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电子元器件失效分析-就选广电计量!

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  • TA的每日心情

    2019-11-20 15:01
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    [LV.1]初来乍到

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    发表于 2021-12-10 17:58 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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    ; L, O+ N8 l3 C9 b分析
    5 E  R; ]4 N( ]) m# j- ~外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
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    ) T8 B, ]. ~! _- e( Z/ z3 B效分析 , B0 X  o9 D6 ]1 ~$ d+ f: w$ O
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    6 ^" t. L' f/ Y; P& F- o0 ?光电类失效分 2 r' H; K9 @0 `0 C
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    功率器件失效 : g; u( Z7 W9 i7 o/ ?# \
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    电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf (104.6 KB, 下载次数: 1)
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    该用户从未签到

    2#
    发表于 2021-12-10 18:23 | 只看该作者
    X-RAY,电参数测试是常见的分析方法
  • TA的每日心情
    开心
    2025-7-18 15:39
  • 签到天数: 1131 天

    [LV.10]以坛为家III

    3#
    发表于 2021-12-15 12:48 | 只看该作者
    rare resource!!! excellent  professional  datas!!!  thanks for your sharing!!!
  • TA的每日心情
    开心
    2023-5-15 15:25
  • 签到天数: 1 天

    [LV.1]初来乍到

    4#
    发表于 2021-12-16 16:04 | 只看该作者
    电容的失效性要好好测,一个板子用的太多了
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