基于ATE的FPGA测试方法3 z9 j, t" D W
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1 引言 6 S9 @/ L4 f8 y E8 h! I. U
; a! h C N) \$ H$ @: O随着集成电路技术的发展，现场可编程门阵列FPGA(Field Programmable Gate Array)器件的应用越来越广泛，其测试技术也得到了广泛重视和研究。FPGA的测试可分为面向制造的测试过程(MTP)和面向应用的测试过程(ATP)两类。MTP主要是从制造商的角度来测试，测试成本主要体现在测试向量集长度所决定的测试时间的费用上。MTP主要针对可编程逻辑块(CLB)、输入输出单元(10B)、可编程连线(PI)及编程用的SRAM等进行测试。ATP是在应用级上的测试，也就是把FPGA配置为特定的功能进行测试，具有很强的针对性，测试过程相对简单。国内的研究大多集中在MTP，且主要用于自主搭建的测试系统，可移植性差。本研究基于J750测试系统用Xilinx 4010为研究对象，使用两种简单的电路，即可完成对LUT、进位逻辑、D触发器的测试，而且修改方便，可移植性好，为FPGA的通用测试提供了一种方法切实可行的有效方法。6 t4 q+ y; f& s6 X- m. y% {" s4 U2 r
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发表于 2018-12-27 08:00
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