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关于EUT不接地静电测试问题

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1#
发表于 2019-4-2 11:33 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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x
$ y6 p. x* u, p  v' ?' B0 P* B
请教大神,' y3 g$ ], y6 k6 G
产品没有接地进行ESD测试,接触放电(COM口和USB口)  测试COM口时每打一枪后(共10枪),接地线在COM口接一下拿开;测试USB时(USB口很小)每打一枪后接地线在COM口接一下拿开,测试fail;测试USB时每打一枪后接地线在USB口接一下拿开,测试PASS;请问为何会出现这种情况,那产品直接接地打ESD和产品不接地(用接地线放电)测试结果会有很大差异性吗?
+ z; K: J& B% m. {非常感谢!

该用户从未签到

2#
发表于 2019-4-2 22:20 | 只看该作者
/ s* o. l5 w/ y

9 b; y1 U9 V* ]* @9 g: B' @与楼主类似的问题并不少见,楼主最好在提供一些详细的信息,比如让端口地是怎么布置的等。
3 e! }8 O% a5 p5 y7 l" o单凭楼主现在描述,愚见问题大概率可能是以下两个问题引起的:: O& ]+ y" ?0 {" G0 L
1.测试手法有问题
6 A$ q/ u2 P2 [9 \8 i对于非接地设备,很多测试人员都知道打完静电后要对设备上残留电荷进行泄放。但是,有一种常见错误做法:用一根连接到接地参考平面的导线泄放电荷。 这种做法在不少EMC测试机构的实验室也常能看到。 这做法可能会导致二次放电伤害。" P4 e8 L. ^, f: a  I! d
- Z# ?" |7 V. a1 S/ r
2. 接口' x* S) U0 p* ~( M. |' }
COM 和USB 口的地的布置的差异导致泄放路径不同。
9 \3 a4 U3 g# D4 e9 J, c% P& o
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