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CMOS 系统应用问题有哪些

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 楼主| 发表于 2024-11-18 16:27 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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( D0 s0 U# z& ^: c5 m  I8 K

% R2 X1 r" |: d! X0 a) JCool-MOS 系统应用可能会出现的问题
4 x( ]  d" R" G# B2 h: U+ W+ j+ m
/ w' V5 R; p7 f' {: X& d1 L1.EMI 可能超标。
& f% g9 y) Z* ~/ c* O- p- V- O5 m' B7 b2 B
由于SJ-MOS 拥有较小的寄生电容,造就了超级结MOSFET 具有极快的开关特性。因为这种快速开关特性伴有极高的dv/dt 和di/dt,会通过器件和印刷电路板中的寄生元件而影响开关性能。对于在现代高频开关电源来说,使用了超级结MOSFET,EMI 干扰肯定会变大,对于本身设计余量比较小的电源板,在SJ-MOS 在替换VDMOS 的过程中肯定会出现EMI 超标的情况。6 U" l+ R/ m$ X5 S& Y; Y' o& [! n( r

) C' v5 {# b; g* V2.栅极震荡。
/ Y, N+ A$ T& W% I9 P9 h
$ c7 b( ~8 I# T功率MOSFET 的引线电感和寄生电容引起的栅极振铃,由于超级结MOSFET 具有较高的开关dv/dt。其震荡现象会更加突出。这种震荡在启动状态、过载状况和MOSFET 并联工作时,会发生严重问题,导致MOSFET 失效的可能。
9 F6 a! e3 @' X4 y( e8 Z" J
9 ?+ F) l1 `+ P0 v1 \% i4 }$ h3.抗浪涌及耐压能力差。0 Y9 I. l" c5 ~) l1 R
; G$ b/ i- _2 p# A
由于SJ-MOS 的结构原因,很多厂商的SJ-MOS 在实际应用推广替代VDMOS 的过程中,基本都出现过浪涌及耐压测试不合格的情况。这种情况在通信电源及雷击要求较高的电源产品上,表现的更为突出。这点必须引起我们的注意。
- q. ~. C3 H! C0 K* o& k. Z2 ]! Z5 S  Q) @! d
4.漏源极电压尖峰比较大。. J& ^' `6 S; w. B

( e- \2 w7 R/ C- n尤其在反激的电路拓扑电源,由于本身电路的原因,变压器的漏感、散热器接地、以及电源地线的处理等问题,不可避免的要在MOSFET 上产生相应的电压尖峰。针对这样的问题,反激电源大多选用RCD SUNBER 电路进行吸收。由于SJ-MOS 拥有较快的开关速度,势必会造成更高的VDS 尖峰。如果反压设计余量太小及漏感过大,更换SJ-MOS 后,极有可能出现VD 尖峰失效问题。& J7 t- a2 r2 M0 O8 `
9 p8 L& D. \3 @& q  }; B
5.纹波噪音差。% J, [! N! b( r. S
" m# @& ^/ y9 A4 t; v; K) B
由于SJ-MOS 拥有较高的dv/dt 和di/dt,必然会将MOSFET 的尖峰通过变压器耦合到次级,直接造成输出的电压及电流的纹波增加。甚至造成电容的温升失效问题的产生。# A6 q( t' T2 m2 E

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