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EDA365电子论坛网»电子社区 › 研发技术版块 › 信号完整性SI/PI仿真 › 使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量？
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[Ansys仿真] 使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量？

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mengzhuhao
  • TA的每日心情
    擦汗
    2020-1-14 15:59

    • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到
    跳转到指定楼层
    1#
    发表于 2012-6-18 20:37 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    本帖最后由 mengzhuhao 于 2012-6-19 08:24 编辑 7 k3 b, C+ y3 [; X  ^5 Q

    ! p2 w+ I1 H( C2 k5 Z使用Ansoft designer如何快速进行标准化测量？$ |% Z3 N- k% o
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    / S$ O0 T. I$ `  B( \6 S例如DDR2/3中涉及到的tDS、tDH、CLK的时序与抖动统计计算、tDQSS等，读写时序的逻辑控制; D. i8 s) c5 R6 b0 D

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    exclaim

    该用户从未签到
    2#
    发表于 2012-7-6 17:15 | 只看该作者
    參考1 L3 |$ O3 A4 S! `4 A
    http://home.educities.edu.tw/oldfriend/SIwave/compare_APDS_wi_SIwizard.htm" P0 {: M& p" U

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