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 开关电源测量的经验总结 2

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发表于 2019-5-23 07:30 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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4 O! q6 }: L1 q# X; t开关电源测量的经验总结 2
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! ^; _% p7 B4 U( Z$ Z) O5 R. C* u2.4 相位裕量和带宽 (phase margin and bandwidth) 相位裕量和带宽是很多公司都没有测试的项目(尤其是规模较小的公司受限于仪器),但是这却是个非常重要的测试项目。
. ]8 D* `: `1 |0 Z电源系统是否稳定,是否能长时间(3年或以上)有效工作,相位裕量和带宽可以在很大程度上说起了决定性的作用。很多公司完全依赖于电源芯片厂家给的参考设计方案里的推荐值,但是跟你的设计往往有不小的差异,这样会有很大的潜在风险。 如果系统是一个不稳定的系统,反映在一些电源测试项目里面,会看到以下几个主要问题。
  Y) B% Z3 C: ~7 P. M. I● 电源的Noise测试通过,但是电源依然不稳定。表现为功能测试fail。常常有工程师在debug时说我的电源noise已经很小了,加了很多电容了,为啥还是跑不动呢?其实是他的闭环系统本来就不稳定。 " B2 P% d) L* b+ H6 b% c
● Phase点jitter过大。这是比较典型的不稳定现象。   m9 G: S& r5 o+ v1 |0 i
● 瞬态响应(Transient response)太大。
0 u. _- t9 p; B; z; L% p$ n+ d% u最笨的办法就是加很多电容,去满足瞬态响应的要求。对于低成本产品,这可是要钱的啊。 如果你没有用正确的方法测试出系统的环路增益的波特图,那么你如何下手去调试这些项目让他通过测试呢?只有来来回回不停作实验。然后来来回回跑功能测试。Oh, my god, 浩大的工作量。而且,对于一些低成本的产品,往往用到了铝电解电容,MLCC电容等低成本方案(电感,电阻值基本没有变化)。这些电容的容值会随着时间变化而减少。如MLCC,系统运行在正常温度两年~三年,容值会变到原来的一半。而这一半电容的变化,会对系统的稳定造成很大的影响,这也是为什么很多低价的产品质量不可靠的一个重要原因。那是不是说价格越高,用越多的电容就越好呢,当然不是。这就是为啥要测试phase margin的原因。你需要调试一组合理的值,能够同时覆盖全电容以及半电容的要求。这样同样能做到低价格高品质。 根据奈奎斯特定理对系统稳定性要求,规范要求一个闭环系统的相位裕量最少为60度,45~60度可以考虑为最低限额要求。对于带宽,200~500K的开关电源的要求在10%~30%的开关频率。从开关电源的稳定性看带宽越低,电源越容易稳定。从开关电源的动态指标看,带宽越高电源的动态性能越好。 下图五为典型的波特图:
! e4 i  K' I& E/ n% {图五
. F& B/ E# D+ ~2 y9 h' x- v+ B2 w" i
另外一点非常重要的是,除了PWM开关电源,有很多线性电源(LDO),其补偿网络在芯片外部的,也要做类似的环路增益的波特图测试,从而确保其稳定性。LDO的测试,是绝大多数厂家容易忽略掉的。比如如下图六所示这种电路,很多人会直接测量noise完事。# h# s$ \  n1 p' B; Y$ j' c
- }5 X; G  {2 U, [1 X, U. B
图六! ^- [6 e. m" q+ ?4 E$ e* M; d
3 [% C; T' V% x) f
我们有可能会看到的相位裕量不能达到要求。如下图七,只有30度左右。这个时候,只有调试不同的参数,才能得到比较好的结果。从而满足系统稳定性的要求。
1 x  s+ g* P8 R# t3 V) ^5 U! `, \图七6 x! @  S( C$ ?+ _$ p+ P0 f
' ?/ e0 U" F7 b# _) H, ~" w
2.5 电源纹波(ripple)和噪声(noise) 电源纹波和噪声,看起来是电源测试里面最简单的项目。但是也有可能对你的测试结果和功能有比较大的影响。 首先是纹波,我们测试的时候,只是看是不是符合规范要求,比如30mV等等。有些时候,纹波和系统的PLL是有关系的。如果你的PLL jitter不过 ,可以考虑进一步减小ripple。 噪声,有人会问,为啥我的系统noise和他的系统noise基本是一个范围,但是我的系统会跑fail呢?首先我们要排除前面讲的系统稳定性原因,然后,亲,你有没有用示波器做过FFT,看看同样noise在频域上的区别呢?' N* J# J+ {0 {1 O. _
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发表于 2019-5-23 16:26 | 只看该作者
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