美国军方的一个失效率表

zlei

下面提供美国军方的一个失效率表:
* J& Q# S8 }& d' V8 a" v　　 摘自[微处理器接口技术]1983.5版-315页
. c8 N8 \0 J) N　　
　　 部件 ..................... 失效率(%/1000小时)
9 {! N/ l5 p/ g6 v8 s5 v# z/ i/ a: c　　 1.电容器 ................. 0.02
1 s0 c" m4 T- I& i0 D6 X0 u0 T+ t) c　　 2.连接器接点 ............. 0.005
) Z5 K" Q6 i- C0 J1 K; v4 S& t+ f　　 3.二极管 ................. 0.013
. G1 C/ A8 \* Y" P& \# ]　　 4.集成电路(SSI,MSI和LSD) . 0.015
　　 5.石英晶体 ............... 0.05
) N' [& z8 S/ m& w  \& Q3 E　　 6.电阻 ................... 0.002
" a- U1 l) n) U. J0 W9 E5 _　　 7.焊点 ................... 0.0002
% t, }4 h/ a2 [8 o* K　　 8.变压器 ................. 0.5
　　 9.晶体 ................... 0.04
　　 10.可变 ................... 0.01
　　 11.绕线接点 ............... 0.00002  ------------!
. v# l4 @6 g: [, H) i* ~                                 
# ]) N( Z- x% O  s* V. H) Z7 y　　 平均地看,某些部件的寿命长于另一些部件。
　　 当然，这个表是假定了所有部件都是合理使用的。
　　 这些数字是根据对每种部件的大量样品进行加速寿命试验所得到的。

kellerman

顶 这个很有用。估算mtbf

ningdiabcd

略显古老了，，，，，maybe现在的参数不一样了