TA的每日心情 | 怒 2019-11-20 15:01 |
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电阻类元件失
# k4 `+ W' v+ d1 U/ E8 D效分析
6 ~/ L3 Q2 q$ ^) x3 G/ i外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
* ]2 z6 s# q5 w1 ?$ u9 W# m性分析,切片,SEM&EDS 等
5 k- ]/ [- }9 U' J3 o' q" X面议 9 [( `! {; Y0 a! S1 W
金属膜电阻器、 片式固定电
; ^+ y F: ~/ \0 o2 V d阻器、金属箔固定电阻器、线
) d7 E* R, }+ H3 B2 \/ f- W绕电阻器、电位器、热敏(温 5 M: P/ J* x% \. n$ f: z
度传感) 电阻器
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# q% [" @0 \9 k B P7 V电容器元件失 2 b0 e5 g8 \3 ^3 t9 m/ V
效分析 # t" K1 m) g" z7 }7 [
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 3 H& l @( o5 ~
性分析,切片,SEM&EDS 等
9 j# d- v; }* V2 T面议
1 L) P* L+ k6 ^- I陶瓷电容器、瓷片电容器、云 % e& G0 G4 u( M
母电容器、薄膜电容器、非固 7 K. b+ I* A/ j( y) `" c0 Y
体电解质钽电容器等 % o( N/ L5 c# Y& v K# o
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& V0 A. A" A! q! D% ~9 n/ J. G电感元件失效
; L, O+ N8 l3 C9 b分析
5 E R; ]4 N( ]) m# j- ~外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
! [/ g1 v* ]& a1 ?性分析,切片,SEM&EDS 等
5 r- g+ R7 O2 m+ {! s面议
0 r3 c2 X/ N$ A9 g1 A共模抑制电感、环形电感、晶
6 d4 H) I' G+ ]8 K* T* `# u0 ?% c体谐振器、连接器
5 ]2 Q6 A# O/ @ i% D4 G5 K4
" ^0 ]7 j! V. n% H+ n5 }) W机电类器件失
) T8 B, ]. ~! _- e( Z/ z3 B效分析 , B0 X o9 D6 ]1 ~$ d+ f: w$ O
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 : f2 c$ o/ a/ ^+ x. j5 ]9 k1 |
性分析,切片,SEM&EDS 等 8 I. s$ b0 s( N% g% z
面议 : ^$ k9 F% S$ h; J4 j" r
电磁继电器、固体继电器、接 % A7 _8 x/ S& t0 j
口变压器、压力传感器、开关
6 k0 g# U7 e) C# e4 |. c5
6 ^" t. L' f/ Y; P& F- o0 ?光电类失效分 2 r' H; K9 @0 `0 C
析 ' W. p& s& R* Y, I
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏 ( k- }" m: n$ S5 T3 e. D
性分析,切片,SEM&EDS 等 : f7 o: l7 U; V4 i. L2 Z- K
面议
" b6 k* B/ h% L光耦、真空管、激光器
8 s' |% G9 R* {2 K U6 ' l. A. j0 U; Z
二极管、三极 & t6 o/ w6 u* v, [9 b# B. y
管、MOS 管失
7 z5 Z* Q p- t( n4 _效分析 + d+ L* M r6 S
外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
$ R; S. ?( B5 _: l性分析,切片,SEM&EDS 等
& t, ?* Y1 ^" [3 u面议 + b2 M; \; G8 Z7 J! h! T
7 1 }' D0 B" B5 J! i2 T
功率器件失效 : g; u( Z7 W9 i7 o/ ?# \
分析
3 ^/ g4 h7 t) {3 K5 B外观检查,X-RAY,电参数测试,破坏
9 T) r! K' q9 _1 b9 g性分析,开封、切片,SEM&EDS 等 8 }. w- F8 _. ~" l% Y1 L+ A
面议
$ b$ d& W+ N& Q7 H: d7 a" uIGBT、整流桥、可控) X& p& t( |& N' `
电子元器件失效分析-就选广电计量!.pdf
(104.6 KB, 下载次数: 1)
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