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电子元器件的失效指导

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发表于 2021-11-23 10:56 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式

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这里总结摘录MIL-HDBK-338B,美军可靠性设计手册来为FTA(故障树)做一些支持,这里按照以下的方式介绍:如果我们想要进行FTA的定量分析,一定要把可靠性预测先做完,在可靠性前一定要把电压分布表和温度分布先进行初步的运算,通过下面的的表格,大概可以预计失效发生的时候故障的分配比例,以下数字仅供参考,本身MIL-HDBK-338B是一份指导书性质的,所有的数字仅仅具有参考意义。2 Y$ ?2 _( F& ~+ b: x5 @$ k
  电容失效方式分布:电容大部分是以短路形式失效的,特别钽电容,要特别注意。
* G2 ^4 U) n8 ^  
9 a4 p& c/ y0 Z, Z0 ^! h9 t6 Q  3 I* y& d2 O* Z* ~6 r9 u7 i, p
  
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  • TA的每日心情
    开心
    2022-12-27 15:07
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    [LV.1]初来乍到

    2#
    发表于 2021-11-23 11:25 | 只看该作者
    电容大部分是以短路形式失效的

    该用户从未签到

    3#
    发表于 2021-11-23 11:26 | 只看该作者
    电阻会经常开路

    该用户从未签到

    4#
    发表于 2021-11-23 11:27 | 只看该作者
    继电器假吸合会导致失效. A3 l* a: d& t$ x; p3 w
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