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一、电容的基本原理 电容,和电感、电阻一起,是电子学三大基本无源器件;电容的功能就是以电场能的形式储存电能量。
3 L4 ]# k. m+ Q& o 以平行板电容器为例,简单介绍下电容的基本原理
- i9 _* G7 E8 {( K6 `7 g
( h7 P6 l7 F, G7 w( G |$ m 如上图所示,在两块距离较近、相互平行的金属平板上(平板之间为电介质)加载一个直流电压;稳定后,与电压正极相连的金属平板将呈现一定量的正电荷,而与电压负极相连的金属平板将呈现相等量的负电荷;这样,两个金属平板之间就会形成一个静电场,所以电容是以电场能的形式储存电能量,储存的电荷量为Q。3 i5 O6 p$ ]9 Y3 E8 Z
电容储存的电荷量Q与电压U和自身属性(也就是电容值C)有关,也就是Q=U*C。根据理论推导,平行板电容器的电容公式如下:
# m( i, G! j# D$ Z1 s
* M6 [+ ]+ F8 {* c8 E
理想电容内部是介质(Dielectric),没有自由电荷,不可能产生电荷移动也就是电流,那么理想电容是如何通交流的呢?
5 X$ x1 ~: I! K 通交流
3 x8 W u7 e$ V 电压可以在电容内部形成一个电场,而交流电压就会产生交变电场。根据麦克斯韦方程组中的全电流定律:
% t) d. n. u& d8 U
7 B* l3 ^7 e$ V7 `+ ? 即电流或变化的电场都可以产生磁场,麦克斯韦将ε(∂E/∂t)定义为位移电流,是一个等效电流,代表着电场的变化。(这里电流代表电流密度,即J) `; m) g$ Q1 \( j
设交流电压为正弦变化,即:
5 } R4 T! S4 d% T5 _! m5 Q
- i5 q1 m' f7 \' c) N7 V
实际位移电流等于电流密度乘以面积:
, O* s+ ^* m' q
# F% c1 G5 T! z% f" W. L2 f 所以电容的容抗为1/ωC,频率很高时,电容容抗会很小,也就是通高频。
! J* K. }) k; o5 E# v, I) ?" B 下图是利用ANSYS HFSS仿真的平行板电容器内部的电磁场的变化。! Y6 I6 S$ _& G* k& ^9 @
横截面电场变化
U$ r' m, e. q9 D
' M, y4 W5 o' r8 L* L! h2 F
纵断面磁场变化
( o S' u. d6 ?; r2 \) F5 J
- y; a& b. x, f8 J. I" o" U
也就是说电容在通交流的时候,内部的电场和磁场在相互转换。
* C% l+ o& [7 d( v 隔直流
1 m7 o8 O6 R3 Z# t, x" S 直流电压不随时间变化,位移电流ε(∂E/∂t)为0,直流分量无法通过。% p8 p; {% w. g
实际电容等效模型. q9 N, G" c3 C. u& h2 i1 `$ f+ k8 B# |
实际电容的特性都是非理想的,有一些寄生效应;因此,需要用一个较为复杂的模型来表示实际电容,常用的等效模型如下:
0 E8 e$ k: E% E/ j$ B+ B2 M9 @
& G9 ~" J' r9 i* L# o8 A · 由于介质都不是绝对绝缘的,都存在着一定的导电能力;因此,任何电容都存在着漏电流,以等效电阻Rleak表示;
* k, [: D+ Q- F4 L5 s+ e · 电容器的导线、电极具有一定的电阻率,电介质存在一定的介电损耗;这些损耗统一以等效串联电阻ESR表示;& c7 o4 ?: Y* i
· 电容器的导线存在着一定的电感,在高频时影响较大,以等效串联电感ESL表示;3 I2 m+ w; C. I% X7 W9 U
· 另外,任何介质都存在着一定电滞现象,就是电容在快速放电后,突然断开电压,电容会恢复部分电荷量,以一个串联RC电路表示。 Y2 ~) E& o3 [
· 大多数时候,主要关注电容的ESR和ESL。" N! ~+ ^& M+ G' J, V' }
品质因数(Quality Factor)6 O0 [8 a5 V3 R! x' p) D
和电感一样,可以定义电容的品质因数,也就是Q值,也就是电容的储存功率与损耗功率的比:
! C# q( V; _( _! A9 a: n5 {! Z/ L Qc=(1/ωC)/ESR5 C% E$ H% r9 ~1 y2 w$ T6 [( O
Q值对高频电容是比较重要的参数。
. G0 u7 n0 w1 V- J% S 自谐振频率(Self-Resonance Frequency)
( a8 ?: ]2 y& X2 W 由于ESL的存在,与C一起构成了一个谐振电路,其谐振频率便是电容的自谐振频率。在自谐振频率前,电容的阻抗随着频率增加而变小;在自谐振频率后,电容的阻抗随着频率增加而变小,就呈现感性;如下图所示:5 b6 Q' k. E& m0 r
) }0 w, _2 c# g3 E
二、电容的工艺与结构 根据电容公式,电容量的大小除了与电容的尺寸有关,与电介质的介电常数(Permittivity)有关。电介质的性能影响着电容的性能,不同的介质适用于不同的制造工艺。5 \1 s) @$ }3 y9 d- }. d
常用介质的性能对比,可以参考AVX的一篇技术文档。
+ |& |: C% f) j电容的制造工艺主要可以分为三大类:7 H! U) Q! H* d5 r, X" b) v
· 薄膜电容(Film Capacitor)
& i0 p) \+ z. m · 电解电容(Electrolytic Capacitor)
8 L0 p1 M& A5 m+ f2 _; A1 b · 陶瓷电容(Ceramic Capacitor)3 [2 g4 V9 P) m) M" [9 W1 A8 {+ T
2.1 薄膜电容(Film Capacitor) Film Capacitor在国内通常翻译为薄膜电容,但和Thin Film工艺是不一样的。为了区分,个人认为直接翻译为膜电容好点。5 ]' P" j! w/ V% V, R0 Y8 q
薄膜电容是通过将两片带有金属电极的塑料膜卷绕成一个圆柱形,最后封装成型;由于其介质通常是塑料材料,也称为塑料薄膜电容;其内部结构大致如下图所示:9 I6 O0 L( L9 O- I, k D @( `
! h( g4 Z2 O4 D
薄膜电容根据其电极的制作工艺,可以分为两类:
# E; L2 O/ X/ Z* k; R4 `/ v 金属箔薄膜电容(Film/Foil)
7 ]& o* X0 D P3 U. ^! U 金属箔薄膜电容,直接在塑料膜上加一层薄金属箔,通常是铝箔,作为电极;这种工艺较为简单,电极方便引出,可以应用于大电流场合。
# ~& m @ T9 T 金属化薄膜电容(Metallized Film)
( z, W$ p) K5 c, t3 Y5 P 金属化薄膜电容,通过真空沉积(Vacuum Deposited)工艺直接在塑料膜的表面形成一个很薄的金属表面,作为电极;由于电极厚度很薄,可以绕制成更大容量的电容;但由于电极厚度薄,只适用于小电流场合。8 U6 R0 Z3 H# F% p! O" E/ u
金属化薄膜电容就是具有自我修复的功能,即假如电容内部有击穿损坏点,会在损坏处产生雪崩效应,气化金属在损坏处将形成一个气化集合面,短路消失,损坏点被修复;因此,金属化薄膜电容可靠性非常高,不存在短路失效;
5 j! q; {0 X0 i( W% |0 c+ X 薄膜电容有两种卷绕方法:有感绕法在卷绕前,引线就已经和内部电极连在一起;无感绕法在绕制后,会采用镀金等工艺,将两个端面的内部电极连成一个面,这样可以获得较小的ESL,应该高频性能较高;此外,还有一种叠层型的无感电容,结构与MLCC类似,性能较好,便于做成SMD封装。) m+ G) C# L, m, k3 }2 i
4 `' S' G2 f! p 最早的薄膜电容的介质材料是用纸浸注在油或石蜡中,英国人D'斐茨杰拉德于1876年发明的;工作电压很高。现在多用塑料材料,也就是高分子聚合物,根据其介质材料的不同,主要有以下几种:
! o6 d M7 g& D! R% y8 {5 k
1 `, g* ~ |: z' j9 A
应用最多的薄膜电容是聚酯薄膜电容,比较便宜,由于其介电常数较高,尺寸可以做的较小;其次就是聚丙烯薄膜电容。其他材料还有聚四氟乙烯、聚苯乙烯、聚碳酸酯等等。5 _9 a- j& e* K
薄膜电容的特点就是可以做到大容量,高耐压;但由于工艺原因,其尺寸很难做小,通常应用于强电电路,例如电力电子行业;基本上是长这个样子:
# a( T# J5 }5 |9 _* Z
4 T. [9 u1 e! F
% o) Q2 ~% p2 X9 I4 h, j/ E3 p 2.2 电解电容(Electrolytic Capacitor) 电解电容是用金属作为阳极(Anode),并在表面形成一层金属氧化膜作为介质;然后湿式或固态的电解质和金属作为阴极(Cathode)。电解电容大都是有极性的,如果阴极侧的金属,也有一层氧化膜,就是无极性的电解电容。; K9 {3 Q% Q' ^+ ~7 c8 w) d$ j
根据使用的金属的不同,目前只要有三类电解电容:
# F! ~. ]+ Z. _' v9 o 铝电解电容(Aluminum electrolytic capacitors)
1 ^$ {$ c* h, ?$ U+ g 铝电解电容应该是使用最广泛的电解电容,最便宜,其基本结构如下图所示:8 A% a. r2 f2 N$ ?
) X) M4 a4 i' M; }/ I 铝电解电容的制作工艺大致有如下几步:
+ `$ M: G- O/ m3 g& { · 首先,铝箔会通过电蚀刻(Etching)的方式,形成一个非常粗糙的表面,这样增大了电极的表面积,可以增大电容量;
: m" c4 V. d1 q! L · 再通过化学方法将阳极氧化,形成一个氧化层,作为介质;% I+ z- ~# A7 F% l! H& J
· 然后,在阳极铝箔和阴极铝箔之间加一层电解纸作为隔离,压合绕制;3 `$ L/ l; q" p3 E8 W: Z2 q: P
· 最后,加注电解液,电解纸会吸收电解液,封装成型。
9 J% ~) }- z5 J" L) f 使用电解液的湿式铝电解电容应用最广;优点就是电容量大、额定电压高、便宜;缺点也很明显,就是寿命较短、温度特性不好、ESR和ESL较大。对于硬件开发来说,需要避免过设计,在满足性能要求的情况下,便宜就是最大的优势。
H r% M; v1 \9 v' v% t2 a. V 下图是基美(Kemet)的铝电解电容产品,大致可以看出铝电解电容的特点。
* \5 {0 ` L: y8 v# {6 U2 C6 R
. {1 H2 f" i6 ]; ?4 b* B 铝电解电容也有使用二氧化锰、导电高分子聚合物等固态材料做电解质;聚合物铝电解电容的结构大致如下图所示:& m# s6 \' }; |
- ^' u: L; e5 q8 Q, C* z
聚合物铝电解电容的ESR较小,容值更稳定,瞬态响应好;由于是固态,抗冲击振动能力比湿式的要好;可以做出较小的SMD封装。当然,湿式的铝电解电容也可以做SMD封装,不过大都是长这样:6 k. ?. F0 o' W# T
* {! f0 n; R% h 而聚合物铝电解电容的封装长这样:, @+ i# ]8 N2 I5 `
5 ]* l1 \% i! Q
钽电解电容(Tantalum electrolytic capacitors)- b9 U Z. ^4 v
钽(拼音tǎn)电解电容应用最多的应该是利用二氧化锰做固态电解质,主要长这样:
, o1 ]1 d1 K5 {
# S* o2 V' v1 o& i 固态钽电解电容内部结构大致如下图所示:
0 O; Q6 o- N, `% k3 z6 I* l
4 C$ D) x9 m0 u% L
钽电容与铝电解电容比,在于钽氧化物(五氧化二钽)的介电常数比铝氧化物(三氧化二铝)的高不少,这样相同的体积,钽电容容量要比铝电解电容的要大。钽电容寿命较长,电性能更加稳定。
: g" C" W+ z- F* I9 w4 s 钽电容也有利用导电高分子聚合物(Conductive Polymer)做电解质,结构与上图二氧化锰钽电容类似,就是将二氧化锰换成导电聚合物;导电聚合物的电导率比二氧化锰高,这样ESR就会更低。
& {( L/ @/ ^* n) ?) K6 [! R 另外还有湿式的钽电容,特点就是超大容量、高耐压、低直流漏电流,主要用于军事和航天领域。湿式的钽电容主要长这样:4 {0 X4 Q% L+ |* \- U
' W9 z0 w) E" N& _0 n7 }1 m, ~
铌电解电容(Niobium electrolytic capacitors)* e, n% o8 E0 O" k' f% T
铌电解电容与钽电解电容类似,就是铌及其氧化物代替钽;铌氧化物(五氧化二铌)的介电常数比钽氧化物(五氧化二钽)更高;铌电容的性能更加稳定,可靠性更高。3 ~, A6 S" v' ~* `4 w" J S
AVX有铌电容系列产品,二氧化锰钽电容外观是黄色,而铌电容外观是橙红色,大致长这样:) u- D# n( j* W( e7 s+ b! J: |" c
; Y9 j8 k( J0 q) z; z
电解电容对比表,仅供参考。
, m( o: [; d. K
- Z3 s) i- e& w
2.3 陶瓷电容(Ceramic Capacitor) 陶瓷电容是以陶瓷材料作为介质材料,陶瓷材料有很多种,介电常数、稳定性都有不同,适用于不同的场合。3 q, _' M$ X7 w% F$ T. g! v
陶瓷电容,主要有以下几种: H/ }' s8 p# l
瓷片电容(Ceramic Disc Capacitor)2 i/ o# j# \; B4 @
瓷片电容的主要优点就是可以耐高压,通常用作安规电容,可以耐250V交流电压。其外观和结构如下图所示:; V) g9 @8 O+ h
, D8 F2 J" @9 y* L
多层陶瓷电容(Multi-layer Ceramic Capacitor)
$ f( n) O, d: |+ T1 U: J 多层陶瓷电容,也就是MLCC,片状(Chip)的多层陶瓷电容是目前世界上使用量最大的电容类型,其标准化封装,尺寸小,适用于自动化高密度贴片生产。
1 ?$ v9 W1 R& U# ]) L
" j3 z& p6 {2 \1 o( ~' A9 O 自己设计的主板,自己拍的照片,加了艺术效果;没有标引用和出处的图片和内容,绝大多数都是自己画或弄出来的,剩下一点点可能疏忽忘加了;标引用的图片,很多都是重新加工的,例如翻译或几张图拼在一起等等,工具很土EXCEL+截图。 多层陶瓷电容的内部结构如下图所示:
9 v. l1 H4 ?! C; e
1 h3 g0 {% [" N
多层陶瓷电容生产流程如下图所示:; j; d# c: K/ i( A
$ F, c- S4 R( l! F% h+ D
由于多层陶瓷需要烧结瓷化,形成一体化结构,所以引线(Lead)封装的多层陶瓷电容,也叫独石(Monolithic)电容。
, P: K w9 L! K 在谈谈电感 中也介绍过多层陶瓷工艺和Thin Film工艺。Thin Film技术在性能或工艺控制方面都比较先进,可以精确的控制器件的电性能和物理性能。因此,Thin Film电容性能比较好,最小容值可以做到0.05pF,而容差可以做到0.01pF;比通常MLCC要好很多,像Murata的GJM系列,最小容值是0.1pF,容差通常都是0.05pF;因此,Thin Film电容可以用于要求比较高的RF领域。
! R9 c |7 x; s) l6 ~( v9 z8 Q, A# |陶瓷介质的分类
1 W5 k+ x" J( R& M6 d' F 根据EIA-198-1F-2002,陶瓷介质主要分为四类:* C; U7 g/ e+ t
Class I:具有温度补偿特性的陶瓷介质,其介电常数大都较低,不超过200。通常都是顺电性介质(Paraelectric),温度、频率以及偏置电压下,介电常数比较稳定,变化较小。损耗也很低,耗散因数小于0.01。; L& Z9 N9 }8 O2 D
6 l, }4 @8 w% {" s' I( d" i# r
性质最稳定,应用最多的是C0G电容,也就是NP0。NP0是IEC/EN 60384-1标准中规定的代号,即Negative Positive Zero,也就是用N和P来表示正负偏差。0 w- K/ t7 P* n2 \, @; F: ]
由于介电常数低,C0G电容的容值较小,最大可以做到0.1uF,0402封装通常最大只有1000pF。5 S& ?1 |) m0 I
Class II,III:其中,温度特性A-S属于Class II,介电常数几千左右。温度特性T-V属于Class III,介电常数最高可以到20000,可以看出Class III的性能更加不稳定。根据IEC的分类,Class II和III都属于第二类,高介电常数介质。像X5R和X7R都是Class II电容,在电源去耦中应用较多,而Y5V属于Class III电容,性能不太稳定,个人觉得现在应用不多了。
! g$ s* G' H7 t5 g ]& Z& m2 \. Y
* l$ F3 S2 Y; O 由于Class II和III电容的容值最高可以做到几百uF,但由于高介电常数介质,大都是铁电性介质(Ferroelectric),温度稳定性差。此外,铁电性介质,在直流偏置电压下介电常数会下降。
) G) H Y! p8 o0 d 在电感中,介绍了铁磁性介质存在磁滞现象,当内部磁场超过一定值时,会发生磁饱和现象,导致磁导率下降;同样的,对于铁电性介质存在电滞现象,当内部电场超过一定值时,会发生电饱和现象,导致介电常数下降。+ s, O* g& F% r8 E# N3 s5 h; j( b" ]" ?
因此,当Class II和III电容的直流偏置电压超过一定值时,电容会明显下降,如下图所示:
) k$ K. z6 g, f% B+ {) S
+ e$ O d# @% ]4 L4 G3 z" I
Class IV:制作工艺和通常的陶瓷材料不一样,内部陶瓷颗粒都是外面一层很薄的氧化层,而核心是导体。这种类型的电容容量很大,但击穿电压很小。由于此类电容的性能不稳定,损耗高,现在已经基本被淘汰了。$ Q- x- D/ W. ^
电容类型总结表
7 M C& s2 l, D/ M* c: z* g5 b
% C1 I# a. d- H
还有一类超级电容,就是容量特别大,可以替代电池作为供电设备,也可以和电池配合使用。超级电容充电速度快,可以完全地充放电,而且可以充到任何想要的电压,只要不超过额定电压。现在应用也比较多,国内很多城市都有超级电容电动公交车;还有些电子产品上也有应用,例如一些行车记录仪上,可以持续供电几天。
( z; i& T- x2 M& R: E6 `; d. I三、电容的应用与选型 器件选型,其实就是从器件的规格书上提取相关的信息,判断是否满足产品的设计和应用的要求。! S% W$ Z* U8 ~" x! E
3.1 概述 电容作为一个储能元件,可以储存能量。外部电源断开后,电容也可能带电。因此,安全提示十分必要。有些电子设备内部会贴个高压危险,小时候拆过家里的黑白电视机,拆开后看到显像管上贴了个高压危险,那时就有个疑问,没插电源也会有高压吗?工作后,拆过几个电源适配器,被电的回味无穷……
% I+ w0 e, {3 |
8 w7 u/ h$ z' o: }6 J, T }
回归正题,电容储能可以做如下应用:- q% f+ R+ s4 z/ f/ ^2 t
· 储存能量就可以当电源,例如超级电容;
4 r6 ?# [, R9 \; _( O · 存储数据,应用非常广。动态易失性存储器(DRAM)就是利用集成的电容阵列存储数据,电容充满电就是1,放完电就是0。各种手机、电脑、服务器中内存的使用量非常大,因此,内存行业都可以作为信息产业的风向标了。
; R* B& f9 y8 S! ~# ^- B 此外,电容还可以用作:1 H: C( h4 k5 ]
· 定时:电容充放电需要时间,可以用做定时器;还可以做延时电路,最常见的就是上电延时复位;一些定时芯片如NE556,可以产生三角波。9 w4 f: }7 n" N1 t- ?) C3 @! Y* ]$ m
· 谐振源:与电感一起组成LC谐振电路,产生固定频率的信号。- l% t9 d9 p- m# R' x
利用电容通高频、阻低频、隔直流的特性,电容还可以用作:
3 U% O" q/ o8 v- L/ v5 a 电源去耦
( J# l. {' t: ^& _* s' l2 ^! X 电源去耦应该是电容最广泛的应用,各种CPU、SOC、ASIC的周围、背面放置了大量的电容,目的就是保持供电电压的稳定。# c: R7 I3 y$ P/ p& D+ d3 e/ d5 S
首先,在DCDC电路中,需要选择合适的输入电容和输出电容来降低电压纹波。需要计算出相关参数。 i5 X. [& O( ~" z! M
4 ]9 @4 M) U9 E7 ]$ N) T 此外,像IC工作时,不同时刻需要的工作电流是不一样的,因此,也需要大量的去耦电容,来保证工作电压得稳定。; [1 `; G! r( X
耦合隔直
5 q' |7 {. A! E9 @1 X$ m, h9 s 设计电路时,有些情况下,只希望传递交流信号,不希望传递直流信号,这时候可以使用串联电容来耦合信号。
6 v- v5 \8 g1 _! ~; [9 c3 B 例如多级放大器,为了防止直流偏置相互影响,静态工作点计算复杂,通常级间使用电容耦合,这样每一级静态工作点可以独立分析。
4 F9 C u* c1 V9 ?2 l& l4 | 例如PCIE、SATA这样的高速串行信号,通常也使用电容进行交流耦合。" m* k1 }: x8 T0 w2 S9 x; z
旁路滤波9 @. P* o: }! \% k" }9 z9 W/ k
旁路,顾名思义就是将不需要的交流信号导入大地。滤波其实也是一个意思。在微波射频电路中,各种滤波器的设计都需要使用电容。此外,像EMC设计,对于接口处的LED灯,都会在信号线上加一颗滤波电容,这样可以提高ESD测试时的可靠性。) M! n5 h6 z. f4 E
3.2 铝电解电容 3.2.1 铝电解电容(湿式)! U: Z; C5 I! y; m7 v, ?. W
铝电解电容(湿式)无论是插件还是贴片封装,高度都比较高,而且ESR都较高,不适合于放置于IC附近做电源去耦,通常都是用于电源电路的输入和输出电容。' p4 B7 h8 ^ \) |
8 `: ^$ b& ^7 m: f6 D9 a1 x容值
, q" E& }5 ^6 w& f6 o* Z' C 从规格书中获取电容值容差,通常铝电解电容的容差都是±20%。计算最大容值和最小容值时,各项参数要满足设计要求。
( |( g; h+ }2 i M. \ 额定电压: i' ~4 x2 O4 `* X" h
铝电解电容通常只适用于直流场合,设计工作电压至少要低于额定电压的80%。对于有浪涌防护的电路,其额定浪涌电压要高于防护器件(通常是TVS)的残压。( x3 o$ v& R' g
例如,对于一些POE供电的设备,根据802.3at标准,工作电压最高可达57V,那么选择的TVS钳位电压有90多V,那么至少选择额定电压100V的铝电解电容。此时,也只有铝电解电容能同时满足大容量的要求。3 Y1 q0 h5 e& R* S" A
: c2 u1 \' E4 D1 }6 l
耗散因数
* }6 o* X! [2 l' E 设计DCDC电路时,输出电容的ESR影响输出电压纹波,因此需要知道铝电解电容的ESR,但大多数铝电解电容的规格书只给出了耗散因数tanδ。可以根据以下公式来计算ESR:
9 E) k$ q a, r# h ESR = tanδ/(2πfC): U& w d$ `- T9 c
例如,120Hz时,tanδ为16%,而C为220uF,则ESR约为965mΩ。可见铝电解电容的ESR非常大,这会导致输出电压纹波很大。因此,使用铝电解电容时,需要配合使用片状陶瓷电容,靠近DCDC芯片放置。
. u* }: ~: W/ i4 i 随着开关频率和温度的升高,ESR会下降。) A! c# i/ u( Q- }
额定纹波电流
7 m2 r, H1 H' F- b 电容的纹波电流,要满足DCDC设计的输入和输出电容的RMS电流的需求。铝电解电容的额定纹波电流需要根据开关频率来修正。& Z2 ?4 A/ w" k
2 p, ]8 u" _9 |# x6 g 寿命
a) C6 ]+ H+ X0 j% H 铝电解电容的寿命比较短,选型需要注意。而寿命是和工作温度直接相关的,规格书通常给出产品最高温度时的寿命,例如105℃时,寿命为2000小时。
c, x5 a. X K$ h5 J- w+ c 根据经验规律,工作温度每下降10℃,寿命乘以2。如果产品的设计使用寿命为3年,也就是26280小时。则10*log2(26280/2000)=37.3℃,那么设计工作温度不能超过65℃。
5 S6 W2 V# J- U4 g 3.2.2 聚合物铝电解电容
% q2 n% q. I0 r( J; Z# ]' R 像Intel的CPU这样的大功耗器件,一颗芯片80多瓦的功耗,核电流几十到上百安,同时主频很高,高频成分多。这时对去耦电容的要求就很高:( T9 V" n+ E; Q, Y) u K. u
· 电容值要大,满足大电流要求;
9 n% R! s' L& [) X8 b9 A+ J · 额定RMS电流要大,满足大电流要求;' w; u: {, E' S( B. [1 M, d" u
· ESR要小,满足高频去耦要求;
" H1 D! c1 N4 d `4 g · 容值稳定性要好;0 [2 L( I/ r* E. w; B; L3 q
· 表面帖装,高度不能太高,因为通常放置在CPU背面的BOTTOM层,以达到最好的去耦效果。
6 ^& o5 n' {4 D4 L" L3 H5 c 这时,选择聚合物铝电解电容最为合适。" f. _ G0 ]8 V+ ~
此外,对于音频电路,通常需要用到耦合、去耦电容,由于音频的频率很低,所以需要用大电容,此时聚合物铝电解电容也很合适。
! X- G- x1 h7 M, f5 b4 Y- Q8 O# F 3.3 钽电容 根据前文相关资料的来源,可以发现,钽电容的主要厂商就是Kemet、AVX、Vishay。# K, O& C! c d+ }+ c
钽属于比较稀有的金属,因此,钽电容会比其他类型的电容要贵一点。但是性能要比铝电解电容要好,ESR更小,损耗更小,去耦效果更好,漏电流小。下图是Kemet一款固态钽电容的参数表:- E% x8 N- p5 z( `4 X' u
. b% e6 x3 E \' s! V- i, l2 P
额定电压% o; C' ?) @" N/ l- H3 m3 x
固态钽电容的工作电压需要降额设计。正常情况工作电压要低于额定电压的50%;高温环境或负载阻抗较低时,工作电压要低于额定电压的30%。具体降额要求应严格按照规格书要求。
# e# G+ k# C5 A/ N+ e- R8 C( M+ Q 此外,还需要注意钽电容的承受反向电压的情况,交流成分过大,可能会导致钽电容承受反向电压,导致钽电容失效。
; E- |, {9 X9 k 固态钽电容的主要失效模式是短路失效,会直接导致电路无法工作,甚至起火等风险。因此,需要额外注意可靠性设计,降低失效率。% k* B% z& @& Y/ k
对于一旦失效,就会造成重大事故的产品,建议不要使用固态钽电容。
- T. {( E7 I Z a7 a# S% t1 n E, N 额定纹波电流+ R' B8 ?6 t; A* x
纹波电流流过钽电容,由于ESR存在会导致钽电容温升,加上环境温度,不要超过钽电容的额定温度以及相关降额设计。" ^: u# a$ g' T, H( I4 ]
3.4 片状多层陶瓷电容 片状多层陶瓷电容应该是出货量最大的电容,制造商也比较多,像三大日系TDK、muRata、Taiyo Yuden,美系像KEMET、AVX(已经被日本京瓷收购了)。% F1 g+ _5 H' X: ~( E
三大日系做的比较好的就是有相应的选型软件,有电感、电容等所有系列的产品及相关参数曲线,非常全。
; ^4 R5 l4 B+ r/ A) h3.4.1 Class I电容
1 O8 Y. @3 s! e0 R7 H Class I电容应用最多的是C0G电容,性能稳定,适用于谐振、匹配、滤波等高频电路。
4 S, c! l% t& X' {( ^) J C0G电容的容值十分稳定,基本不随外界条件(频率除外)变化,下图是Murata一款1000pF电容的直流、交流及温度特性。
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9 ]' @+ ~- e* F! D因此,通常只需要关注C0G电容的频率特性。下图是Murata的3款相同封装(0402inch)相同容差(5%)的10pF电容的频率特性对比。
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其中GRM是普通系列,GJM是高Q值系列、GQM是高频系列,可见GQM系列高频性能更好,自谐振频率和Q值更高,一些高频性能要求很高的场合,可以选用容差1%的产品。而GRM系列比较便宜,更加通用,例如EMC滤波。
9 b% F5 |8 ?5 @. k 3.4.2 Class II和Class III电容9 ]! ~+ [6 B. c' ~4 _9 G
Class II和Class III电容都是高介电常数介质,性能不稳定,容值变化范围大,通常用作电源去耦或者信号旁路。5 U! b0 g% {6 v2 l2 u7 N: {, V3 B$ e
以Murata一款22uF、6.3V、X5R电容为例,相关特性曲线:
8 b6 J+ V! {; e6 J
{# d+ f# A+ {7 I0 E
/ ~" b p. E) y( ~+ n容值
1 F1 S& R7 O6 }: A Class II和Class III电容,容值随温度、DC偏置以及AC偏置变化范围较大。特别是用作电源去耦时,电容都有一定的直流偏置,电容量比标称值小很多,所以要注意实际容值是否满足设计要求。
, g; h) e% c2 l) i% K2 T 纹波电流
- }5 E9 M/ f o4 c) t 作为DCDC的输入和输出电容,都会有一定的纹波电流,由于ESR的存在会导致一定的温升。加上环境温度,不能超过电容的额定温度,例如X5R电容最高额度温度是85℃。' d1 `6 g. Z* P! f( {2 d6 f
通常由于多层陶瓷电容ESR较小,能承受的纹波电流较大。
" E' g% w" I8 r; m! k 自谐振频率4 W# v5 h& }$ Y
电容由于ESL的存在,都有一个自谐振频率。大容量的电容,自谐振频率较低,只有1-2MHz。所以,为了提高电源的高频效应,大量小容值的去耦电容是必须的。此外,对于开关频率很高的DCDC芯片,要注意输入输出电容的自谐振频率。* c1 ?7 S* F6 J! L* |) K2 G1 `/ S6 K
ESR
- A6 Y1 d; y2 s" e9 }: | 设计DCDC电路,需要知道输出电容的ESR,来计算输出电压纹波。多层陶瓷电容的ESR通常较低,大约几到几十毫欧。
! d' H6 \- N6 Y2 D8 N: R 3.5 安规电容 对于我们家用的电子设备,最终都是220V交流市电供电。电源适配器为了减少对电网的干扰,通过相关EMC测试,都会加各种滤波电容。下图为一个简易的电路示意图:6 f4 L- i5 u+ K
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对于L和N之间的电容叫X电容,L、N与PE或GND之间的电容叫Y电容。由于220V交流电具有危险性,会威胁人的人身安全,电子产品都需要满足相关安规标准,例如GB4943和UL60950的相关测试要求。因此,X 电容和Y电容与这些测试直接相关,所以也叫安规电容。
& \( e, ?4 U6 v# Y7 ` 以抗电强度测试为例,根据标准,L、N侧为一次电路,需要与PE或GND之间为基本绝缘。因此,需要在L或N对GND之间加交流1.5kV或者直流2.12kV的耐压测试,持续近1分钟,期间相关漏电流不能超过标准规定值。因此,安规电容,有相当高的耐压要求,同时直流漏电流不能太大。
c# l! M) A+ w$ J8 r8 |% r8 b 此外,常用的RJ45网口,为了减小EMI,常用到Bob-Smith电路,如下图所示:
7 ]" F. J+ C+ s7 Q, Q
( N4 q& Y- b" y2 }6 w W可以看到电容的耐压都是2kV以上,因为网口通常有变压器,220V交流电的L和N到网线有两个变压器隔离,是双重绝缘,L和N到网线之间也要进行抗电强度测试。双重绝缘,通常要求通过交流3kV或直流4.24kV测试。6 \$ h8 S; A6 p: e
因为,安规电容有高耐压要求,通常使用瓷片电容或者小型薄膜电容。
7 ] n6 o! a# j2 F7 J 此外,器件选型还要主要两点要求:和结构确认器件的长宽高;对插件封装器件不多时,是不是可以全部使用表贴器件,这样可以省掉波峰焊的工序。
5 _6 e$ b1 J2 `; I; R+ B 结语 本文大致介绍了几类主要的电容的工艺结构,以及应用选型。水平有限,难免疏漏,欢迎指出。同时仅熟悉信息技术设备,对电力电子、军工等其他行业不了解,所以还有一些其他的电容相关应用无法介绍。
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