2019-8-1 14:14 | 只看该作者
    解释清晰明了

    该用户从未签到

    9#
    发表于 2019-8-2 11:01 | 只看该作者
    赞一个,有图有真相

    该用户从未签到

    10#
    发表于 2019-8-4 22:03 | 只看该作者
    竞争放PCB板边位置,跟20H规则是一样的。

    该用户从未签到

    12#
    发表于 2019-10-14 17:17 | 只看该作者
    资料很棒,谢谢分享
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