找回密码
 注册
关于网站域名变更的通知
查看: 59|回复: 0
打印 上一主题 下一主题

CMOS 系统应用问题有哪些

[复制链接]

该用户从未签到

跳转到指定楼层
1#
 楼主| 发表于 2024-11-18 16:27 | 只看该作者 |只看大图 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

EDA365欢迎您登录!

您需要 登录 才可以下载或查看,没有帐号?注册

x
/ K0 X1 M& V) J/ b/ n

) Z, x) \: u/ V" y; Z! }) xCool-MOS 系统应用可能会出现的问题
$ v* ~# O- r+ `+ G) h+ X1 U/ n
" \* e9 j9 f: N9 I8 V) l" ?' z8 t1.EMI 可能超标。
2 l4 C) t: C, z' v4 ^/ y9 k1 y! R. ?. C8 v" g
由于SJ-MOS 拥有较小的寄生电容,造就了超级结MOSFET 具有极快的开关特性。因为这种快速开关特性伴有极高的dv/dt 和di/dt,会通过器件和印刷电路板中的寄生元件而影响开关性能。对于在现代高频开关电源来说,使用了超级结MOSFET,EMI 干扰肯定会变大,对于本身设计余量比较小的电源板,在SJ-MOS 在替换VDMOS 的过程中肯定会出现EMI 超标的情况。
; h, }2 X9 ^" {' H, V  |; \4 H
- x6 u  l+ d5 y7 m2.栅极震荡。" K- _/ @2 B5 B% t+ V- T; @5 S: w

/ @; H) U4 F3 N, t( a; K功率MOSFET 的引线电感和寄生电容引起的栅极振铃,由于超级结MOSFET 具有较高的开关dv/dt。其震荡现象会更加突出。这种震荡在启动状态、过载状况和MOSFET 并联工作时,会发生严重问题,导致MOSFET 失效的可能。
$ V4 e3 B( h0 P' r! {& Z* O! I, ~( e/ T4 i6 g
3.抗浪涌及耐压能力差。6 ?7 h2 O! f; X1 F6 Q+ C* j6 [

$ z( {2 n2 `; }由于SJ-MOS 的结构原因,很多厂商的SJ-MOS 在实际应用推广替代VDMOS 的过程中,基本都出现过浪涌及耐压测试不合格的情况。这种情况在通信电源及雷击要求较高的电源产品上,表现的更为突出。这点必须引起我们的注意。
! @1 S) A7 I+ s2 N( I, h+ @1 l1 U
) A+ G5 f1 S# @4.漏源极电压尖峰比较大。# t1 k$ B8 M0 |  n0 d2 h

( A) l# |* K$ I! k, j尤其在反激的电路拓扑电源,由于本身电路的原因,变压器的漏感、散热器接地、以及电源地线的处理等问题,不可避免的要在MOSFET 上产生相应的电压尖峰。针对这样的问题,反激电源大多选用RCD SUNBER 电路进行吸收。由于SJ-MOS 拥有较快的开关速度,势必会造成更高的VDS 尖峰。如果反压设计余量太小及漏感过大,更换SJ-MOS 后,极有可能出现VD 尖峰失效问题。6 J. ?; n. u. A) W: y  Y9 T
2 J, {, k5 X, P& R* L9 B
5.纹波噪音差。- ?2 z0 |9 J' a
% q0 l3 D& d7 O6 C
由于SJ-MOS 拥有较高的dv/dt 和di/dt,必然会将MOSFET 的尖峰通过变压器耦合到次级,直接造成输出的电压及电流的纹波增加。甚至造成电容的温升失效问题的产生。3 ?$ Y# h7 R6 H4 Y
3 k% ]* r+ e3 P: L+ d# J) a
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

推荐内容上一条 /1 下一条

EDA365公众号

关于我们|手机版|EDA365电子论坛网 ( 粤ICP备18020198号-1 )

GMT+8, 2025-8-12 11:17 , Processed in 0.125000 second(s), 27 queries , Gzip On.

深圳市墨知创新科技有限公司

地址:深圳市南山区科技生态园2栋A座805 电话:19926409050

快速回复 返回顶部 返回列表