美国军方的一个失效率表

zlei

下面提供美国军方的一个失效率表:
　　 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
; v0 f$ [5 a6 [0 L　　
　　 部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
2 w$ Z+ `0 A& y, A　　 1.电容器 ................. 0.02
　　 2.连接器接点 ............. 0.005
+ Y) ^4 z, V; [: p! B　　 3.二极管 ................. 0.013
7 e* t- r) z: M5 y( R, E) W1 E' @, O　　 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
　　 5.石英晶体 ............... 0.05
# L5 B$ E: i2 I& v　　 6.电阻 ................... 0.002
! f* g+ B3 h: \8 J1 B# M　　 7.焊点 ................... 0.0002
　　 8.变压器 ................. 0.5
* [2 j- d+ D% d　　 9.晶体 ................... 0.04
. V$ k2 @, m4 p; @: |3 A　　 10.可变 ................... 0.01
　　 11.绕线接点 ............... 0.00002  ------------!
" }" d0 O- u6 Z: X3 k9 E/ K; }                                 
: h- L0 E5 }3 r4 W5 D6 R% _+ Q6 S　　 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
/ @1 A8 o/ _, p* w　　 当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
8 V! R& \: i6 a* x6 Y　　 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。

kellerman

顶 这个很有用。估算mtbf

ningdiabcd

略显古老了，，，，，maybe现在的参数不一样了