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楼主: 荒村战士
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[仿真讨论] 156.25M时钟信号回沟问题

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该用户从未签到

16#
发表于 2016-11-22 17:53 | 只看该作者
这信号回勾应该主要是反射引起的) G6 K) T8 o! q2 _0 D
1.电容离晶振太远,从晶振到芯片之间的传输路径容性负载不连续,导致末端芯片和电容之间发生多次反射,产生台阶和回勾。3 W4 y9 h. V1 s* n: b; m
2.过孔换层导致传输路径阻抗突变。/ R# ~0 O" ^6 }- ?, i) f: D) A
3.另外,那两个电阻用了多少Ω的?

该用户从未签到

17#
发表于 2016-11-23 21:49 | 只看该作者

. q: X! c# @  b& n; m7 H涨见识了,不错

该用户从未签到

18#
发表于 2016-11-25 20:01 | 只看该作者
这个我觉得应该是测试位置不合理导致的。走线本来就不长,测试点选择在了中间,导致会有回沟。如果接收芯片管脚到DIE的走线不长的话在芯片下面测试应该会没有回沟。
  • TA的每日心情

    2024-8-4 15:31
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    19#
    发表于 2017-4-26 16:30 | 只看该作者
    多拓扑结构很容易产生

    该用户从未签到

    20#
    发表于 2017-5-6 13:13 | 只看该作者
    1.楼主这是差分线吧,156M的时钟算是高速信号,除了上面说的几种情况,还需要注意的是过孔换层,意味着你的参考层也换了,所以这时候应该在过孔的地方增加接地孔,从而使参考层连贯。' c! y$ B7 {8 e6 C6 x8 W
    2.另外这种差分线过孔之后还交叉走线,这种走法不好吧
    * X8 F9 e& p( g9 p& o( k3、以上都是可能的原因分析,最终都需要靠仿真来确认,以验证你的分析是否正确

    该用户从未签到

    21#
    发表于 2017-5-15 21:12 | 只看该作者
    回溝在參考點時容易造成信號誤判
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