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MOS管的失效原因

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发表于 2023-2-14 16:48 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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MOS管是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管,或者称是金属—绝缘体(insulator) —半导体。MOS管的source和drain是可以对调的,他们都是在P型backgate中形成的N型区。在多数情况下,这个两个区是一样的,即使两端对调也不会影响器件的性能。这样的器件被认为是对称的。
3 g8 Q6 O- l  B. L: k2 t8 c2 M( t! s/ U0 @0 Q6 n3 Z) Q( e
目前在市场应用方面,排名第一的是消费类电子电源适配器产品。而MOS管的应用领域排名第二的是计算机主板、NB、计算机类适配器、LCD显示器等产品,随着国情的发展计算机主板、计算机类适配器、LCD显示器对MOS管的需求有要超过消费类电子电源适配器的现象了。+ N" L9 v/ H  n2 E

: T& J4 m& w9 D5 y1 I- W第三的就属网络通信、工业控制、汽车电子以及电力设备领域了,这些产品对于MOS管的需求也是很大的,特别是现在汽车电子对于MOS管的需求直追消费类电子了。

/ i1 S! A' S* B+ o. j6 \* Z下面对MOS失效的原因总结以下六点:, `3 m9 |& Y- x: o& r% i
0 k4 W& _! o2 f* h( ~7 p# Q) O; y6 y5 g6 K& c" W
3 K+ u; _6 F5 x! y2 J1:雪崩失效(电压失效),也就是我们常说的漏源间的BVdss电压超过MOSFET的额定电压,并且超过达到了一定的能力从而导致MOSFET失效。0 @3 q; s8 l* |6 k5 z/ \% u
2:SOA失效(电流失效),既超出MOSFET安全工作区引起失效,分为Id超出器件规格失效以及Id过大,损耗过高器件长时间热积累而导致的失效。, y  j  \) x6 W
3:体二极管失效:在桥式、LLC等有用到体二极管进行续流的拓扑结构中,由于体二极管遭受破坏而导致的失效。
6 B% n3 s$ l& q3 H5 g4:谐振失效:在并联使用的过程中,栅极及电路寄生参数导致震荡引起的失效。
$ J5 D& |4 Y% F7 t5:静电失效:在秋冬季节,由于人体及设备静电而导致的器件失效。- g( y8 S( I1 ^$ A% V- w8 Y6 B
, l. i9 D/ o' N6:栅极电压失效:由于栅极遭受异常电压尖峰,而导致栅极栅氧层失效。
4 w6 z. o/ U+ _  s  w7 p% y

* N7 w' p& M, b; x' F6 M% X8 `( g: w6 z/ M) }, n3 {0 S
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