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qiangqssong 发表于 2013-5-29 15:30 ![]()
% s* D4 T3 H. x! ~0 d版主说的USB认证测试的"Inrush Current Fail"是个什么概念? $ H% e, {9 J8 c9 _; n" y1 E
* {) |1 |3 o/ {2 S% o* l- Y" ^, tUSB-IF 測試中有一項湧浪電流(Inrush Current)的規格,規定 USB 裝置插入時不能在 VBUS 上造成 50uC 以上的湧浪電荷(很奇怪的規格,它是算電荷量 - "微庫倫" Micro Column,而不是計算電流。)。
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- U/ r l! T9 O5 U/ J0 L% m9 p測試時是對湧浪電流(Inrush Current)超過 100mA 以上的部份做積分,計算其累積電荷量。
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USB 規範上說這個規格的最高界限,相當於裝置(Device)在 VBUS 上有一個 44Ohm + 10uF 的負載。這是裝置(Device)端在設計時,VBUS 上不要放超過 10uF 以上電容原因的由來。詳細內容您可以參考 USB 2.0 的規範內容。
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