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对PCB失效问题进行失效分析的9种方法
/ R) D; N7 ^6 I7 s* r, ~9 H, J 随着电子产品的怎样对PCB失效问题进行失效分析呢小型化,PCB也向高密度高Tg以及环保的方向发展。但是由于技术的原因,PCB在生产和应用中出现大量的失效问题。为了弄清楚失效的原因,以便找到解决问题的办法。那么,我们应该怎样对PCB失效问题进行失效分析呢?
- ~# B& W0 E' d g+ a( Q 1、光学显微镜 光学显微镜主要用于PCB的外观检查,寻找失效的部位和相关的物证,初步判断PCB的失效模式。外观检查主要检查PCB的污染、腐蚀、爆板的位置、电路布线以及失效的区域等等。
: j; c: n W3 D- A" ^' F$ h, x/ @ 2、X射线(X-ray) 该技术更多地用来检查PCBA焊点内部的缺陷、通孔内部缺陷和高密度封装的BGA或CSP器件的缺陷焊点的定位。 & K( Q/ P+ E9 _5 p2 u0 n
3、切片分析 通过切片分析可以得到反映PCB(通孔、镀层等)质量的微观结构的丰富信息,为下一步的质量改进提供很好的依据。
1 m! U0 ~$ \. ]( |8 U 4、扫描声学显微镜 扫描声学显微镜可以用来检测元器件、材料以及PCB与PCBA内部的各种缺陷,包括裂纹、分层、夹杂物以及空洞等。如果扫描声学的频率宽度足够的话,还可以直接检测到焊点的内部缺陷。 " }5 ]1 c4 e6 q0 M( y
5、显微红外分析 显微红外分析就是将红外光谱与显微镜结合在一起的分析方法。它的主要用途就是分析被焊面或焊点表面的有机污染物,分析腐蚀或可焊性不良的原因。
, m4 K; C; p" Z6 k) Q 6、扫描电子显微镜分析(SEM) 在PCB或焊点的失效分析方面,SEM主要用来观察焊盘表面的形貌结构、焊点金相组织、测量金属间化物、可焊性镀层分析以及做锡须分析测量等。
- u( _6 N: H: M5 f 7、差示扫描量热仪(DSC) DSC在PCB的分析方面主要用于测量PCB上所用的各种高分子材料的固化程度、玻璃态转化温度,这两个参数决定着PCB在后续工艺过程中的可靠性。 ! P' B0 E6 E5 G
8、热机械分析仪(TMA) TMA的应用广泛,在PCB的分析方面主要用于PCB最关键的两个参数:测量其线性膨胀系数和玻璃态转化温度。膨胀系数过大的基材的PCB在焊接组装后常常会导致金属化孔的断裂失效。 / L. B7 ~6 {! u' b/ J/ ]
9、热重分析仪 (TGA) 在PCB的分析方面,主要用于测量PCB材料的热稳定性或热分解温度,如果基材的热分解温度太低,PCB在经过焊接过程的高温时将会发生爆板或分层失效现象。
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