车载USB charger, 30M到245M传导辐射超标12dB

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傳導發射（Conducted Emission）顧名思義就是從纜線（Cable）上散發出來的雜訊干擾，又可分為電源線（Power Line）和訊號線（Signal Line）兩種。
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& r; x" b; F0 r# Y) S. T( S) iLISN（Line Impedance Stablization Network）
量測從電源線（市電）散發出來的雜訊干擾。

ISN（Impedance Stablization Network）
量測從訊號線（Signal Line）散發出來的雜訊干擾，通常是電話（PSTN）線或乙太網路（Ethernet）線。

/ I/ W0 V/ z9 f7 r7 m量測方式
8 g6 `2 w, p$ j6 {電源線（Power Line）或訊號線（Signal Line）會經過一個 CDN（Coupling / Decouping Network）的電路盒子，將雜訊取出至頻譜分析儀進行量測。當ˋ然 LISN 和 ISN 使用的 CDN（Coupling / Decouping Network）會是不一樣的型號及電路！

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敲字快累死我了！
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HC2 Conducted Emission Debug 建議

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看了一下電路，覺得比較可疑的是創惟科技（Genesys）USBSD Card Reader Controller GL835。因為它內建 12MHz 振盪電路。201MHz 有可能是 SD Card 讀寫造成的，它剛好約略是 25MHz 或 50MHz 的倍頻。33MHz 我比較不解，但有可能是 GL852 內部 12MHz 利用 PLL 升頻，產生 33MHz 給裏面 MCU 使用的時脈。
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先釐清干擾來源

依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。

• 先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否還會超標。
• 停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否還會超標。
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如果如預期傳導發射（Conducted Emission）干擾沒了，那就是創惟科技（Genesys）USBSD Card Reader Controller GL835 造成的影響。
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修改建議

• 創惟科技（Genesys）USB SD Card Reader Controller GL835 支援展頻（Spread Spectrum）功能，請檢查有沒有被開啟。如果沒有、就把它開啟，展頻（Spread Spectrum）有助於抑制電磁干擾。
• 簡單來說傳導發射（Conducted Emission）就是電源上的擾動在纜線上作怪，可以在加大 C25 和 C26 看看。上次我們的案例是在 C26 多併一顆 100μF 的電解電容。
• L3 共模線圈（Common Choke）我看不清楚型號，但可以檢查規格上的阻抗值，可以換高一點的型號試試看。上次我們的案例也是共模線圈（Common Choke）的阻抗值由 470Ω 提高到 1KΩ 才過的。而且阻抗高點越接近 200MHz 越好，因為在 201MHz 恰巧也有一個干擾存在。參考附圖，上次我們用的 CK07102CR 1KΩ 阻抗值看起來就不錯。
• 創惟科技（Genesys）USB SD Card Reader Controller GL835 3.3V 電源輸入或其 LDO 電源輸入端，可以考慮串磁珠（Bead）。不過這個會動到線路佈局（PCB Layout），留待都沒辦法時再當最後手段。
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樓主：
我今天在實驗室想到一個問題，33MHz 有可能是 Intel 電腦系統的基本頻率，201MHz 約略是 6 倍頻。所以我們應該先確定這些傳導發射（Conducted Emission），是不是來自於陪測的電腦，而不是從你的板子出來的。
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因為主芯片是讀卡機功能，所以我猜想測試時，ˊ可能會接到一部桌機（Desktop）或筆電（Ｎotebook）來做讀寫。

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• 如果是筆電（Ｎotebook），請嘗試使用電池供電，而不要接適配器。前一個計劃發現單純用電池供電，陪測電腦帶出來的雜訊小很多。
• 另一個方法是，在這條纜線的末端銲上一個 USB 母座，插 U 盤、讀寫下進行測試。如果不接你的板子依然可以量到這些雜訊，間接也可以證明這些雜訊不是你的板子來的，而是陪測電腦產生。我們前一個計劃，也是利用純電阻負載，證明某個頻率的雜訊不是我們板子產生的。
  

6 y: k4 G  P" V* G如果能證明雜訊不是來自待測物，且又找不到適合的電腦陪測。我們的認證ˋ實驗室，是允許報告上排除這些干擾頻率的！

給您作為參考！
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DC LISIN
" J4 D: h: c% @- y和 AC LISIN 的道理相同，都是電源上的擾動造成的。
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爛公司的教育訓練 - 電磁相容 EMC

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各種電學 dB 相關單位互換關係
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* ?% m! p2 n% B  n  q! i1 t# z/ m' edB 是兩個值對比，沒有單位。
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有點像是說 A 是 B 的三倍，類似這樣的敘述。

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各種電學單位計算表

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• 我的 Host 不是笔电、 更不是桌机。 外形有点像 Mac mini 车载专用的 Host。 接口个数多且形状独特，有点像早年桌机的 PS/2。
  就是類似工業電腦的主機，敝爛公司也做這東西。
• 有无可能底噪就在门限附近，一经我的系统稍微抬一点就超标？
  可能！尤其是不當的纜線，可能讓雜訊又飆高很多 dB。
• 我的 Host 是我的客人指定的，我换不了其它。 我问过客人了， 他们也不清楚自己的底噪是多少。
  ! e0 S4 Y0 Y" w/ O  z( S: r所以更要確定雜訊是不是主機帶出來的。
  如果你只是要認證你的板子，可以和實驗室討論用筆電驗證讀卡機，USB 充電埠就接純電阻負載。
  3 j& g) |+ K' W# r! k如果你必須搭配客戶的板子一起認證，那更要釐清雜訊是誰出來的。
  所以 DC LISN 是在你和主機間的接線量測的嗎？纜線中有 12V 電源和 USB D+/D-？
  
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纜線可以考慮纏繞磁環（Ferrite Core）擋擋看！

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• 我的实验用的是电流法，选择了 50mm 及 750mm 两个位置放置电流感应圈，这个距离是否有讲究。可否自行选择， 往哪边移会对结果好一些？
  , h6 i3 }3 W. T% d1 u8 A! b( E車載的規定沒做過，我不是很清楚。但如果是電流感應線圈，應該是沒影響，因為整條線的電流應該是一樣的。
• 如果我的 Cable 里，即有电源线、也有 USB 的线、该怎么办？一起测? 还是分开测？
  3 I# f! [; V  |* T+ r就我的認知 LISIN 是測電源線（Power Line），ISN 是測訊號線（Signal Line），具體的狀況就看實驗室的設置。但據我所知，USB 應該是沒有 CDN（Coupling / Decoupling Network）可以擷取線上雜訊來量測的，所以他們應該只有量測電源線（Power Line）。
• 实验的连接 拓朴是这样的  Batt-_-_-_-_-_-_- (Host + My device's Power port)-_-_-_-_-_-(Ipad + My device's USB port)  备注上, 下两线, 表示有两跟/两种线)。也就是说, 我的 Device 同时连接电池与 Host 的电源输入及 Host 的电源及 USB 输出. 我如何能知道，这个噪声来自哪个方向？可能是我的 DC/DC 引起的, 也可能是 Host 输出的呢？如何排除噪音不是来自 Host？
  所以必須要有我所描述的一些手法，例如純電阻負載，或是想辦法接其他裝置。若依然有這些干擾，就表示這些雜訊不是你的待測物產生的。
  你的 Charger 或 DC/DC 主頻都只有數百 KHz，15 倍頻都到不了 33MHz，所以我會說這些頻率有可能不是來自於你的待測物。
• 楼下某层，版主说只超出了 33MHz 和 201MHz 两个点。
  應該是我的習慣造成的，通常我是看最嚴重的點，而這些地方會優先抑制。其他點也有可能你下了對策後會跟著下降，到時候再解下一個順位。
• 为何只有两个点呢, 我看到的是 4 个点? 且 Limit Line 有 2 条，我该如何阅读呢？只看 Peak 吗？AVG 可以不处理吗？
  % \' v1 w! q, T7 w4 E5 ]( N7 v傳導發射（Conducted Emission）同時看兩種界限，兩種值超標都需要處理，但通常壓下來其中一個也會降低另一個。測報下面的表列會標註是 Peak 還是 Average，Margin 是指超標了多少，-3dB 表示 Under Limit 3dB，+3dB 表示 Over Limit 3 dB。
• 如何确认一个频点是另一个频点的‘倍频呢？特别是在数值上？不是整数倍的时候？这个倍频为何会跑偏呢？容差多少？可以视为倍频？
  - |2 S& @0 o( i1 H頻譜分析儀由於解析度（Resolution）的問題不會非常精準，而測試因為時間的關係，儀器也不會設到很小的解析度（Resolution）。通常一除下來有 2.9 ~ 2.99 我就認為是 3 倍頻了。有些頻率是由鎖相迴路（PLL）倍頻而來的，通常他也會有點差距，不會剛好是整數倍。
  201MHz / 33MHz = 6.09
  

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如果你把自己板子上的功能都停掉，還會有干擾的話，就有極大的可能是來自於陪測物。
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先釐清干擾來源

依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。

• 先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否有改善。測試時 USB Port 有接東西嗎？因為傳導發射（Conducted Emission）來自於電源的擾動，如果上面有 1A 的大負載（舉例），很有可能是主要原因，但不一定是你的待測物（DUT）出來的。前一個案子就是 PoE 上加了 1.2A 的純電阻負載，電源 PoE Injector 就會出現 478KHz 超標的雜訊。是我們的板子造成的，但不是我們的板子出來的。
• 停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否有改善。
  

Quantum_

“依照我的推斷，測試時應該兩個 USB 充電埠有掛負載，然後 SD Card 做讀寫。
先移除 USB 充電埠負載，看測試結果是否有改善。測試時 USB Port 有接東西嗎？因為傳導發射（Conducted Emission）來自於電源的擾動，如果上面有 1A 的大負載（舉例），很有可能是主要原因，但不一定是你的待測物（DUT）出來的。前一個案子就是 PoE 上加了 1.2A 的純電阻負載，電源 PoE Injector 就會出現 478KHz 超標的雜訊。
+ u  t8 X5 b4 ]停止 SD Card 讀寫或不要插 SD 卡，看測試結果是否有改善。”

. P2 t( d- U4 V* B* R上周五已经安排同事去做实验了.
也是新人去实验, 没有听明白我的意思. 基本上, 实验没有得出可靠的结果.
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7 k# }& H; W: d总体感觉与SD卡, 似乎关系不大, SD卡工作与否, 对测试结果影响不显著.
# |& ^, N- ]% |+ Y" O% w! Y反而是7.5W的USB port对测试结果影响较大. (我没有亲自去, 也可能是实验没有做好, 测试结果也还没有发给我, 明天整理一下, 再更新)

“是我们的板了造成的, 但不是我们的板子出来的”
以上这句, 不太理解.
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我们这的实验室好难约, 一星期就给2个小时.

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是我们的板了造成的，但不是我们的板子出来的，以上这句不太理解。
' z+ A, x, X- q& N( q+ S9 [: _2 m板子的負載造成 PoE Injector 的 Noise 變大，我們的狀況跟你們類似，有一個外接電源 12V 必須有 1A 的輸出，所以測試時實驗要求我們在這個輸出加上 1A 的負ˋ載。
+ P% e0 i5 ~) L0 m後來我們不接板子，接了一個 1.2A 的純電阻負載，照常出現這個雜訊，而且大小一模一樣。不接我們的板子都還有，那就不會是我們板子產生出來的。
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7 d& p& G6 b! N; ?4 i' Q8 a% F; J
8 ?' e8 a! w- x+ ?7 D9 [上周五已经安排同事去做实验了，也是新人去实验，没有听明白我的意思。 基本上，实验没有得出可靠的结果。
看來您也是主管，我覺得你該親自去，爛公司都是我帶新人去實驗室的。

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( m. G$ o: e4 _. S( t0 u4 N# o
9 E! P0 h- x; X- E+ N5 H從 CISPR 25 傳導發射（Conducted Emission）量測設置圖來看，電流感應器應該只有量測電源線，實際情況要現場看他們的接法。
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4 Q1 ]7 x1 x% F' @, @+ p6 e& ^實驗室的接法和法規不一樣，通常我們會提出質疑的。
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' S  _* s9 X+ ECISPR 25 使用電流感應器的作法，有別於 EN55032 使用 CDN（Coupling and Decoupling Network）擷取的方式。
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