使用ADS如何快速进行标准化测量？

mengzhuhao

使用ADS如何快速进行标准化测量？


+ q' n: {3 d. c
例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制
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如果通过编程的方法实现自动化测量，有熟悉的朋友么？
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$ @# F5 I5 @) R' \  b6 o/ ^( T! u有那些思路、方法与例子呢？
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mengzhuhao

搜了ads的help 里面有ddr2/3的kit，不过目前还不太会用 有熟悉的朋友吗